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公开(公告)号:CN1329972C
公开(公告)日:2007-08-01
申请号:CN02815790.7
申请日:2002-08-12
Applicant: 株式会社荏原制作所
IPC: H01L21/768 , H01L21/288 , C23C18/32
CPC classification number: H01L21/76843 , C23C18/1608 , C23C18/1632 , C23C18/1653 , C23C18/32 , C23C18/48 , C23C18/50 , H01L21/288 , H01L21/2885 , H01L21/3212 , H01L21/7684 , H01L21/76849 , H01L21/76864 , H01L21/76874 , H01L21/76877 , H01L21/76883 , H01L23/53238 , H01L23/53252 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
Abstract: 本发明涉及半导体器件及其制造方法,其具有埋入布线结构,并利用保护膜来保护裸露布线的表面;上述埋入布线结构是通过在设于半导体基片等表面上的布线用的微细凹部中,埋入铜或银等导电体而构成的。本发明的半导体器件的特征在于,在具有埋入布线结构的半导体器件的裸露布线表面,形成表面平坦化的保护膜。
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公开(公告)号:CN1545728A
公开(公告)日:2004-11-10
申请号:CN02815790.7
申请日:2002-08-12
Applicant: 株式会社荏原制作所
IPC: H01L21/768 , H01L21/288 , C23C18/32
CPC classification number: H01L21/76843 , C23C18/1608 , C23C18/1632 , C23C18/1653 , C23C18/32 , C23C18/48 , C23C18/50 , H01L21/288 , H01L21/2885 , H01L21/3212 , H01L21/7684 , H01L21/76849 , H01L21/76864 , H01L21/76874 , H01L21/76877 , H01L21/76883 , H01L23/53238 , H01L23/53252 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
Abstract: 本发明涉及半导体器件及其制造方法,其具有埋入布线结构,并利用保护膜来保护裸露布线的表面;上述埋入布线结构是通过在设于半导体基片等表面上的布线用的微细凹部中,埋入铜或银等导电体而构成的。本发明的半导体器件的特征在于,在具有埋入布线结构的半导体器件的裸露布线表面,形成表面平坦化的保护膜。
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