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发明公开
故障检测电路、半导体器件和故障检测方法审中-公开

公开(公告)号：CN119691733A

公开(公告)日：2025-03-25

申请号：CN202410886631.1

申请日：2024-07-03

Applicant: 瑞萨电子株式会社

Inventor： 宫口哲 , 河北大辅 , 平野政明 , 铃木翔吾

IPC: G06F21/55 , G01R31/26 , G06F21/71

Abstract: 本公开涉及故障检测电路、半导体器件和故障检测方法。在目标电路中设置一种故障检测电路，该目标电路具有用于与第一时钟信号同步操作的第一电路区域，该故障检测电路包括用于输出通过与第一时钟信号同步地转变电压电平而获取的第一检测结果的第一检测电路、用于输出通过与第一时钟信号同步地转变电压电平而获取的第二检测结果的第二检测电路、以及用于通过比较第一检测结果和第二检测结果来输出第一比较结果的第一比较电路。因此，通过故障检测电路，可以准确地检测故障。

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