公开(公告)号：CN1534289A

公开(公告)日：2004-10-06

申请号：CN200410008570.1

申请日：2004-03-24

Applicant: 理学电机株式会社

Inventor： 表和彦

IPC: G01N23/207

CPC classification number: G01N23/20 ,  G21K1/06

Abstract: 一种X射线衍射装置，从入射光学系统(22)射出的X射线入射到被支撑在试样支撑机构(24)上的试样(60)上，来自此处的衍射X射线被受光光学系统(26)检测到。入射光学系统具有X射线源(66)和多层膜反射镜(61)。试样支撑机构的姿势控制机构(36、40)对按照使试样的法线(61)平行于第1旋转中心线(32)的方式将试样维持在第1姿势的状态、按照与之垂直的方式维持在第2姿势的状态进行切换。当将试样维持在第1姿势而使受光光学系统绕第1旋转中心线旋转时，就可以进行面内衍射测定。另一方面，当将试样维持在第2姿势而使受光光学系统同样地旋转时，就可以进行面外衍射测定。因此利用本发明的X射线衍射装置可以进行面内衍射测定。

公开(公告)号：CN1520513A

公开(公告)日：2004-08-11

申请号：CN02812998.9

申请日：2002-06-17

Applicant: 理学电机株式会社

Inventor： 表和彦

IPC: G01N23/201

CPC classification number: G01N23/20 ,  G01N23/201 ,  G01N23/203

Abstract: 在本发明的解析密度不均匀实验材料内的颗粒状物的分布状态的密度不均匀实验材料解析方法中，实际测量X射线散射曲线是基于面内衍射测量的面内X射线散射曲线，进行该面内X射线散射曲线和模拟X射线散射曲线的拟合，将模拟X射线散射曲线和面内X射线散射曲线一致时的拟合参数的值作为密度不均匀实验材料内的颗粒状物的面内方向的分布状态。同时通过上述方法，还能够提供能够简单并且高精度地解析具有各向异性的密度不均匀实验材料内的颗粒状物的面内方向的分布状态的密度不均匀实验材料解析装置和系统。

公开(公告)号：CN1293382C

公开(公告)日：2007-01-03

申请号：CN02812998.9

申请日：2002-06-17

Applicant: 理学电机株式会社

Inventor： 表和彦

IPC: G01N23/201

CPC classification number: G01N23/20 ,  G01N23/201 ,  G01N23/203

Abstract: 在本发明的解析密度不均匀实验材料内的颗粒状物的分布状态的密度不均匀实验材料解析方法中，实际测量X射线散射曲线是基于面内衍射测量的面内X射线散射曲线，进行该面内X射线散射曲线和模拟X射线散射曲线的拟合，将模拟X射线散射曲线和面内X射线散射曲线一致时的拟合参数的值作为密度不均匀实验材料内的颗粒状物的面内方向的分布状态。同时通过上述方法，还能够提供能够简单并且高精度地解析具有各向异性的密度不均匀实验材料内的颗粒状物的面内方向的分布状态的密度不均匀实验材料解析装置和系统。