半导体器件及其测试方法

    公开(公告)号:CN100419446C

    公开(公告)日:2008-09-17

    申请号:CN200410098314.6

    申请日:2004-12-03

    Abstract: 在作为具有驱动液晶面板的栅极线的功能的半导体器件的LCD驱动器中,包括:使驱动栅极线的正电压和负电压的极性颠倒的Ex-OR电路6;能把用于驱动栅极线的输出电路控制为高阻抗状态的三态倒相电路9;用于控制Ex-OR电路6和三态倒相电路9的状态的至少一个测试控制端子TEST;在测试时只有栅极输出中的1端子为正电压VGH或负电压VGL输出,其他为高阻抗状态,实施多个栅极输出的同时测试。

    半导体装置以及半导体装置的测试方法

    公开(公告)号:CN100414312C

    公开(公告)日:2008-08-27

    申请号:CN200410092253.2

    申请日:2004-11-05

    Abstract: 本发明的半导体装置具有液晶驱动电路,而且在该灰度电压测试时,把设置在半导体装置中的灰度电压生成电路生成的灰度电压(Vx)与为了测试灰度电压而生成的比较电压(例如Vx+ΔV)进行比较,把测试结果作为二值电压从半导体装置的外部端子输出,由此,即使上述液晶驱动电路实现高灰度化或者增加上述半导体装置的输出端子数,由于高速地进行上述灰度电压测试,因此也能够缩短测试所需要的时间,并且降低成本。

    半导体器件及其测试方法

    公开(公告)号:CN1624489A

    公开(公告)日:2005-06-08

    申请号:CN200410098314.6

    申请日:2004-12-03

    Abstract: 在作为具有驱动液晶面板的栅极线的功能的半导体器件的LCD驱动器中,包括:使驱动栅极线的正电压和负电压的极性颠倒的Ex-OR电路6;能把用于驱动栅极线的输出电路控制为高阻抗状态的三态倒相电路9;用于控制Ex-OR电路6和三态倒相电路9的状态的至少一个测试控制端子TEST;在测试时只有栅极输出中的1端子为正电压VGH或负电压VGL输出,其他为高阻抗状态,实施多个栅极输出的同时测试。

    半导体装置以及半导体装置的测试方法

    公开(公告)号:CN1619328A

    公开(公告)日:2005-05-25

    申请号:CN200410092253.2

    申请日:2004-11-05

    Abstract: 本发明的半导体装置具有液晶驱动电路,而且在该灰度电压测试时,把设置在半导体装置中的灰度电压生成电路生成的灰度电压(Vx)与为了测试灰度电压而生成的比较电压(例如Vx+ΔV)进行比较,把测试结果作为二值电压从半导体装置的外部端子输出,由此,即使上述液晶驱动电路实现高灰度化或者增加上述半导体装置的输出端子数,由于高速地进行上述灰度电压测试,因此也能够缩短测试所需要的时间,并且降低成本。

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