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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN100563103C
公开(公告)日：2009-11-25
申请号：CN200480037677.7
申请日：2004-12-17
Applicant: 爱德万测试株式会社
CPC classification number: H03K5/133 , G01R31/3191 , G01R31/31922 , G01R31/31937 , H03K2005/00026 , H03K2005/00039 , H03K2005/00058 , H03K2005/0013 , H03K2005/00202 , H03K2005/00267
Abstract: 本发明提供一种延迟电路，其对应于所期望的延迟时间设定使输入信号延迟且输出，包括：延迟元件，其使该输入信号延迟一以所施加的供给电流为基准的延迟时间且输出该输入信号；电流供给部，其产生该供给电流；电压产生部，其产生一种对应于该延迟时间设定的基本电压；以及控制部，其使电流供给部产生供给电流，根据电流供给部的特性，使基本电压变换成控制电压，以供给至电流供给部。电流供给部具有所定的导电特性且具有第1MOS电晶体，其供给汲极电流至延迟元件以作为该供给电流。该控制部产生第1MOS电晶体在饱和区域动作时的第1控制电压，该第1控制电压可供给至第1MOS电晶体的闸极端。
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公开(公告)号：CN102124357A
公开(公告)日：2011-07-13
申请号：CN200980132119.1
申请日：2009-08-19
Applicant: 爱德万测试株式会社
Inventor： 寒竹秀介
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/31726 , G01R31/31725 , G01R31/31727
Abstract: 本发明公开了一种测试装置，对包括相互非同步动作的多个块的被测试设备进行测试的测试装置中，包括与多个块分别相应设置的多个域测试单元以及控制多个域测试单元的主体单元，其中，主体单元包括生成提供给多个域测试单元中的每一个基准动作时钟的基准动作时钟生成部，以及生成针对多个域测试单元中的每一个指示测试开始的测试开始信号的测试开始信号生成部，多个域测试单元中的每一个包括根据基准动作时钟生成测试时钟的测试时钟生成部，生成根据通过测试时钟生成部所得到的测试时钟对多个块中的相应块进行测试的测试信号，多个域测试单元中的每一个，以接收到测试开始信号为条件来开始测试信号的生成。
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公开(公告)号：CN1934455B
公开(公告)日：2010-05-05
申请号：CN200580009198.9
申请日：2005-03-11
Applicant: 爱德万测试株式会社
Inventor： 寒竹秀介
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/31932 , G01R31/2882
Abstract: 本发明涉及一种被测试装置测试用的测试装置，其具备：时钟产生电路，产生再生时钟，其频率略等于基准时钟且其相位略等于被测试装置的输出数据；延迟电路，其使再生时钟延迟以产生一种选通脉冲；时序比较器，其依据该选通脉冲以取得该输出数据的输出值；逻辑比较器，其对该输出值与预定的期待值作比较；以及良否判定部，其依据逻辑比较器的比较结果以判定该被测试装置的良否。时钟产生电路具备：第1相位比较器，其对该被测试装置的输出数据和再生时钟的相位进行比较以输出第1比较结果信号；第2相位比较器，其对基准时钟和再生时钟的相位进行比较以输出第2比较结果信号；以及再生时钟产生部，其依据第1比较结果信号和第2比较结果信号以产生一种再生时钟。
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公开(公告)号：CN1934455A
公开(公告)日：2007-03-21
申请号：CN200580009198.9
申请日：2005-03-11
Applicant: 爱德万测试株式会社
Inventor： 寒竹秀介
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/31932 , G01R31/2882
Abstract: 本发明涉及一种被测试装置测试用的测试装置，其具备：时钟产生电路，产生再生时钟，其频率略等于基准时钟且其相位略等于被测试装置的输出数据；延迟电路，其使再生时钟延迟以产生一种选通脉冲；时序比较器，其依据该选通脉冲以取得该输出数据的输出值；逻辑比较器，其对该输出值与预定的期待值作比较；以及良否判定部，其依据逻辑比较器的比较结果以判定该被测试装置的良否。时钟产生电路具备：第1相位比较器，其对该被测试装置的输出数据和再生时钟的相位进行比较以输出第1比较结果信号；第2相位比较器，其对基准时钟和再生时钟的相位进行比较以输出第2比较结果信号；以及再生时钟产生部，其依据第1比较结果信号和第2比较结果信号以产生一种再生时钟。
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公开(公告)号：CN1894852A
公开(公告)日：2007-01-10
申请号：CN200480037677.7
申请日：2004-12-17
Applicant: 爱德万测试株式会社
CPC classification number: H03K5/133 , G01R31/3191 , G01R31/31922 , G01R31/31937 , H03K2005/00026 , H03K2005/00039 , H03K2005/00058 , H03K2005/0013 , H03K2005/00202 , H03K2005/00267
Abstract: 本发明提供一种延迟电路，其对应于所期望的延迟时间设定使输入信号延迟且输出，包括：延迟元件，其使该输入信号延迟一以所施加的供给电流为基准的延迟时间且输出该输入信号；电流供给部，其产生该供给电流；电压产生部，其产生一种对应于该延迟时间设定的基本电压；以及控制部，其使电流供给部产生供给电流，根据电流供给部的特性，使基本电压变换成控制电压，以供给至电流供给部。电流供给部具有所定的导电特性且具有第1MOS电晶体，其供给汲极电流至延迟元件以作为该供给电流。该控制部产生第1MOS电晶体在饱和区域动作时的第1控制电压，该第1控制电压可供给至第1MOS电晶体的闸极端。
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