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公开(公告)号：CN100587848C
公开(公告)日：2010-02-03
申请号：CN200580027677.3
申请日：2005-07-20
Applicant: 爱德万测试株式会社
Inventor： 土井优
CPC classification number: G11C29/36 , G01R31/31917 , G01R31/3193 , G11C16/0483 , G11C29/56 , G11C2029/2602 , G11C2029/3602
Abstract: 一种测试装置，其用来对多个被测试装置进行测试且具备：共同图样产生部，其在多个被测试装置中产生共同的测试信号的图样的共同图样；逻辑比较部，其设置于多个被测试装置中，对以共同图样为基准的测试信号起反应，以判定“由被测试装置所输出的结果信号和基准电压的比较结果是否与期待值一致”；付加图样储存部，在该比较结果和期待值相一致或不一致的个别情况下，预先储存着应付加至共同图样中的付加图样；以及个别图样付加部，其设置在每个被测试装置中，依据该被测试装置的相关的比较结果是否与期待值一致，以便由付加图样储存部读出该被测试装置中个别的付加图样，以付加至共同图样中以及施加至被测试装置中。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101627445A
公开(公告)日：2010-01-13
申请号：CN200780052065.9
申请日：2007-03-08
Applicant: 爱德万测试株式会社
CPC classification number: G11C29/44 , G11C29/4401 , G11C29/70 , G11C2029/1208
Abstract: 本发明公开一种测试装置，包括：不良计数存储器，针对每个存储器库以及每个区块，存储不良单元的数量；不良计数寄存器，针对每个存储器库，存储在测试对象区块内检测出的不良单元的数量；存储器读出部，自各存储器库中依次逐个地读出测试对象区块内的一部分页；检测部，根据将由存储器读出部从各页读出的数据与期待值进行比较所得的结果，检测出各页内的不良单元；不良计数部，使与含有被检测出不良单元的页的存储器库对应的不良计数寄存器的计数值增加相当于被检测出的不良单元的数量；以及写入部，与已完成测试对象区块内的各页不良检测的存储器库对应，将不良计数寄存器内所存储的不良单元的数量，写入与不良计数存储器中的该存储器库的该测试对象区块对应的存储区域内。
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公开(公告)号：CN101006521A
公开(公告)日：2007-07-25
申请号：CN200580027677.3
申请日：2005-07-20
Applicant: 爱德万测试株式会社
Inventor： 土井优
CPC classification number: G11C29/36 , G01R31/31917 , G01R31/3193 , G11C16/0483 , G11C29/56 , G11C2029/2602 , G11C2029/3602
Abstract: 一种测试装置，其用来对多个被测试装置进行测试且具备：共同图样产生部，其在多个被测试装置中产生共同的测试信号的图样的共同图样；逻辑比较部，其设置于多个被测试装置中，对以共同图样为基准的测试信号起反应，以判定“由被测试装置所输出的结果信号和基准电压的比较结果是否与期待值一致”；付加图样储存部，在该比较结果和期待值相一致或不一致的个别情况下，预先储存着应付加至共同图样中的付加图样；以及个别图样付加部，其设置在每个被测试装置中，依据该被测试装置的相关的比较结果是否与期待值一致，以便由付加图样储存部读出该被测试装置中个别的付加图样，以付加至共同图样中以及施加至被测试装置中。
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公开(公告)号：CN101627446A
公开(公告)日：2010-01-13
申请号：CN200780052075.2
申请日：2007-03-09
Applicant: 爱德万测试株式会社
CPC classification number: G11C29/56 , G11C29/48 , G11C2029/5602
Abstract: 本发明提供一种测试装置，其具有：多个匹配检测部，分别接收从被测试存储器的状态输出端输出的表示各自的指令的处理状态的状态信号，在状态信号成为就绪状态后，各自输出匹配信号；判断部，根据被多个匹配检测部输出的多个匹配信号的逻辑积，判断被测试存储器已经结束了多个指令的处理；以及，分配部，在具有多个存储器库的被测试存储器的测试中，与多个存储器库各自对应分别分配多个匹配检测部；在具有多个存储器库的被测试存储器的测试中，多个匹配检测部分别接收在从被测试存储器的状态输出端以不同周期由存储器库分别输出的、表示各个指令的处理状态的状态信号中，对应的存储器库的状态信号后，输出匹配信号。
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公开(公告)号：CN101147205A
公开(公告)日：2008-03-19
申请号：CN200680008944.7
申请日：2006-11-24
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G11C29/56
CPC classification number: G11C29/56 , G11C29/56004 , G11C2029/5602 , G11C2029/5606
Abstract: 本发明提供测试被测存储器的测试装置。该测试装置具备向被测存储器的各页中分别写入预设测试数据，测试被测存储器的写入单元和收录被测存储器测试结果的失效存储单元两大元件。而失效存储单元又具备测量每一页的数据写入时间的测量单元，以设定的页数累计写入时间的累计单元，以及比较累计单元计算出的累计值与累计期待值，从而判定上述被测存储器是否合格的判定单元等元件。
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公开(公告)号：CN101147204A
公开(公告)日：2008-03-19
申请号：CN200680009099.5
申请日：2006-12-20
Applicant: 爱德万测试株式会社
Inventor： 土井优
CPC classification number: G11C29/56 , G11C29/56008 , G11C29/72 , G11C29/81 , G11C2029/5606
Abstract: 一种测试被测试存储器的测试装置，该被测试存储器具有复数块和修复用列；该测试装置具有：测试部；标志存储器，其存储表示各列是否良好的标志；计数存储器，其存储各列的不良块数；失效写入部，其以至少满足测试结果为不良，以及对应的列的标志存储器内的标志显示不良中的某一方为条件，将显示不良的标志写入标志存储器；计数部，其以测试结果为不良，且对于对应的列，标志存储器内未存储显示不良的标志为条件，累加对应的列的计数存储器的块数量；选择部，其根据各列的不良块数，选择应置换为修复用列的列。
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