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公开(公告)号:CN101425471A
公开(公告)日:2009-05-06
申请号:CN200810173042.X
申请日:2008-10-29
Applicant: 株式会社瑞萨科技
CPC classification number: H01L24/11 , H01L24/03 , H01L2224/02166 , H01L2224/03912 , H01L2224/0401 , H01L2224/05553 , H01L2224/05572 , H01L2224/1147 , H01L2224/11912 , H01L2224/13099 , H01L2224/13144 , H01L2224/16 , H01L2924/0002 , H01L2924/01004 , H01L2924/01005 , H01L2924/01006 , H01L2924/01007 , H01L2924/01011 , H01L2924/01013 , H01L2924/01014 , H01L2924/01015 , H01L2924/01019 , H01L2924/01022 , H01L2924/01027 , H01L2924/01029 , H01L2924/01033 , H01L2924/01046 , H01L2924/01047 , H01L2924/01049 , H01L2924/0105 , H01L2924/01057 , H01L2924/01075 , H01L2924/01077 , H01L2924/01078 , H01L2924/01079 , H01L2924/014 , H01L2924/05042 , H01L2924/14 , H01L2924/30105 , H01L2224/05552
Abstract: 本申请是关于半导体集成电路装置的制造方法。在LCD驱动器等的半导体产品的制造中,具有用以形成约15~20μm的金凸块(Bump)电极的凸块电镀步骤。该凸块电镀步骤是使用特定的电镀液通过电镀来进行,但是在量产过程中,会存在以下问题:在凸块电极上间歇地产生突起。本申请案发明是在金凸块电镀步骤开始前追加一步骤,以此防止突起在金凸块电极上异常成长,该步骤是针对各个被处理晶片,在让电镀杯正立的状态下,一边使电镀液循环,一边对其进行搅拌,从而使析出物有效地溶解、排出。