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公开(公告)号：CN101960296A
公开(公告)日：2011-01-26
申请号：CN200880127647.3
申请日：2008-12-25
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01N23/04
CPC classification number: G01N23/046 , A61B6/466 , G01N2223/3302 , G01N2223/419 , G01N2223/6113 , G01T1/2985
Abstract: 提供对检查对象的物规定检查区域进行高速检查的X射线检查装置及方法。X射线检查装置(100)具有输出X射线的扫描型X射线源(10)、安装多个X射线检测器(23)并能独立驱动多个X射线检测器(23)的X射线检测器驱动部(22)、控制来自X射线检测器驱动部(22)及X射线检测器(23)的图像数据的取得的图像取得控制机构(30)。扫描型X射线源(10)对各X射线检测器(23)，使X射线透过检查对象(20)的规定检查区域入射到各X射线检测器(23)，使X射线源的X射线焦点位置移动到所设定的各放射X射线的起点位置来放射X射线。并行交替执行X射线检测器(23)的一部分拍摄和其他部分向拍摄位置移动。图像控制取得机构(30)取得X射线检测器(23)检测的图像数据，运算部(70)基于该图像数据进行检查区域的图像重建。
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公开(公告)号：CN107843606B
公开(公告)日：2020-03-24
申请号：CN201710695078.3
申请日：2017-08-15
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01N23/04
Abstract: 本发明提供一种针对在2D透射图像中难以检测的不良，也能够以短时间且低曝光来进行检查的技术。X线检查装置具有：3D处理部，只对被检查区域中的第一区域执行3D摄像；2D处理部，对被检查区域中的第二区域执行2D摄像；提取部，从第一区域的3D图像提取第一被检查物的3D信息，且从第二区域的2D图像提取第二被检查物的2D信息；3D信息推定部，基于由提取部所提取的第一被检查物的3D信息，推定第二被检查物的3D信息；以及检查部，使用第二被检查物的2D信息和所推定的3D信息，检查第二被检查物。
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公开(公告)号：CN102192918B
公开(公告)日：2014-02-26
申请号：CN201110040041.X
申请日：2011-02-16
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01N23/04
CPC classification number: G01N23/046 , G01N2223/419
Abstract: 提供一种X射线检查装置及X射线检查方法。利用用于高速检查的X射线检查装置来实现不合格解析检查。X射线检查装置所执行的处理包括：执行高速拍摄的步骤(S315)；执行重建处理来生成检查图像的步骤(S320)；在自动检查(S325)合格时显示检查结果的步骤(S330)；在自动检查不合格时切换拍摄条件来执行不合格解析用的拍摄的步骤(S340)；执行不合格解析用的重建处理来生成图像的步骤(S345)；输出不合格解析用的图像的步骤(S350)。
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公开(公告)号：CN102192918A
公开(公告)日：2011-09-21
申请号：CN201110040041.X
申请日：2011-02-16
Applicant: 欧姆龙株式会社
CPC classification number: G01N23/046 , G01N2223/419
Abstract: 提供一种X射线检查装置及X射线检查方法。利用用于高速检查的X射线检查装置来实现不合格解析检查。X射线检查装置所执行的处理包括：执行高速拍摄的步骤(S315)；执行重建处理来生成检查图像的步骤(S320)；在自动检查(S325)合格时显示检查结果的步骤(S330)；在自动检查不合格时切换拍摄条件来执行不合格解析用的拍摄的步骤(S340)；执行不合格解析用的重建处理来生成图像的步骤(S345)；输出不合格解析用的图像的步骤(S350)。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102150036A
公开(公告)日：2011-08-10
申请号：CN200980135516.4
申请日：2009-08-28
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01N23/04
CPC classification number: G01N23/046 , G01N2223/419
Abstract: X射线检查装置(100)具有输出X射线的扫描型X射线源(10)、安装多个X射线检测器(23)并能独立驱动多个X射线检测器(23)的X射线检测器驱动部(22)、控制来自X射线检测器驱动部(22)及X射线检测器(23)的图像数据的取得的图像取得控制机构(30)。扫描型X射线源(10)对各X射线检测器(23)，使X射线透过检查对象(20)的多个规定检查区域入射到各X射线检测器(23)，使X射线源的X射线焦点位置移动到设定的各放射X射线的起点位置放射X射线。并行交替执行X射线检测器(23)的拍摄和未进行拍摄的其他X射线检测器(23)向拍摄位置的移动。图像控制取得机构(30)取得X射线检测器(23)检测的图像数据，运算部(70)基于该图像数据进行检查区域的图像重建。
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公开(公告)号：CN107490586B
公开(公告)日：2021-02-09
申请号：CN201710351695.1
申请日：2017-05-18
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01N23/04
Abstract: 不造成成本的增加和装置结构的限定地减轻X射线检查装置中因重复性误差而引起的三维数据的画质降低。一种X射线检查装置，包括：工作台，其通过电机的驱动使检查对象物、X射线源以及X射线照相机中的至少一者移动；位置检测单元，其定期获取所述电机的位置检测值，并将该位置检测值与时间相关联地存储；拍摄时刻获取单元，其将来自所述X射线照相机的拍摄时刻与时间相关联地存储；拍摄位置计算单元，其根据在拍摄时刻的所述电机的位置检测值，求得在拍摄时刻的所述检查对象物、所述X射线源以及所述X射线照相机之间的位置关系；以及重建单元，其使用由所述X射线照相机所拍摄的拍摄数据以及在该拍摄数据的拍摄时刻的所述位置关系进行重建处理。
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公开(公告)号：CN107941826A
公开(公告)日：2018-04-20
申请号：CN201710816155.6
申请日：2017-09-11
Applicant: 欧姆龙株式会社
Abstract: 本发明提供一种用于合适地管理检查对象物上的每个部件的照射量的技术。本发明的照射量管理装置，根据X射线检查中的射线源和检查对象物之间的位置关系以及从射线源照射的X射线的强度，计算出作为检查对象物射线源侧的面的第一面的照射量的分布和作为检查对象物的射线源的相反一侧的面的第二面的照射量的分布，并根据第一面和第二面各自的照射量分布和多个部件各自的配置，计算出每个部件的照射量。
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公开(公告)号：CN107843606A
公开(公告)日：2018-03-27
申请号：CN201710695078.3
申请日：2017-08-15
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01N23/04
Abstract: 本发明提供一种针对在2D透射图像中难以检测的不良，也能够以短时间且低曝光来进行检查的技术。X线检查装置具有：3D处理部，只对被检查区域中的第一区域执行3D摄像；2D处理部，对被检查区域中的第二区域执行2D摄像；提取部，从第一区域的3D图像提取第一被检查物的3D信息，且从第二区域的2D图像提取第二被检查物的2D信息；3D信息推定部，基于由提取部所提取的第一被检查物的3D信息，推定第二被检查物的3D信息；以及检查部，使用第二被检查物的2D信息和所推定的3D信息，检查第二被检查物。
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公开(公告)号：CN107490586A
公开(公告)日：2017-12-19
申请号：CN201710351695.1
申请日：2017-05-18
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01N23/04
Abstract: 不造成成本的增加和装置结构的限定地减轻X射线检查装置中因重复性误差而引起的三维数据的画质降低。一种X射线检查装置，包括：工作台，其通过电机的驱动使检查对象物、X射线源以及X射线照相机中的至少一者移动；位置检测单元，其定期获取所述电机的位置检测值，并将该位置检测值与时间相关联地存储；拍摄时刻获取单元，其将来自所述X射线照相机的拍摄时刻与时间相关联地存储；拍摄位置计算单元，其根据在拍摄时刻的所述电机的位置检测值，求得在拍摄时刻的所述检查对象物、所述X射线源以及所述X射线照相机之间的位置关系；以及重建单元，其使用由所述X射线照相机所拍摄的拍摄数据以及在该拍摄数据的拍摄时刻的所述位置关系进行重建处理。
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