公开(公告)号：CN205749199U

公开(公告)日：2016-11-30

申请号：CN201520747607.6

申请日：2015-09-24

Applicant: 西门子公司

Inventor： A.M.吉格勒 ,  H.哈克斯坦 ,  E.马戈里 ,  R.帕斯图夏克 ,  H.韦伯

IPC: G01N15/00 ,  G01N15/02 ,  G01N15/10

CPC classification number: G01N21/15 ,  G01N21/474 ,  G01N21/8507 ,  G01N2021/8592

Abstract: 一种用于测定颗粒物的化学和/或物理性能的测定装置(1)，具有至少一个用于光谱法测定颗粒物的光学检测探头，其中检测探头为了防止颗粒物入侵，可通过一闭锁保护机构(16‑19)暂时地锁闭，从而在检测探头(3)前面形成一封闭的腔(20)，而且在所述腔(20)中设有用于清洗和/或冷却所述腔(20)和/或光学检测探头的清洗装置和/或冷却装置。本实用新型还公开了一种具有所述测定装置的松散物料清除机。