多端口器件分析装置和方法以及该装置的校准方法

    公开(公告)号:CN1255961C

    公开(公告)日:2006-05-10

    申请号:CN00100728.9

    申请日:2000-02-03

    CPC classification number: G01R35/005 G01R27/28

    Abstract: 一种多端口器件分析装置,包括:信号源,多个测试端口,多个测量单元,基准信号测量单元,多个终端电阻器,开关装置,把测试信号有选择地提供给一个测试端口(输入端口),使终端电阻器不连接具有测试信号的测试端口(输入端口),同时使终端电阻器连接所有其它的测试端口;其中,在不改变测试端口和DUT终端之间连接的情况下,获得多端口DUT的参数,同时改变测试端口的选择,直至所有测试端口都被指定为输入端口。

    多端口器件分析装置和方法以及该装置的校准方法

    公开(公告)号:CN1264227A

    公开(公告)日:2000-08-23

    申请号:CN00100728.9

    申请日:2000-02-03

    CPC classification number: G01R35/005 G01R27/28

    Abstract: 一种多端口器件分析装置,包括:信号源,多个测试端口,多个测量单元,基准信号测量单元,多个终端电阻器,开关装置,把测试信号有选择地提供给一个测试端口(输入端口),使终端电阻器不连接具有测试信号的测试端口(输入端口),同时使终端电阻器连接所有其它的测试端口;其中,在不改变测试端口和DUT终端之间连接的情况下,获得多端口DUT的参数,同时改变测试端口的选择,直至所有测试端口都被指定为输入端口。

    多端口装置的分析设备和方法及其校正方法

    公开(公告)号:CN1157607C

    公开(公告)日:2004-07-14

    申请号:CN00803374.9

    申请日:2000-02-07

    CPC classification number: G01R35/005 G01R27/28

    Abstract: 一种多端口装置分析设备能够以改进的效率和准确度分析具有三个或更多终端的多端口装置。该多端口装置分析设备包括:一个信号源(112),用于将一个测试信号提供给所测试的多端口装置(DUT)的一个端子;多个测试端口(P1-Pn),用于将多端口DUT的所有端子连接到相应的测试端口;多个测量单元(MU1-MUn),用于测量来自相应测试端口的信号;一个参考信号测量单元(R),用于测量测试信号,以获得参考数据;多个终端电阻(TR1-TRn),每个被分配给一个测试端口;和开关装置(SW1-SWn),用于选择性地将测试信号提供给测试端口(输入端口)之一,将终端电阻从输入测试端口断开,同时将终端电阻连接到所有其它的测试端口;其中获得多端口DUT的参数,而不改变测试端口和DUT端子之间的连接,同时改变测试端口的选择直到所有的测试端口被指定为输入端口。

    多端口装置的分析设备和方法及其校正方法

    公开(公告)号:CN1339114A

    公开(公告)日:2002-03-06

    申请号:CN00803374.9

    申请日:2000-02-07

    CPC classification number: G01R35/005 G01R27/28

    Abstract: 一种多端口装置分析设备能够以改进的效率和准确度分析具有三个或更多终端的多端口装置。该多端口装置分析设备包括:一个信号源(112),用于将一个测试信号提供给所测试的多端口装置(DUT)的一个端子;多个测试端口(P1-Pn),用于将多端口DUT的所有端子连接到相应的测试端口;多个测量单元(MUl-MUn),用于测量来自相应测试端口的信号;一个参考信号测量单元(R),用于测量测试信号,以获得参考数据;多个终端电阻(TRl-TRn),每个被分配给一个测试端口;和开关装置(SWl-SWn),用于选择性地将测试信号提供给测试端口(输入端口)之一,将终端电阻从输入测试端口断开,同时将终端电阻连接到所有其它的测试端口;其中获得多端口DUT的参数,而不改变测试端口和DUT端子之间的连接,同时改变测试端口的选择直到所有的测试端口被指定为输入端口。

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