公开(公告)号：CN101310342A

公开(公告)日：2008-11-19

申请号：CN200780000113.X

申请日：2007-03-22

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 小泽大树 ,  佐藤新哉

IPC: G11C29/44 ,  G11C16/06 ,  G11C17/00 ,  G01R31/28

CPC classification number: G01R31/31932 ,  G11C29/56 ,  G11C29/56008 ,  G11C2029/5606

Abstract: 本发明提供一种对用于存储附加了错误订正符号的数据流的被测试存储器(以下称为DUT)进行有效测试的测试装置。该测试装置将从DUT读取的数据流所包含的各比特与期望值相比较。该比较结果作为表示DUT的每个存储单元是否合格的比特合格/失效信息被存储在第一失效存储器(以下称为FM)中。存储装置在每一页统计与期望值不一致的比特数，并在DUT的每一级别及每一页，判断与期望值不一致的比特数是否满足该级别的条件。该判断结果作为在每个级别表示各页是否合格的页合格/失效信息被存储在第二FM中。如果包含有对应某存储单元的比特的页满足某级别条件的比特合格信息存储在第二FM中，则测试装置将第一FM的比特合格/失效信息变更为表示该存储单元合格的值进行输出。