公开(公告)号：CN100412811C

公开(公告)日：2008-08-20

申请号：CN200480028876.1

申请日：2004-10-05

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 堀光男 ,  多田秀树 ,  片冈孝浩 ,  关口宏之 ,  梦川一男

IPC: G06F11/22

CPC classification number: G06F11/263 ,  G01R31/318314

Abstract: 本发明提供一种测试程序除错装置、半导体测试装置、测试程序除错方法及测试方法。本发明的测试程序除错装置包括：被测试元件模拟设备及半导体测试装置模拟设备。半导体测试装置模拟设备具有验证范围获取部、指令简单化部与指令执行部。验证范围获取部是用于获取测试程序中应验证的指令的范围，亦即验证范围。指令简单化部是将设定指令以外的非设定指令加以简化，其中设定指令是用来对测试程序中的验证范围以外的范围(即非验证范围)中所包含的非验证范围的指令，进行被测试元件模拟设备的设定。指令执行部是用于执行验证范围中所包含的验证范围指令、设定指令以及被指令简单化部所简化的非设定指令。

公开(公告)号：CN1864143A

公开(公告)日：2006-11-15

申请号：CN200480028876.1

申请日：2004-10-05

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 堀光男 ,  多田秀树 ,  片冈孝浩 ,  关口宏之 ,  梦川一男

IPC: G06F11/22

CPC classification number: G06F11/263 ,  G01R31/318314

Abstract: 本发明提供一种测试程式除错装置、半导体测试装置、测试程式除错方法及测试方法。本发明的测试程式除错装置包括：被测试元件模拟设备及半导体测试装置模拟设备。半导体测试装置模拟设备具有验证范围获取部、指令简单化部与指令执行部。验证范围获取部是用于获取测试程式中应验证的指令的范围，亦即验证范围。指令简单化部是将设定指令以外的非设定指令加以简化，其中设定指令是用来对测试程式中的验证范围以外的范围(即非验证范围)中所包含的非验证范围的指令，进行被测试元件模拟设备的设定。指令执行部是用于执行验证范围中所包含的验证范围指令、设定指令以及被指令简单化部所简化的非设定指令。