用于处理衬底组件的方法和晶片复合结构

    公开(公告)号:CN112103235A

    公开(公告)日:2020-12-18

    申请号:CN202010558889.0

    申请日:2020-06-18

    Abstract: 用于处理衬底组件的方法和晶片复合结构。提供用于处理具有半导体器件层的衬底组件的方法。方法可包括步骤:在衬底组件处布置辅助载体,使得辅助载体的连接表面和衬底组件的第一表面至少在一些位置处彼此直接邻接;通过熔化辅助载体的载体部分和直接邻接辅助载体的载体部分的衬底组件的衬底部分使得辅助载体和衬底组件仅在辅助载体和衬底组件的熔合部分中局部地熔合而将辅助载体固定地附接到衬底组件;以及处理衬底组件的半导体器件层,辅助载体固定地附接到衬底组件;其中熔合部分覆盖衬底组件的第一表面的至多20%。

    半导体装置和制造半导体装置的方法

    公开(公告)号:CN107393877B

    公开(公告)日:2020-03-24

    申请号:CN201710321166.7

    申请日:2017-05-09

    Abstract: 本发明涉及制造包括支撑元件的半导体装置的方法和包括支撑元件的半导体装置。一种半导体装置(1)在半导体衬底部分(102)中包括功率晶体管(200)。半导体衬底部分(102)包括中心部分(135)和切口(140),功率晶体管(200)的部件被布置在中心部分(135)中,中心部分(135)具有厚度d。半导体装置(1)还包括:支撑元件(352),沿水平方向延伸并且设置在中心部分(135)的主表面(110、120)上方。支撑元件(352)在与半导体衬底部分(102)的主表面(110、120)相邻的一侧具有宽度t并且具有高度h,其中垂直于支撑元件的延伸方向测量t,其中0.1xh≤d≤4xh并且0.1xh≤t≤1.5xh。

    接合垫结构
    10.
    发明授权

    公开(公告)号:CN107403779B

    公开(公告)日:2020-04-14

    申请号:CN201710357144.6

    申请日:2017-05-19

    Abstract: 一种接合垫结构包括覆于衬底上面的第一氧化物层。多个粘合结构被形成在第一氧化物层上方。第二氧化物层被形成在所述多个粘合结构和第一氧化物层上方。形成在第二氧化物层的表面区域内的多个接触器开口中的每个接触器开口包括一侧或多侧并且在所述多个粘合结构中的对应粘合结构的顶表面的至少一部分上方对准。在表面区域内形成阻挡层,该阻挡层在第二氧化物层上方并且在所述多个接触器开口内并且在所述多个粘合结构中的对应粘合结构的顶表面的至少一部分上方。金属层被形成在阻挡层上方。

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