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公开(公告)号：CN101520423B
公开(公告)日：2011-01-19
申请号：CN200910132665.7
申请日：2004-03-11
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/223
CPC classification number: G21K1/06 , G01N23/223 , G01N2223/076
Abstract: 本发明的课题提供一种荧光X射线分析装置，其采用单一检测器，形成简单、低价格的结构，同时，可在较宽的波长范围内以充分的灵敏度，测定波长不同的多条2次X射线的相应强度。在包括X射线源(3)、发散细缝(5)、分光元件(7)、单一检测器(9)的荧光X射线分析装置中，分光元件(7)采用多个弯曲分光元件(7A，7B)，该多个弯曲分光元件(7A，7B)沿从试样(1)和检测器(9)观看，2次X射线的光路(6，8)扩展的方向并排地固定，由此，测定波长不同的多条2次X射线(8a，8b)的相应强度。
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公开(公告)号：CN1952652B
公开(公告)日：2011-08-24
申请号：CN200610152815.7
申请日：2006-10-18
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/223
CPC classification number: G01N23/223 , G01N2223/076
Abstract: 本发明涉及一种荧光X射线分析装置及该装置中使用的程序。提供可以由简单的结构定量分析6价铬的荧光X射线分析装置等。一种扫描型荧光X射线分析装置，包括X射线源、发散狭缝、分光元件、受光狭缝、检测器、使分光元件与受光狭缝和检测器连动的连动机构、以及根据检测器的测定结果进行定量分析的定量分析机构。定量分析机构根据使Cr-Kα射线中强度最大的峰值分光角对应于6价铬含有率对全部铬含有率之比的变化而计算6价铬的含有率。包括分辨力不同的多个检测机构，其作为发散狭缝、分光元件、受光狭缝和检测器的组合，并且当检测出峰值分光角的变化时，选择比在求出全部铬含有率或强度时选择的检测机构分辨力更高的检测机构。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119768681A
公开(公告)日：2025-04-04
申请号：CN202480003780.7
申请日：2024-01-18
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/223 , G01N1/10 , G01N23/2204
Abstract: 本发明提供一种荧光X射线分析方法及样品袋池，其能够进行液体样品的测定以及能够避开测定中产生的气泡而照射X射线。一种竖立配置在侧照式的荧光X射线分析装置上的液体样品用的样品袋池，具有：第一树脂膜，其配置在1次X射线的照射侧；以及第二树脂膜，其除去液体样品的注入口以外的区域与所述第一树脂膜粘合。
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公开(公告)号：CN1739023B
公开(公告)日：2012-01-04
申请号：CN200480002434.X
申请日：2004-03-11
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/223 , G21K1/06
CPC classification number: G21K1/06 , G01N23/223 , G01N2223/076
Abstract: 本发明的课题提供一种荧光X射线分析装置，其采用单一检测器，形成简单、低价格的结构，同时，可在较宽的波长范围内以充分的灵敏度，测定波长不同的多条2次X射线的相应强度。在包括X射线源(3)、发散细缝(5)、分光元件(7)、单一检测器(9)的荧光X射线分析装置中，分光元件(7)采用多个弯曲分光元件(7A，7B)，该多个弯曲分光元件(7A，7B)沿从试样(1)和检测器(9)观看，2次X射线的光路(6，8)扩展的方向并排地固定，由此，测定波长不同的多条2次X射线(8a，8b)的相应强度。
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公开(公告)号：CN119072626A
公开(公告)日：2024-12-03
申请号：CN202480001941.9
申请日：2024-03-05
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/223 , G01N1/28 , G01N23/2204
Abstract: 本发明提供一种即使在样品具有受热挥发的性质的情况下，也能够准确地对样品的表面照射X射线的样品池及荧光X射线分析方法。一种用于荧光X射线分析装置的样品池，具有：配置在初级X射线的照射一侧的第一树脂膜、隔着样品而与所述第一树脂膜对置配置的第二树脂膜以及保持所述样品与所述第一树脂膜之间的位置关系的保持部件，所述第一树脂膜与所述第二树脂膜的在配置有所述样品的区域的周围的至少一部分被粘接。
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公开(公告)号：CN101520423A
公开(公告)日：2009-09-02
申请号：CN200910132665.7
申请日：2004-03-11
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/223
CPC classification number: G21K1/06 , G01N23/223 , G01N2223/076
Abstract: 本发明的课题提供一种荧光X射线分析装置，其采用单一检测器，形成简单、低价格的结构，同时，可在较宽的波长范围内以充分的灵敏度，测定波长不同的多条2次X射线的相应强度。在包括X射线源(3)、发散细缝(5)、分光元件(7)、单一检测器(9)的荧光X射线分析装置中，分光元件(7)采用多个弯曲分光元件(7A，7B)，该多个弯曲分光元件(7A，7B)沿从试样(1)和检测器(9)观看，2次X射线的光路(6，8)扩展的方向并排地固定，由此，测定波长不同的多条2次X射线(8a，8b)的相应强度。
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公开(公告)号：CN101520422A
公开(公告)日：2009-09-02
申请号：CN200910132664.2
申请日：2004-03-11
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/223
CPC classification number: G21K1/06 , G01N23/223 , G01N2223/076
Abstract: 本发明的课题提供一种荧光X射线分析装置，其采用单一检测器，形成简单、低价格的结构，同时，可在较宽的波长范围内以充分的灵敏度，测定波长不同的多条2次X射线的相应强度。在包括X射线源(3)、发散细缝(5)、分光元件(7)、单一检测器(9)的荧光X射线分析装置中，分光元件(7)采用多个弯曲分光元件(7A，7B)，该多个弯曲分光元件(7A，7B)沿从试样(1)和检测器(9)观看，2次X射线的光路(6，8)扩展的方向并排地固定，由此，测定波长不同的多条2次X射线(8a，8b)的相应强度。
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