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公开(公告)号：CN112985603B
公开(公告)日：2024-07-02
申请号：CN202110242820.1
申请日：2016-08-29
Applicant: 苹果公司
Abstract: 本公开涉及用于非接触式感测物质的基准开关架构。本发明涉及用于在采样界面处测量样本(620)中的物质的浓度和类型的系统(600)和方法。所述系统(600)包括光源(602)、一个或多个光学器件(606,610,612)、一个或多个调制器(634,636)、基准(608)、检测器(630)以及控制器(640)。所公开的所述系统和所述方法能够通过在不同的测量光路之间共享一个或多个部件来考虑源自所述光源、一个或多个光学器件和所述检测器的漂移。另外，通过在所述光源与所述样本或基准之间放置一个或多个调制器，所述系统能够区分不同类型的漂移并且消除因杂散光导致的错误测量。此外，通过将检测器像素和微光学器件映射到所述样本中的位置和深度，所述系统能够沿着所述样本内的各种位置和深度检测所述物质。
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公开(公告)号：CN116113808A
公开(公告)日：2023-05-12
申请号：CN202180058238.8
申请日：2021-07-29
Applicant: 苹果公司
IPC: G01J1/04
Abstract: 一种电磁辐射检测器包括：InP基板，该InP基板具有与第二表面相对的第一表面；第一InGaAs电磁辐射吸收器，该第一InGaAs电磁辐射吸收器堆叠在该第一表面上并被配置为吸收第一组电磁辐射波长；一组一个或多个缓冲层，该一组一个或多个缓冲层堆叠在该第一InGaAs电磁辐射吸收器上并且被配置为吸收该第一组电磁辐射波长中的至少一些电磁辐射波长；第二InGaAs电磁辐射吸收器，该第二InGaAs电磁辐射吸收器堆叠在该一组一个或多个缓冲层上并且被配置为吸收第二组电磁辐射波长；以及浸没式聚光透镜，该浸没式聚光透镜形成在该第二表面上并被配置为引导电磁辐射穿过该InP基板并将其导向该第一InGaAs电磁辐射吸收器和该第二InGaAs电磁辐射吸收器。
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公开(公告)号：CN113899452B
公开(公告)日：2024-04-19
申请号：CN202111169984.2
申请日：2017-04-13
Applicant: 苹果公司
Abstract: 本公开涉及用于参考切换的多路复用和编码。提供了用于测量样本的一个或多个属性的方法和系统。所述方法和系统可以包括与多个波长相关联的信号的多路复用测量，而不添加任何信号无关噪声并且不增加所述总测量时间。一个或多个编码级别，其中在一些示例中，某个编码级别可以嵌套在一个或多个其他编码级别内。多路复用可包括波长、位置和检测器状态多路复用。在一些示例中，可以基于一个或多个属性，包括但不限于信号强度、漂移属性、检测到的光功率、波长、一个或多个部件内的位置、所述光源的材料属性和电功率将一个或多个信号分组，从而增强SNR。在一些示例中，所述系统可以被配置为基于给定组的所述属性分别优化每个组的所述条件。
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公开(公告)号：CN109073462B
公开(公告)日：2021-09-24
申请号：CN201780025015.5
申请日：2017-04-13
Applicant: 苹果公司
Abstract: 提供了用于测量样本的一个或多个属性的方法和系统。所述方法和系统可以包括与多个波长相关联的信号的多路复用测量，而不添加任何信号无关噪声并且不增加所述总测量时间。一个或多个编码级别，其中在一些示例中，某个编码级别可以嵌套在一个或多个其他编码级别内。多路复用可包括波长、位置和检测器状态多路复用。在一些示例中，可以基于一个或多个属性，包括但不限于信号强度、漂移属性、检测到的光功率、波长、一个或多个部件内的位置、所述光源的材料属性和电功率将一个或多个信号分组，从而增强SNR。在一些示例中，所述系统可以被配置为基于给定组的所述属性分别优化每个组的所述条件。
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公开(公告)号：CN108449957A
公开(公告)日：2018-08-24
申请号：CN201680049893.6
申请日：2016-08-29
Applicant: 苹果公司
Abstract: 本发明涉及用于在采样界面处测量样本(620)中的物质的浓度和类型的系统(600)和方法。所述系统(600)包括光源(602)、一个或多个光学器件(606,610,612)、一个或多个调制器(634,636)、基准(608)、检测器(630)以及控制器(640)。所公开的所述系统和所述方法能够通过在不同的测量光路之间共享一个或多个部件来考虑源自所述光源、一个或多个光学器件和所述检测器的漂移。另外，通过在所述光源与所述样本或基准之间放置一个或多个调制器，所述系统能够区分不同类型的漂移并且消除因杂散光导致的错误测量。此外，通过将检测器像素和微光学器件映射到所述样本中的位置和深度，所述系统能够沿着所述样本内的各种位置和深度检测所述物质。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108027317B
公开(公告)日：2021-03-16
申请号：CN201680053017.0
申请日：2016-08-29
Applicant: 苹果公司
IPC: G01N21/27
Abstract: 本发明公开了用于参考方案的测量时间分布(1276,1277,1278)的方法和系统。本公开的方法和系统能够基于样本信号、参考对象信号、噪声水平和SNR动态地改变测量时间分布。该方法和系统被配置有多个测量状态，包括样本测量状态(1282)、参考对象测量状态(1284)和暗场测量状态(1286)。在一些示例中，测量时间分布方案可基于工作波长、采样界面处的测量位置和/或目标SNR。本发明的示例还包括用于同时测量不同测量状态的系统和方法。然而，系统和方法可包括高频检测器以消除或减小会降低SNR的去相关噪声波动。
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公开(公告)号：CN109073462A
公开(公告)日：2018-12-21
申请号：CN201780025015.5
申请日：2017-04-13
Applicant: 苹果公司
Abstract: 提供了用于测量样本的一个或多个属性的方法和系统。所述方法和系统可以包括与多个波长相关联的信号的多路复用测量，而不添加任何信号无关噪声并且不增加所述总测量时间。一个或多个编码级别，其中在一些示例中，某个编码级别可以嵌套在一个或多个其他编码级别内。多路复用可包括波长、位置和检测器状态多路复用。在一些示例中，可以基于一个或多个属性，包括但不限于信号强度、漂移属性、检测到的光功率、波长、一个或多个部件内的位置、所述光源的材料属性和电功率将一个或多个信号分组，从而增强SNR。在一些示例中，所述系统可以被配置为基于给定组的所述属性分别优化每个组的所述条件。
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公开(公告)号：CN107580673A
公开(公告)日：2018-01-12
申请号：CN201680005163.6
申请日：2016-01-08
Applicant: 苹果公司
CPC classification number: G01J5/0825 , G01J4/04 , G01J5/0225 , G01J5/0846 , G01J5/0853 , G01J5/20 , G01J2005/202
Abstract: 本发明涉及被配置为选择性地检测光的一个或多个频率或偏振，能够以宽动态范围进行操作的传感器系统、检测器、成像器和读出集成电路(ROIC)、或其任何组合。在一些示例中，该检测器可包括一个或多个光吸收器；可基于期望的测量波长范围和/或偏振方向来对光吸收器的图案和/或属性进行配置。在一些示例中，该检测器可包括多个至少部分地重叠的光吸收器，以用于增强的动态范围检测。在一些示例中，该检测器可能够通过改变响应时间或灵敏度以考虑各种通量水平来对一个或多个通量水平进行静电调谐。在一些示例中，该ROIC可能够动态地调整帧速率积分电容、以及照明源的功率中的至少一者。
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公开(公告)号：CN113899452A
公开(公告)日：2022-01-07
申请号：CN202111169984.2
申请日：2017-04-13
Applicant: 苹果公司
Abstract: 本公开涉及用于参考切换的多路复用和编码。提供了用于测量样本的一个或多个属性的方法和系统。所述方法和系统可以包括与多个波长相关联的信号的多路复用测量，而不添加任何信号无关噪声并且不增加所述总测量时间。一个或多个编码级别，其中在一些示例中，某个编码级别可以嵌套在一个或多个其他编码级别内。多路复用可包括波长、位置和检测器状态多路复用。在一些示例中，可以基于一个或多个属性，包括但不限于信号强度、漂移属性、检测到的光功率、波长、一个或多个部件内的位置、所述光源的材料属性和电功率将一个或多个信号分组，从而增强SNR。在一些示例中，所述系统可以被配置为基于给定组的所述属性分别优化每个组的所述条件。
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公开(公告)号：CN112985603A
公开(公告)日：2021-06-18
申请号：CN202110242820.1
申请日：2016-08-29
Applicant: 苹果公司
Abstract: 本公开涉及用于非接触式感测物质的基准开关架构。本发明涉及用于在采样界面处测量样本(620)中的物质的浓度和类型的系统(600)和方法。所述系统(600)包括光源(602)、一个或多个光学器件(606,610,612)、一个或多个调制器(634,636)、基准(608)、检测器(630)以及控制器(640)。所公开的所述系统和所述方法能够通过在不同的测量光路之间共享一个或多个部件来考虑源自所述光源、一个或多个光学器件和所述检测器的漂移。另外，通过在所述光源与所述样本或基准之间放置一个或多个调制器，所述系统能够区分不同类型的漂移并且消除因杂散光导致的错误测量。此外，通过将检测器像素和微光学器件映射到所述样本中的位置和深度，所述系统能够沿着所述样本内的各种位置和深度检测所述物质。
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