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公开(公告)号：CN115078416A
公开(公告)日：2022-09-20
申请号：CN202210180626.X
申请日：2022-02-25
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01N23/046
Abstract: 提供X射线检查装置以及X射线检查方法，X射线检查装置具有X射线源、控制X射线源的X射线照射的X射线源控制部、X射线照相机以及保持检查对象的保持部，X射线源、X射线照相机以及保持部中的任意方作为旋转部进行旋转运动来拍摄X射线图像，而对检查对象进行检查，旋转部在多个场所依次进行旋转运动，从一个旋转圆向下一个旋转圆进行移动运动，X射线检查装置还具有轨迹计算部，其以使旋转部在规定时间内从一个旋转运动的旋转结束点移动到下一个旋转运动的旋转开始点的方式决定下一个旋转开始点以及连结旋转结束点和旋转开始点的特定移动轨迹，X射线源控制部在规定时间中的至少一部分，停止来自X射线源的X射线的照射或降低照射量。
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公开(公告)号：CN113884517A
公开(公告)日：2022-01-04
申请号：CN202110720035.2
申请日：2021-06-28
Applicant: 欧姆龙株式会社
Inventor： 笠原启雅
IPC: G01N23/046 , G01N23/083
Abstract: X射线检查装置，其利用X射线进行摄像来检查对象物，并具有：检查时间条件取得部，其受理与检查时间相关的条件的输入；摄像条件存储部，其存储由确定摄像条件的多个摄像参数构成的摄像模式，该摄像模式和与检查时间相关的条件相关联；判定用图像取得部，其从X射线图像中，取得用于判定图像质量的判定用图像，该X射线图像是基于和与输入的检查时间相关的条件相关联的摄像模式而拍摄到的；图像质量计测部，其对判定用图像的图像质量进行计测；以及图像质量判定部，其判定所计测的判定用图像的图像质量是否满足判定基准，图像质量判定部将取得被判定为满足判定基准的判定用图像时的所述X射线图像的对应摄像模式中包含的摄像参数决定为摄像条件。
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公开(公告)号：CN107843606A
公开(公告)日：2018-03-27
申请号：CN201710695078.3
申请日：2017-08-15
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01N23/04
Abstract: 本发明提供一种针对在2D透射图像中难以检测的不良，也能够以短时间且低曝光来进行检查的技术。X线检查装置具有：3D处理部，只对被检查区域中的第一区域执行3D摄像；2D处理部，对被检查区域中的第二区域执行2D摄像；提取部，从第一区域的3D图像提取第一被检查物的3D信息，且从第二区域的2D图像提取第二被检查物的2D信息；3D信息推定部，基于由提取部所提取的第一被检查物的3D信息，推定第二被检查物的3D信息；以及检查部，使用第二被检查物的2D信息和所推定的3D信息，检查第二被检查物。
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公开(公告)号：CN116745575A
公开(公告)日：2023-09-12
申请号：CN202180087844.2
申请日：2021-03-08
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01B11/24
Abstract: 一种计测系统，其具有：第1特征点数据生成单元，其根据包含计测对象物的规定部位进行拍摄得到的第1图像数据或基于该第1图像数据生成的第1形状数据生成第1特征点数据；第2特征点数据生成单元，其根据不同于所述第1图像数据的第2图像数据或第2形状数据生成第2特征点数据；以及计算单元，其基于所述第1特征点数据和所述第2特征点数据，计算所述第1图像数据与所述第2图像数据或者所述第1形状数据与所述第2形状数据中的所述计测对象的所述规定部位的位置的对应关系。
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公开(公告)号：CN115176148A
公开(公告)日：2022-10-11
申请号：CN202080097379.6
申请日：2020-12-16
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01N23/04 , G01N23/046 , G01N23/18
Abstract: 一种检查系统，是插入地安装有具有引线的电子部件的部件安装基板(O)的检查系统，其特征在于，具有：X射线产生单元(92)；X射线拍摄单元(93)；三维数据生成单元(913)，其使用由所述X射线拍摄单元拍摄到的多个X射线图像的信息，生成至少包含插入地安装于所述部件安装基板的电子部件的焊接部的区域的三维数据；引线区域估计单元(914)，其使用所述三维数据，估计在所述焊接部中填充有焊料的焊料填充部的规定的水平断层位置处的引线区域；以及空隙区域确定单元(915)，其使用所述引线区域估计单元估计出的信息，确定所述焊料填充部的规定的水平断层位置处的空隙区域。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113884517B
公开(公告)日：2025-04-08
申请号：CN202110720035.2
申请日：2021-06-28
Applicant: 欧姆龙株式会社
Inventor： 笠原启雅
IPC: G01N23/046 , G01N23/083
Abstract: X射线检查装置，其利用X射线进行摄像来检查对象物，并具有：检查时间条件取得部，其受理与检查时间相关的条件的输入；摄像条件存储部，其存储由确定摄像条件的多个摄像参数构成的摄像模式，该摄像模式和与检查时间相关的条件相关联；判定用图像取得部，其从X射线图像中，取得用于判定图像质量的判定用图像，该X射线图像是基于和与输入的检查时间相关的条件相关联的摄像模式而拍摄到的；图像质量计测部，其对判定用图像的图像质量进行计测；以及图像质量判定部，其判定所计测的判定用图像的图像质量是否满足判定基准，图像质量判定部将取得被判定为满足判定基准的判定用图像时的所述X射线图像的对应摄像模式中包含的摄像参数决定为摄像条件。
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公开(公告)号：CN113884518A
公开(公告)日：2022-01-04
申请号：CN202110737864.1
申请日：2021-06-30
Applicant: 欧姆龙株式会社
Inventor： 笠原启雅
IPC: G01N23/046 , G01N23/083
Abstract: 一种X射线检查装置，通过使用X射线进行拍摄来对检查对象进行检查，所述X射线检查装置的特征在于，具备：X射线发生器，其产生向所述检查对象照射的X射线；X射线检测器，其对透过了所述检查对象的X射线进行检测；设定受理部，其受理与所述拍摄有关的条件即拍摄条件的设定；所需时间估计部，其估计包含使用了X射线的所述检查对象的拍摄在内的规定处理所需的、针对所设定的所述拍摄条件的所需时间；以及所需时间显示部，其显示所述所需时间。
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公开(公告)号：CN102192919B
公开(公告)日：2014-10-22
申请号：CN201110047297.3
申请日：2011-02-24
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01N23/04
CPC classification number: G01N23/18 , G01N23/046 , G01N2223/419 , G01N2223/6113 , G01N2223/643 , H05K13/082
Abstract: 提供高精度地对涂敷在基板上的焊锡和部件进行锡焊检查的X射线检查装置。X射线检查装置预先取得并存储膏状焊锡印刷中的掩模厚度来作为涂敷在基板上的焊锡厚度。基于检查对象的基板的掩模厚度，在与基板面平行的断层中设定作为检查对象的高度方向上的范围，并确定其断层数N(S801)。X射线检查装置就各断层计测检查窗口中的焊锡面积S和圆度T(S807～S819)，在其最小值均为基准值以上的情况下，判定为该检查窗口的锡焊良好(S821、S823)，只要至少一个小于基准值，则判定为不合格(S821、S823)。
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公开(公告)号：CN113884518B
公开(公告)日：2025-04-08
申请号：CN202110737864.1
申请日：2021-06-30
Applicant: 欧姆龙株式会社
Inventor： 笠原启雅
IPC: G01N23/046 , G01N23/083
Abstract: 一种X射线检查装置，通过使用X射线进行拍摄来对检查对象进行检查，所述X射线检查装置的特征在于，具备：X射线发生器，其产生向所述检查对象照射的X射线；X射线检测器，其对透过了所述检查对象的X射线进行检测；设定受理部，其受理与所述拍摄有关的条件即拍摄条件的设定；所需时间估计部，其估计包含使用了X射线的所述检查对象的拍摄在内的规定处理所需的、针对所设定的所述拍摄条件的所需时间；以及所需时间显示部，其显示所述所需时间。
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公开(公告)号：CN116058855A
公开(公告)日：2023-05-05
申请号：CN202211172367.2
申请日：2022-09-26
Applicant: 欧姆龙株式会社
Inventor： 笠原启雅
IPC: A61B6/00 , G06V10/75 , G01N23/046
Abstract: 本发明提供X射线检查装置、X射线检查系统、图像管理方法和存储介质。在使用X射线断层图像进行的部件安装基板的检查中，长期保存检查中使用的图像，并且实现存储容量的削减。X射线检查装置用于基板的检查，其特征在于，具有：图像取得单元，其取得与所述基板有关的多个断层图像；图像提取单元，其从基于所述多个断层图像得到的数据集合中提取作为所述基板的良否判定的对象的检查断层图像；保存数据生成单元，其生成至少包含所述检查断层图像的规定的保存数据；以及保存数据存储单元，其存储所述保存数据。
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