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公开(公告)号：CN101542304A
公开(公告)日：2009-09-23
申请号：CN200780042661.9
申请日：2007-11-09
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G01R31/26
CPC classification number: G01R1/36 , G01R31/2851
Abstract: 本发明提供一种测量电路，用于对被测试装置施加直流电压，测量所述被测试装置的直流电流。其包括：主放大部，其根据输入电压生成上述直流电压，施加给上述被测试装置；串联电阻，串联设置在上述主放大部的输出端和上述被测试装置的输入端之间；钳位电路，限制上述主放大部输出的上述直流电流的电流值；上述钳位电路，具有：第1极限电压输出部，接收上述主放大部输出的上述直流电压，相对上述直流电压，输出具有与上述直流电流的极限值对应的电压差的第1极限电压；第1钳位单元，根据上述第1极限电压和上述串联电阻两端中的压降，限制上述主放大部输出的上述直流电流。
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公开(公告)号：CN101542304B
公开(公告)日：2011-11-16
申请号：CN200780042661.9
申请日：2007-11-09
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G01R31/26
CPC classification number: G01R1/36 , G01R31/2851
Abstract: 本发明提供一种测量电路，用于对被测试装置施加直流电压，测量所述被测试装置的直流电流。其包括：主放大部，其根据输入电压生成上述直流电压，施加给上述被测试装置；串联电阻，串联设置在上述主放大部的输出端和上述被测试装置的输入端之间；钳位电路，限制上述主放大部输出的上述直流电流的电流值；上述钳位电路，具有：第1极限电压输出部，接收上述主放大部输出的上述直流电压，相对上述直流电压，输出具有与上述直流电流的极限值对应的电压差的第1极限电压；第1钳位单元，根据上述第1极限电压和上述串联电阻两端中的压降，限制上述主放大部输出的上述直流电流。
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公开(公告)号：CN101145770B
公开(公告)日：2012-07-18
申请号：CN200710143083.X
申请日：2007-08-22
Applicant: 爱德万测试株式会社
CPC classification number: G01R31/3016
Abstract: 本发明提供一种延迟电路、测试装置、半导体芯片、初始化电路及初始化方法。延迟电路包括：第1延迟元件；第2延迟元件；及测量第1延迟元件对每个延迟设定值产生的延迟量且对第1延迟元件进行初始化的初始化部。初始化部包括：将第1延迟元件的输出信号输入到第1延迟元件的第1循环路径；将第2延迟元件的输出信号输入到第2延迟元件的第2循环路径；对第1延迟元件依次设定不同的延迟设定值，依次测量第1延迟元件中的延迟量的第1测量部；使第2延迟元件的延迟设定值不发生变化，和第1测量部同步测量第2延迟元件中的延迟量的第2测量部；用第2测量部与相应延迟量同步测量所得延迟量，来补正第1测量部测得的延迟量的延迟量计算部。
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公开(公告)号：CN101145770A
公开(公告)日：2008-03-19
申请号：CN200710143083.X
申请日：2007-08-22
Applicant: 爱德万测试株式会社
CPC classification number: G01R31/3016
Abstract: 本发明提供一种延迟电路、测试装置、存储介质、半导体芯片、初始化电路及初始化方法。延迟电路包括：第1延迟元件；第2延迟元件；及测量第1延迟元件对每个延迟设定值产生的延迟量且对第1延迟元件进行初始化的初始化部。初始化部包括：将第1延迟元件的输出信号输入到第1延迟元件的第1循环路径；将第2延迟元件的输出信号输入到第2延迟元件的第2循环路径；对第1延迟元件依次设定不同的延迟设定值，依次测量第1延迟元件中的延迟量的第1测量部；使第2延迟元件的延迟设定值不发生变化，和第1测量部同步测量第2延迟元件中的延迟量的第2测量部；用第2测量部与相应延迟量同步测量所得延迟量，来补正第1测量部测得的延迟量的延迟量计算部。
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