半导体装置以及包含半导体装置的半导体系统

    公开(公告)号:CN109753454B

    公开(公告)日:2023-07-07

    申请号:CN201811284034.2

    申请日:2018-10-31

    Abstract: 本发明涉及半导体装置以及包含半导体装置的半导体系统。所述半导体装置包括:ECC解码器,其使用用于数据的错误检测码对所述数据执行诊断;ECC编码器,其针对与占构成所述数据的多个位的一部分的位范围等同的第一数据块生成错误检测码并且针对与占所述位的剩余部分的位范围等同的第二数据块生成错误检测码;以及诊断电路,其在所述ECC解码器尚未检测到所述数据中的错误时将所述数据的对应于所述第一数据块的一部分与用于生成所述第一错误检测码的所述第一数据块进行比较,并且将所述数据的对应于所述第二数据块的一部分与用于生成所述第二错误检测码的所述第二数据块进行比较。

    温度测量电路和方法以及微型计算机单元

    公开(公告)号:CN108151901B

    公开(公告)日:2021-10-29

    申请号:CN201711096414.9

    申请日:2017-11-09

    Abstract: 本文公开了温度测量电路和方法以及微型计算机单元。能够在防止电路规模扩大的同时检测温度传感器的故障。温度测量电路10包括温度传感器20和30以及比较器40。温度传感器20包括温度检测单元21和AD转换器,温度检测单元21包括电阻元件,电阻元件的电阻值根据温度变化而变化,AD转换器将温度检测单元21的电压转换为温度数字值D1。温度传感器30包括以温度相关的周期来振荡的环形振荡器31,并且基于由环形振荡器31输出的振荡信号来生成数字值D2。比较器40将温度数字值D1和D2相比较,并且基于比较结果来输出指示温度传感器20是否正常的信号。

    故障检测电路、半导体器件和故障检测方法

    公开(公告)号:CN119691733A

    公开(公告)日:2025-03-25

    申请号:CN202410886631.1

    申请日:2024-07-03

    Abstract: 本公开涉及故障检测电路、半导体器件和故障检测方法。在目标电路中设置一种故障检测电路,该目标电路具有用于与第一时钟信号同步操作的第一电路区域,该故障检测电路包括用于输出通过与第一时钟信号同步地转变电压电平而获取的第一检测结果的第一检测电路、用于输出通过与第一时钟信号同步地转变电压电平而获取的第二检测结果的第二检测电路、以及用于通过比较第一检测结果和第二检测结果来输出第一比较结果的第一比较电路。因此,通过故障检测电路,可以准确地检测故障。

    温度测量电路和方法以及微型计算机单元

    公开(公告)号:CN108151901A

    公开(公告)日:2018-06-12

    申请号:CN201711096414.9

    申请日:2017-11-09

    CPC classification number: G01K15/007 G01K1/14 G01K7/16 G01K7/32

    Abstract: 本文公开了温度测量电路和方法以及微型计算机单元。能够在防止电路规模扩大的同时检测温度传感器的故障。温度测量电路10包括温度传感器20和30以及比较器40。温度传感器20包括温度检测单元21和AD转换器,温度检测单元21包括电阻元件,电阻元件的电阻值根据温度变化而变化,AD转换器将温度检测单元21的电压转换为温度数字值D1。温度传感器30包括以温度相关的周期来振荡的环形振荡器31,并且基于由环形振荡器31输出的振荡信号来生成数字值D2。比较器40将温度数字值D1和D2相比较,并且基于比较结果来输出指示温度传感器20是否正常的信号。

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