公开(公告)号：CN105008894A

公开(公告)日：2015-10-28

申请号：CN201480010598.0

申请日：2014-02-11

Applicant: 西门子公司

Inventor： A.M.吉格勒 ,  H.哈克斯坦 ,  R.帕斯图赛厄克 ,  K.威斯纳

IPC: G01N15/00 ,  G01N21/15 ,  G01N21/53 ,  G01N21/84 ,  G01N21/35 ,  G01N21/47 ,  G01N21/55 ,  G01N21/85

CPC classification number: G01N21/53 ,  G01N15/0205 ,  G01N15/0612 ,  G01N21/15 ,  G01N21/3554 ,  G01N21/3563 ,  G01N21/474 ,  G01N21/552 ,  G01N21/8507 ,  G01N33/24 ,  G01N2015/0096 ,  G01N2021/151 ,  G01N2021/3595 ,  G01N2021/536 ,  G01N2021/8411 ,  G01N2021/8528

Abstract: 本发明涉及一种具有光学传感器的粉尘管并涉及一种用于测量粉尘性能的方法。根据本发明的用于在自动化过程中输送粉尘的粉尘管包括至少一个用于监控粉尘性能的光学传感器。该光学传感器被布置在粉尘管的凹槽中，其中所述凹槽配有至少一个用于将粉尘从光学传感器去除的进气喷嘴。在本发明的用于在粉尘管中测量粉尘的性能的方法中，将粉尘输送穿过粉尘管。借助至少一个布置在粉尘管的凹槽中的光学传感器来测量粉尘的光学性能。最后借助至少一个布置在所述凹槽中的进气喷嘴通过吹入空气将粉尘从光学传感器中去除。

公开(公告)号：CN107567578A

公开(公告)日：2018-01-09

申请号：CN201580079389.6

申请日：2015-04-30

Applicant: 西门子公司

Inventor： A.M.吉格勒 ,  H.赫德勒 ,  R.帕斯图夏克 ,  A.希克

IPC: G01J3/02 ,  G02B21/00

CPC classification number: G01N21/63 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0229 ,  G01J3/0237 ,  G01N2201/0636 ,  G02B21/082 ,  G02B21/16 ,  G02B21/362 ,  G02B26/007 ,  G02B26/0833

Abstract: 本发明涉及一种辐射测量设备，其带有样本区域、用于照射能够定位在所述样本区域中的样本的照明单元和用于利用辐射探测器探测由样本发出的辐射的探测单元。照明单元具有辐射源、沿辐射方向布置在辐射源之后的用于将辐射分解为其光谱成分的第一色散元件、沿辐射方向布置在第一色散元件之后的用于选择光谱成分的第一微镜场，和沿辐射方向布置在第一微镜场之后的用于将被选择的光谱成分汇聚成共同的激励辐射的第二色散元件。本发明还涉及一种用于利用所述辐射测量设备测量光辐射的方法，其中，借助第一微镜场的单个微镜的激活和/或去激活来选择激励辐射的光谱组成。

公开(公告)号：CN205749199U

公开(公告)日：2016-11-30

申请号：CN201520747607.6

申请日：2015-09-24

Applicant: 西门子公司

Inventor： A.M.吉格勒 ,  H.哈克斯坦 ,  E.马戈里 ,  R.帕斯图夏克 ,  H.韦伯

IPC: G01N15/00 ,  G01N15/02 ,  G01N15/10

CPC classification number: G01N21/15 ,  G01N21/474 ,  G01N21/8507 ,  G01N2021/8592

Abstract: 一种用于测定颗粒物的化学和/或物理性能的测定装置(1)，具有至少一个用于光谱法测定颗粒物的光学检测探头，其中检测探头为了防止颗粒物入侵，可通过一闭锁保护机构(16‑19)暂时地锁闭，从而在检测探头(3)前面形成一封闭的腔(20)，而且在所述腔(20)中设有用于清洗和/或冷却所述腔(20)和/或光学检测探头的清洗装置和/或冷却装置。本实用新型还公开了一种具有所述测定装置的松散物料清除机。