公开(公告)号：CN1879027B

公开(公告)日：2012-02-29

申请号：CN200580000297.0

申请日：2005-07-12

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 菅谷智之 ,  中山浩康

IPC: G01R31/28

CPC classification number: G01R31/31928 ,  G01R31/31919

Abstract: 本发明测试待测设备的测试装置具有主存储器，其包括存储和从待测设备的端子依次输出的多数个输出图像依次进行比较的期待值图像列的期待值图像存储区域；测试图像输出部，其通过将多数个测试图像依次输入到待测设备，而使输出图像从待测设备中依次输出；截取部，其将所输出的输出图像依次取入到主存储器上的输出图像记忆区域；存储器读取部，其在将输出图像取入到输出图像记忆区域中的取入处理结束后，将包含所取入的多数个输出图像的输出图像列，及期待值图像列，从主存储器中读取出来；以及期待值比较部，其将所读取的期待值图像列，以及输出图像列加以比较。

公开(公告)号：CN1879027A

公开(公告)日：2006-12-13

申请号：CN200580000297.0

申请日：2005-07-12

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 菅谷智之 ,  中山浩康

IPC: G01R31/28

CPC classification number: G01R31/31928 ,  G01R31/31919

Abstract: 本发明测试待测设备的测试装置具有主存储器，其包括存储和从待测设备的端子依次输出的多数个输出图像依次进行比较的期待值图像列的期待值图像存储区域；测试图像输出部，其通过将多数个测试图像依次输入到待测设备，而使输出图像从待测设备中依次输出；截取部，其将所输出的输出图像依次取入到主存储器上的输出图像记忆区域；存储器读取部，其在将输出图像取入到输出图像记忆区域中的取入处理结束后，将包含所取入的多数个输出图像的输出图像列，及期待值图像列，从主存储器中读取出来；以及期待值比较部，其将所读取的期待值图像列，以及输出图像列加以比较。