公开(公告)号：CN102239682A

公开(公告)日：2011-11-09

申请号：CN200980148900.8

申请日：2009-12-03

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 基石优 ,  中山浩康 ,  津藤胜

IPC: H04L29/14

CPC classification number: H04L43/50 ,  G01R31/2834

Abstract: 本发明公开了一种测试装置，是测试被测试器件的测试装置，其包括：高位序列器，其执行用于测试所述被测试器件的测试程序，并依次指定与被测试器件之间进行通讯的各数据包；包数据列存储部，用于存储多种数据包中每个数据包里所包含的数据列；低位序列器，从包数据列存储部读出由高位序列器指定的数据包的数据列，生成与被测试器件之间的测试用的测试数据列。

公开(公告)号：CN100462731C

公开(公告)日：2009-02-18

申请号：CN200480015935.1

申请日：2004-05-21

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 中山浩康

IPC: G01R31/28

CPC classification number: G01R31/31813

Abstract: 一种图案产生器包括主记忆体，储存多数个序列资料区块用以产生测试图案；第一序列快取记忆体，依序储存该些序列资料区块；第二序列快取记忆体；资料展开部，依序执行第一序列快取记忆体所储存的该些序列资料区块，以产生测试图案；以及先读单元，用以在资料展开部在执行一个序列资料区块中，若检测出应该先读取其他序列资料区块的先读命令时，从主记忆体读取出其他序列资料区块，并储存到第二序列快取记忆体中。

公开(公告)号：CN1826535A

公开(公告)日：2006-08-30

申请号：CN200480020951.X

申请日：2004-07-07

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 中山浩康

IPC: G01R31/28

CPC classification number: G01R31/318547

Abstract: 本发明提供一种图案生成器，为一种生成用于进行电子元件的扫描测试的测试图案的图案生成器，包括：主存储器，将含有用于进行扫描测试的图案数据的扫描图案数据块，和含有用于表示应向电子元件供给扫描图案数据块的数据的时序的指令的扫描时序数据块对应地进行存储；数据展开部，藉由实行扫描时序数据块的指令，而展开对应的扫描图案数据块的图案数据，并生成测试图案。

公开(公告)号：CN1879027B

公开(公告)日：2012-02-29

申请号：CN200580000297.0

申请日：2005-07-12

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 菅谷智之 ,  中山浩康

IPC: G01R31/28

CPC classification number: G01R31/31928 ,  G01R31/31919

Abstract: 本发明测试待测设备的测试装置具有主存储器，其包括存储和从待测设备的端子依次输出的多数个输出图像依次进行比较的期待值图像列的期待值图像存储区域；测试图像输出部，其通过将多数个测试图像依次输入到待测设备，而使输出图像从待测设备中依次输出；截取部，其将所输出的输出图像依次取入到主存储器上的输出图像记忆区域；存储器读取部，其在将输出图像取入到输出图像记忆区域中的取入处理结束后，将包含所取入的多数个输出图像的输出图像列，及期待值图像列，从主存储器中读取出来；以及期待值比较部，其将所读取的期待值图像列，以及输出图像列加以比较。

公开(公告)号：CN102246471A

公开(公告)日：2011-11-16

申请号：CN200980149135.1

申请日：2009-05-29

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 石川慎一 ,  杉村一 ,  基石优 ,  中山浩康 ,  津藤胜

IPC: H04L12/56 ,  H04L12/26

CPC classification number: H04L43/50 ,  G01R31/2834

Abstract: 本发明提供一种测试装置，是测试被测试装置的测试装置，包括：取得部，从对被测试器件的动作进行模拟的模拟环境中取得与被测试器件之间进行通信的数据包列；数据包通信程序生成部，根据数据包列生成测试用的数据包通信程序，所述测试用的数据包通信程序由该测试装置执行，并进行与被测试器件之间的数据包列中所包含的数据包的通信，以及测试部，执行数据包通信程序，与被测试器件之间进行数据包通信的测试。

公开(公告)号：CN1879027A

公开(公告)日：2006-12-13

申请号：CN200580000297.0

申请日：2005-07-12

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 菅谷智之 ,  中山浩康

IPC: G01R31/28

CPC classification number: G01R31/31928 ,  G01R31/31919

Abstract: 本发明测试待测设备的测试装置具有主存储器，其包括存储和从待测设备的端子依次输出的多数个输出图像依次进行比较的期待值图像列的期待值图像存储区域；测试图像输出部，其通过将多数个测试图像依次输入到待测设备，而使输出图像从待测设备中依次输出；截取部，其将所输出的输出图像依次取入到主存储器上的输出图像记忆区域；存储器读取部，其在将输出图像取入到输出图像记忆区域中的取入处理结束后，将包含所取入的多数个输出图像的输出图像列，及期待值图像列，从主存储器中读取出来；以及期待值比较部，其将所读取的期待值图像列，以及输出图像列加以比较。