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公开(公告)号:CN102432841A
公开(公告)日:2012-05-02
申请号:CN201110306447.8
申请日:2007-12-31
Applicant: 第一毛织株式会社
CPC classification number: G03F7/091 , C08G61/02 , C08G61/10 , G03F7/11 , Y10S438/952
Abstract: 提供了萘主链聚合物和含有该萘主链聚合物的抗反射硬掩模组合物以及材料层的图案化方法。所述硬掩模组合物含有有机溶剂、引发剂、和由式B表示的萘主链聚合物,这些在说明书中有描述。本发明的硬掩模组合物可以用于提供以很高的纵横比图案化的多层薄膜,并且可以将良好的图像转移至下层。另外,通过旋转涂覆技术可以很容易地施覆组合物。
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公开(公告)号:CN101042533A
公开(公告)日:2007-09-26
申请号:CN200710007513.5
申请日:2007-01-30
Applicant: 第一毛织株式会社
IPC: G03F7/075 , G03F7/004 , G03F7/20 , G03F7/26 , H01L21/027
Abstract: 本发明提供了硬掩模组合物,该组合物含有通过一种或多种式(I)化合物的反应所制备的有机硅烷聚合物,其中,R1、R2和R3可以各自独立地为烷基、乙酰氧基或肟;且R4可以是氢、烷基、芳基或芳烷基;并且其中有机硅烷聚合物具有大约1.1至大约2的多分散性。Si(OR1)(OR2)(OR3)R4(I)
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公开(公告)号:CN102227458B
公开(公告)日:2014-07-16
申请号:CN200980148064.3
申请日:2009-12-01
Applicant: 第一毛织株式会社
CPC classification number: C08L65/00 , C08G61/02 , C08G73/1039 , C08G73/1067 , C08G2261/3424 , C08L79/08 , G03F7/091 , G03F7/094
Abstract: 本发明提供一种用于平版印刷方法的具有良好抗反射性的下层组合物。该组合物具有优异的光学特性、机械特性,及蚀刻选择性,且可使用旋涂方法涂敷。有利地,该组合物可应用于短波长平版印刷方法并显示最少的剩余酸。
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公开(公告)号:CN102060981B
公开(公告)日:2012-11-21
申请号:CN201010566229.3
申请日:2007-12-20
Applicant: 第一毛织株式会社
Abstract: 本发明提供了说明书中描述的式3的含芳环的聚合物。本发明还提供了一种具有增透特性的硬掩膜组合物,该组合物含有所述含芳环的聚合物。该硬掩膜组合物适用于平版印刷工艺并且具有优异的光学特性和机械特性。另外,该组合物易于通过旋转涂布技术施用。特别地,该组合物对干蚀刻有很高的抗蚀性。因此,该组合物可用于提供形成高纵横比图案的多层薄膜。
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公开(公告)号:CN1991581A
公开(公告)日:2007-07-04
申请号:CN200610150443.4
申请日:2006-10-27
Applicant: 第一毛织株式会社
Abstract: 本发明提供了一种抗蚀底膜硬掩模层组合物,其中在某些实施方式中,硬掩模层组合物含有(a)由式1的化合物与式2的化合物反应制得的第一聚合物,其中n为3-20的数,R为一价有机基团,m为0、1或2;(b)包括式3-6所示结构中的至少一种结构的第二聚合物;(c)酸性或碱性催化剂;以及(d)有机溶剂。本发明还提供了利用本发明实施方式的硬掩模层组合物制造半导体集成电路装置的方法。另外,本发明还提供了按照本发明方法实施方式制造的半导体集成电路装置。
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