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公开(公告)号：CN101133340B
公开(公告)日：2011-02-23
申请号：CN200680007171.0
申请日：2006-03-07
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G01R31/319 , G01R31/28
CPC classification number: G01R31/31932 , G01R31/31928 , G01R31/31937
Abstract: 一种测试装置，利用测试由电子元件输出的多个输出讯号，各个发生变化的时序的相关性，而能以更高的精度来识别电子元件的良否。此测试装置将测试信号供给至电子元件，并将该电子元件输出的多个输出讯号来与期待值比较以测试电子元件。此测试装置包括：基准时序检测部，检测出一个输出讯号发生变化的现象；设定部，预先设定：由一个输出讯号发生变化到另一个输出讯号发生变化为止的最小时间；取入部，由检测出一个输出讯号发生变化时起，在已经过该最小时间的时序，取得另一个输出讯号之的值；以及识别部，取入部取得的该另一个输出讯号的值，与经过最小时间后的另一个输出讯号所应该取得的值不一致时，识别该电子元件为不良品。
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公开(公告)号：CN100412811C
公开(公告)日：2008-08-20
申请号：CN200480028876.1
申请日：2004-10-05
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G06F11/22
CPC classification number: G06F11/263 , G01R31/318314
Abstract: 本发明提供一种测试程序除错装置、半导体测试装置、测试程序除错方法及测试方法。本发明的测试程序除错装置包括：被测试元件模拟设备及半导体测试装置模拟设备。半导体测试装置模拟设备具有验证范围获取部、指令简单化部与指令执行部。验证范围获取部是用于获取测试程序中应验证的指令的范围，亦即验证范围。指令简单化部是将设定指令以外的非设定指令加以简化，其中设定指令是用来对测试程序中的验证范围以外的范围(即非验证范围)中所包含的非验证范围的指令，进行被测试元件模拟设备的设定。指令执行部是用于执行验证范围中所包含的验证范围指令、设定指令以及被指令简单化部所简化的非设定指令。
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公开(公告)号：CN101027566B
公开(公告)日：2010-10-27
申请号：CN200580032272.9
申请日：2005-09-21
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G06F17/5022 , G01R31/3183 , G01R31/318357 , G06F11/263
Abstract: 本发明提供一种测试模拟器，其用来模拟半导体装置的测试，此测试模拟器包括：测试图样(pattern)保持组件，其保持着应施加至半导体装置的既存的测试图样；装置输出保持组件，其在施加既存的测试图样至半导体装置中时预先保持着应由半导体装置所得到的输出；测试图样产生组件，其产生应施加至半导体装置中的新的测试图样；测试图样判断组件，其判断“新的测试图样是否与既存的测试图样相同”；以及模拟跳过(skip)组件，在新的测试图样与既存的测试图样相同的情况下，不对半导体装置施加新的测试图样，借由装置输出保持组件中的输出被读出，以作为由半导体装置对新的测试图样所发出的输出，以跳过此模拟测试的至少一部份。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101006353B
公开(公告)日：2010-08-11
申请号：CN200580027678.8
申请日：2005-08-15
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G06F17/50
CPC classification number: G06F11/24 , G01R31/31703 , G06F11/261 , G06F11/277
Abstract: 一种测试模拟器，模拟半导体元件的测试，包括：测试图案供给装置，对模拟半导体元件的动作的元件模拟器供给测试图案；期望值储存装置，把依测试图案从元件模拟器输出的输出信号与预定的期望值相比较的比较时点，对应到比较时点的期望值而储；边缘判断装置，在比较时点中输出信号与期望值一致的场合时，判断输出信号与期望值一致的边缘的大小；以及通知装置，当边缘的大小比基准值还要小时，把比较时点的边缘小的标题通知给使用者。
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公开(公告)号：CN101006353A
公开(公告)日：2007-07-25
申请号：CN200580027678.8
申请日：2005-08-15
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G06F11/24 , G01R31/31703 , G06F11/261 , G06F11/277
Abstract: 一种测试模拟器，模拟半导体元件的测试，包括：测试图案供给装置，对模拟半导体元件的动作的元件模拟器供给测试图案；期望值储存装置，把依测试图案从元件模拟器输出的输出信号与预定的期望值相比较的比较时点，对应到比较时点的期望值而储；边缘判断装置，在比较时点中输出信号与期望值一致的场合时，判断输出信号与期望值一致的边缘的大小；以及通知装置，当边缘的大小比基准值还要小时，把比较时点的边缘小的标题通知给使用者。
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公开(公告)号：CN1864143A
公开(公告)日：2006-11-15
申请号：CN200480028876.1
申请日：2004-10-05
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G06F11/22
CPC classification number: G06F11/263 , G01R31/318314
Abstract: 本发明提供一种测试程式除错装置、半导体测试装置、测试程式除错方法及测试方法。本发明的测试程式除错装置包括：被测试元件模拟设备及半导体测试装置模拟设备。半导体测试装置模拟设备具有验证范围获取部、指令简单化部与指令执行部。验证范围获取部是用于获取测试程式中应验证的指令的范围，亦即验证范围。指令简单化部是将设定指令以外的非设定指令加以简化，其中设定指令是用来对测试程式中的验证范围以外的范围(即非验证范围)中所包含的非验证范围的指令，进行被测试元件模拟设备的设定。指令执行部是用于执行验证范围中所包含的验证范围指令、设定指令以及被指令简单化部所简化的非设定指令。
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公开(公告)号：CN101133340A
公开(公告)日：2008-02-27
申请号：CN200680007171.0
申请日：2006-03-07
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G01R31/319 , G01R31/28
CPC classification number: G01R31/31932 , G01R31/31928 , G01R31/31937
Abstract: 一种测试装置，利用测试由电子元件输出的多个输出讯号，各个发生变化的时序的相关性，而能以更高的精度来识别电子元件的良否。此测试装置将测试信号供给至电子元件，并将该电子元件输出的多个输出讯号来与期待值比较以测试电子元件。此测试装置包括：基准时序检测部，检测出一个输出讯号发生变化的现象；设定部，预先设定：由一个输出讯号发生变化到另一个输出讯号发生变化为止的最小时间；取入部，由检测出一个输出讯号发生变化时起，在已经过该最小时间的时序，取得另一个输出讯号之的值；以及识别部，取入部取得的该另一个输出讯号的值，与经过最小时间后的另一个输出讯号所应该取得的值不一致时，识别该电子元件为不良品。
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公开(公告)号：CN101027566A
公开(公告)日：2007-08-29
申请号：CN200580032272.9
申请日：2005-09-21
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G06F17/5022 , G01R31/3183 , G01R31/318357 , G06F11/263
Abstract: 本发明提供一种测试模拟器，其用来模拟半导体装置的测试，此测试模拟器包括：测试图样(pattern)保持组件，其保持着应施加至半导体装置的既存的测试图样；装置输出保持组件，其在施加既存的测试图样至半导体装置中时预先保持着应由半导体装置所得到的输出；测试图样产生组件，其产生应施加至半导体装置中的新的测试图样；测试图样判断组件，其判断“新的测试图样是否与既存的测试图样相同”；以及模拟跳过(skip)组件，在新的测试图样与既存的测试图样相同的情况下，不对半导体装置施加新的测试图样，借由装置输出保持组件中的输出被读出，以作为由半导体装置对新的测试图样所发出的输出，以跳过此模拟测试的至少一部分。
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