试验装置、试验方法及计算机可读取媒体

    公开(公告)号:CN112098049A

    公开(公告)日:2020-12-18

    申请号:CN202010290804.5

    申请日:2020-04-14

    Abstract: 本发明所要解决的问题在于:利用以下方法无法一并检查复数个LED的光学特性,所述方法是使成为检查对象的一对LED中的一个发光,并以另一个受光,使用通过光电效应所输出的电流的电流值,来检查LED的光学特性。为了解决上述问题,本发明提出一种试验装置,具备:电性连接部,其电性连接至成为试验对象的复数个LED各自的端子;光源部,其一并对复数个LED照射光;测定部,其测定光电信号,所述光电信号是复数个LED分别对被光源部照射的光进行光电转换,并经由电性连接部输出;及,判定部,其基于测定部的测定结果来判定复数个LED各自的良否。

    试验装置、试验方法及程序
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116897290A

    公开(公告)日:2023-10-17

    申请号:CN202280017795.X

    申请日:2022-05-18

    Abstract: 本发明提供一种试验装置,其包含:发光控制部,使成为试验对象的多个发光元件发光;光测定部,接收来自多个发光元件的光,并测定所接收的光的波长;及判定部,基于光测定部测得的来自多个发光元件的光的波长的强度分布,判定多个发光元件中的至少1个发光元件是否存在异常。试验装置可还包含:光源;光学系统,将来自光源的光照射到多个发光元件;及电测定部,测定将多个发光元件各自被照射的光进行光电转换所得的光电信号;且光测定部可经由光学系统接收来自多个发光元件的光。

    试验装置、试验方法及计算机可读存储介质

    公开(公告)号:CN114966352A

    公开(公告)日:2022-08-30

    申请号:CN202111613077.2

    申请日:2021-12-27

    Abstract: 本发明所要解决的问题在于,利用以下方法无法一并检查复数个LED的光学特性,所述方法是使成为检查对象的一对LED中的一个发光,并以另一个受光,使用通过光电效应所输出的电流的电流值,来检查LED的光学特性。为了解决上述问题,本发明提供一种试验装置,具备:电性连接部,其电性连接至成为试验对象的复数个发光元件各自的端子;光源部,其对复数个发光元件一并照射光;电性测定部,其测定光电信号,所述光电信号是复数个发光元件分别对从光源部照射的光进行光电转换后而得的;发光控制部,其使成为发光处理的对象的至少一个发光元件发光;光测定部,其对成为发光处理的对象的至少一个发光元件发出的光进行测定;及判定部,其基于电性测定部的测定结果及光测定部的测定结果,来判定复数个发光元件各自的良否。

    试验装置、试验方法及计算机可读取媒体

    公开(公告)号:CN112098049B

    公开(公告)日:2023-05-16

    申请号:CN202010290804.5

    申请日:2020-04-14

    Abstract: 本发明所要解决的问题在于:利用以下方法无法一并检查复数个LED的光学特性,所述方法是使成为检查对象的一对LED中的一个发光,并以另一个受光,使用通过光电效应所输出的电流的电流值,来检查LED的光学特性。为了解决上述问题,本发明提出一种试验装置,具备:电性连接部,其电性连接至成为试验对象的复数个LED各自的端子;光源部,其一并对复数个LED照射光;测定部,其测定光电信号,所述光电信号是复数个LED分别对被光源部照射的光进行光电转换,并经由电性连接部输出;及,判定部,其基于测定部的测定结果来判定复数个LED各自的良否。

    试验装置、试验方法及计算机可读存储介质

    公开(公告)号:CN114814508A

    公开(公告)日:2022-07-29

    申请号:CN202111335464.4

    申请日:2021-11-11

    Abstract: [要解决的问题]在使成为检查对象的一对LED中的一个LED发光,并由另一个LED接收光,使用通过光电效应而输出的电流的电流值来检查LED的光学特性的方法中,无法一起检查多个LED的光学特性。[解决方案]一种试验装置,包括:电连接部,电连接于发光元件面板,所述发光元件面板具有沿着行方向及列方向排列且分别包含发光元件的多个单元;光源部,对多个单元一起照射光;读出部,针对发光元件面板的各行,在沿着列方向排列的2个以上单元的各单元中读出利用发光元件将光进行光电转换后的光电信号;测定部,测定从多个单元的各单元读出的光电信号;以及判定部,基于测定部的测定结果来判定多个单元的各单元是否良好。

    试验装置、试验方法及计算机可读存储介质

    公开(公告)号:CN114764045A

    公开(公告)日:2022-07-19

    申请号:CN202111470510.1

    申请日:2021-12-03

    Abstract: [要解决的问题]在使成为检查对象的一对LED中的一个LED发光,并由另一个LED接收光,使用通过光电效应而输出的电流的电流值来检查LED的光学特性的方法中,无法一次检查多个LED的光学特性。[解决方案]一种试验装置,包含:电连接部,电连接于成为试验对象的多个发光元件各自的端子;光源部,对多个发光元件一起照射光;测定部,测定多个发光元件分别将被光源部照射的光进行光电转换并经由电连接部输出的光电信号;获取部,获取包含修正值的修正图,所述修正值是用来修正光源部对多个发光元件各自的位置照射的光的强度不均;及判定部,基于测定部的测定结果、及由获取部获取的修正图,判定多个发光元件各自是否良好。

    测试系统及子单元
    7.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101578528B

    公开(公告)日:2013-03-20

    申请号:CN200880001372.9

    申请日:2008-08-06

    CPC classification number: G01R31/2822 G01R1/18 G01R31/2839 G01R31/2887

    Abstract: 提供一种测试系统,是测试被测试器件的测试系统,配置有测试头,其具有产生提供给被测试器件的测试信号的测试模块;功能板,其载置于测试头上,传送测试模块产生的测试信号;子单元,其可装卸地搭载于功能板上,将测试信号从功能板传送给被测试器件;子单元具有测试座,其搭载被测试器件;子板,其安装测试座;筐体,其将测试座及子板收容于内侧,包括阻断外部对测试座及子板的噪声的子板一侧屏蔽件。

    试验装置、试验方法及计算机可读存储介质

    公开(公告)号:CN119519598A

    公开(公告)日:2025-02-25

    申请号:CN202410734509.2

    申请日:2024-06-07

    Abstract: 本发明提供一种试验装置,具备光源;电测定部,测定成为试验对象的发光元件将从光源照射的光进行光电转换所得的光电信号;以及算出部,根据从光源照射到成为试验对象的发光元件的光的照射强度、与成为试验对象的发光元件的发光相关的发光波长、及成为试验对象的发光元件的所测得的光电信号,算出与成为试验对象的发光元件的本来的外部量子效率具有关联的伪外部量子效率。算出部也可以使用基于针对成为基准的发光元件预先算出的伪外部量子效率、及关于成为基准的发光元件的由发光试验预先算出的本来的外部量子效率的修正系数,根据成为试验对象的发光元件的伪外部量子效率,算出成为试验对象的发光元件的由发光试验获得的本来的外部量子效率的推定值。

    试验装置、试验方法及计算机可读取媒体

    公开(公告)号:CN116429380A

    公开(公告)日:2023-07-14

    申请号:CN202310472588.X

    申请日:2020-04-14

    Abstract: 本发明所要解决的问题在于:利用以下方法无法一并检查复数个LED的光学特性,所述方法是使成为检查对象的一对LED中的一个发光,并以另一个受光,使用通过光电效应所输出的电流的电流值,来检查LED的光学特性。为了解决上述问题,本发明提出一种试验装置,具备:电性连接部,其电性连接至成为试验对象的复数个LED各自的端子;光源部,其一并对复数个LED照射光;测定部,其测定光电信号,所述光电信号是复数个LED分别对被光源部照射的光进行光电转换,并经由电性连接部输出;及,判定部,其基于测定部的测定结果来判定复数个LED各自的良否。

    测试系统及子单元
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101578528A

    公开(公告)日:2009-11-11

    申请号:CN200880001372.9

    申请日:2008-08-06

    CPC classification number: G01R31/2822 G01R1/18 G01R31/2839 G01R31/2887

    Abstract: 提供一种测试系统,是测试被测试器件的测试系统,配置有测试头,其具有产生提供给被测试器件的测试信号的测试模块;功能板,其载置于测试头上,传送测试模块产生的测试信号;子单元,其可装卸地搭载于功能板上,将测试信号从功能板传送给被测试器件;子单元具有测试座,其搭载被测试器件;子板,其安装测试座;筐体,其将测试座及子板收容于内侧,包括阻断外部对测试座及子板的噪声的子板一侧屏蔽件。

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