公开(公告)号：CN100524538C

公开(公告)日：2009-08-05

申请号：CN200580009197.4

申请日：2005-03-22

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 山田益弘 ,  佐藤和彦 ,  大泽俊美

IPC: G11C29/00

CPC classification number: G11C29/56004 ,  G01R31/31917 ,  G11C29/56 ,  G11C2029/5606

Abstract: 本发明所属的测试装置具备：图样产生器，其产生一种供给至多个被测试存储器中的地址信号和数据信号以及产生一种期待值信号；多个逻辑比较器，其在多个被测试存储器所输出的输出信号和该期待值信号不一致时产生一种失效数据；多个失效存储器，其储存着多个逻辑比较器所产生的失效数据；多个存储器控制器，其依据多个失效存储器所储存的失效数据以产生被测试存储器的不良地址显示用的不良地址资讯；多个通用缓冲存储器，其储存着多个存储器控制器所产生的不良地址资讯；以及多个不良资讯写入部，其将不良资讯同时写入至多个被测试装置的多个通用缓冲存储器中所储存的不良地址资讯所示的不良地址中。

公开(公告)号：CN1934654A

公开(公告)日：2007-03-21

申请号：CN200580009197.4

申请日：2005-03-22

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 山田益弘 ,  佐藤和彦 ,  大泽俊美

IPC: G11C29/00

CPC classification number: G11C29/56004 ,  G01R31/31917 ,  G11C29/56 ,  G11C2029/5606

Abstract: 本发明所属的测试装置具备：图样产生器，其产生一种供给至多个被测试存储器中的位址信号和数据信号以及产生一种期待值信号；多个逻辑比较器，其在多个被测试存储器所输出的输出信号和该期待值信号不一致时产生一种失效数据；多个失效存储器，其储存着多个逻辑比较器所产生的失效数据；多个存储器控制器，其依据多个失效存储器所储存的失效数据以产生被测试存储器的不良位址显示用的不良位址资讯；多个通用缓冲存储器，其储存着多个存储器控制器所产生的不良位址资讯；以及多个不良资讯写入部，其将不良资讯同时写入至多个被测试装置的多个通用缓冲存储器中所储存的不良位址资讯所示的不良位址中。