公开(公告)号：CN101578528A

公开(公告)日：2009-11-11

申请号：CN200880001372.9

申请日：2008-08-06

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 宫内康司 ,  渡边俊幸

IPC: G01R31/26

CPC classification number: G01R31/2822 ,  G01R1/18 ,  G01R31/2839 ,  G01R31/2887

Abstract: 提供一种测试系统，是测试被测试器件的测试系统，配置有测试头，其具有产生提供给被测试器件的测试信号的测试模块；功能板，其载置于测试头上，传送测试模块产生的测试信号；子单元，其可装卸地搭载于功能板上，将测试信号从功能板传送给被测试器件；子单元具有测试座，其搭载被测试器件；子板，其安装测试座；筐体，其将测试座及子板收容于内侧，包括阻断外部对测试座及子板的噪声的子板一侧屏蔽件。

公开(公告)号：CN101578528B

公开(公告)日：2013-03-20

申请号：CN200880001372.9

申请日：2008-08-06

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 宫内康司 ,  渡边俊幸

IPC: G01R31/26

CPC classification number: G01R31/2822 ,  G01R1/18 ,  G01R31/2839 ,  G01R31/2887

Abstract: 提供一种测试系统，是测试被测试器件的测试系统，配置有测试头，其具有产生提供给被测试器件的测试信号的测试模块；功能板，其载置于测试头上，传送测试模块产生的测试信号；子单元，其可装卸地搭载于功能板上，将测试信号从功能板传送给被测试器件；子单元具有测试座，其搭载被测试器件；子板，其安装测试座；筐体，其将测试座及子板收容于内侧，包括阻断外部对测试座及子板的噪声的子板一侧屏蔽件。