公开(公告)号：CN100524536C

公开(公告)日：2009-08-05

申请号：CN200480016976.2

申请日：2004-06-15

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 佐藤和彦 ,  明世范 ,  千叶浩幸

IPC: G11C29/00 ,  G01R31/28

CPC classification number: G01R31/31928 ,  G11C29/56 ,  G11C29/56004 ,  G11C2029/5606

Abstract: 本发明提供半导体测试装置，此装置具有第1波形生成单元，生成与各个半导体元件共同的共同信息相对应的共同图案波形；第2波形生成单元，生成与各个半导体元件对应，与个别准备的多数个别信息对应的个别图案波形；波形切换单元，有选择地进行向各个半导体元件共同输入第1波形生成单元所生成的上述共同图案波形的操作、与个别输入各个第2波形生成单元所生成的上述个别图案波形的操作。

公开(公告)号：CN1809896A

公开(公告)日：2006-07-26

申请号：CN200480016976.2

申请日：2004-06-15

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 佐藤和彦 ,  明世范 ,  千叶浩幸

IPC: G11C29/00 ,  G01R31/28

CPC classification number: G01R31/31928 ,  G11C29/56 ,  G11C29/56004 ,  G11C2029/5606

Abstract: 本发明提供半导体测试装置，此装置具有第1波形生成单元，生成与各个多数的半导体元件共通的共通资讯相对应的共通图案波形；第2波形生成单元，生成与各个多数的半导体元件对应，与个别准备的多数个别资讯对应的个别图案波形；波形切换单元，有选择地进行向各个多数的半导体元件共通输入第1波形生成单元所生成的上述共通图案波形的操作、与个别输入各个多数的第2波形生成单元所生成的上述个别图案波形的操作。