用于检验MEMS传感器的传感器值的方法

    公开(公告)号:CN111272207B

    公开(公告)日:2024-07-23

    申请号:CN201911219454.7

    申请日:2019-12-03

    Abstract: 介绍了一种用于检验MEMS传感器的传感器值的方法。在此,检测MEMS传感器的输出信号,并且根据输出信号来测定传感器值。此外,检查输出信号的频率成分,并且根据对频率成分的检查来查明:所测定的传感器值是可靠的还是不可靠的。如果所述传感器值被查明为不可靠的,则丢弃所述传感器值,或者对所述传感器值较小地加权,输出关于所述传感器值的不可靠性的警告或者存储关于所述传感器值的不可靠性的信息。

    用于检验MEMS传感器的传感器值的方法

    公开(公告)号:CN111272207A

    公开(公告)日:2020-06-12

    申请号:CN201911219454.7

    申请日:2019-12-03

    Abstract: 介绍了一种用于检验MEMS传感器的传感器值的方法。在此,检测MEMS传感器的输出信号,并且根据输出信号来测定传感器值。此外,检查输出信号的频率成分,并且根据对频率成分的检查来查明:所测定的传感器值是可靠的还是不可靠的。如果所述传感器值被查明为不可靠的,则丢弃所述传感器值,或者对所述传感器值较小地加权,输出关于所述传感器值的不可靠性的警告或者存储关于所述传感器值的不可靠性的信息。

    用于生成加密密钥的方法、设备和电系统

    公开(公告)号:CN108886467A

    公开(公告)日:2018-11-23

    申请号:CN201780020409.1

    申请日:2017-01-26

    Inventor: O.维勒斯

    CPC classification number: H04L9/0866

    Abstract: 本发明公开了一种用于分别从关于电器件(3、12‑14)的一定数量的类型的测量数据的测量值(4、5、15‑17)生成加密密钥(7、18‑20)的方法,所述方法具有如下步骤:确定关于所述电器件(3、12‑14)的测量数据的类型中的每种类型的全局分布(30);计算所述全局分布(30)的区段(32‑39),使得测量值(4、5、15‑17)在各个区段(32‑39)中的出现概率恒定;而且基于所述电器件(3、12‑14)的测量值(4、5、15‑17)和与相应的测量值(4、5、15‑17)相对应的区段(32‑39),生成所述加密密钥(7、18‑20)。本发明还公开了一种相对应的设备和一种相对应的电系统。

    可调节的物理不可克隆函数

    公开(公告)号:CN108696350B

    公开(公告)日:2023-07-25

    申请号:CN201810297044.3

    申请日:2018-04-04

    Inventor: O.维勒斯

    Abstract: 本发明涉及可调节的物理不可克隆函数。本发明涉及一种由作为物理不可克隆函数的微机电系统(11a、12a)以及可控制的调节环节(11b、12b)构成的装置(11、12),作为对挑战的反应,所述微机电系统按照映射规则来输出应答,所述调节环节被设立为:按照控制指令来调节影响所述映射规则的周围环境参数。

    电子器件
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110301114A

    公开(公告)日:2019-10-01

    申请号:CN201880011365.0

    申请日:2018-01-23

    Inventor: O.维勒斯

    Abstract: 本发明涉及一种电子器件,所述电子器件构造为可靠平台模块和因此构造为独立组件,并且所述电子器件作为部件具有密码处理器(104)和微机电结构(108),所述微机电结构用于生成至少一个密钥。所述器件的性质对对所述微机电结构(108)的至少一个特性有影响。

Patent Agency Ranking