电流探测装置
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108351373A

    公开(公告)日:2018-07-31

    申请号:CN201680059792.7

    申请日:2016-08-19

    Abstract: 本发明提供一种电流探测装置,将形成在反馈线圈上的屏蔽层形成为平坦的状态而防止绝缘层的龟裂,进而能够提高屏蔽层的饱和磁化。在基板(2)上形成有磁探测部(11、12、13、14)和覆盖它们的下部绝缘层(4)。在下部绝缘层(4)上形成有形成反馈线圈(30)的对置探测部(30a)的多条线圈层(35),在线圈层(35)的两侧形成有高度调整层(36、37)。线圈层(35)和高度调整层(36、37)被上部绝缘层(9)覆盖,在其上形成有屏蔽层(3)。因此,能够将屏蔽层(3)形成为大致平坦的状态。

    平衡式磁场检测装置
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108780131A

    公开(公告)日:2018-11-09

    申请号:CN201780015094.1

    申请日:2017-02-09

    Abstract: 在使用反馈线圈的平衡式磁场检测装置中,能够提高检测输出的线性并减少磁滞,而且能够提高检测灵敏度。设置有检测被测定磁场(H0)的磁检测部(11),根据该磁检测部(11)的检测输出而将抵消电流(Id1)赋予反馈线圈(30),并将抵消磁场(Hd)赋予磁检测部(11)。被测定磁场(H0)与抵消磁场(Hd)成为平衡状态时的线圈电流为检测输出。通过使多条磁阻效应元件(11a)与一条线圈导体(35)对置,能够提高检测输出的线性并减少磁滞,能够提高检测灵敏度。

    薄膜磁头的评价方法
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1819027A

    公开(公告)日:2006-08-16

    申请号:CN200610006811.8

    申请日:2006-02-07

    Abstract: 本发明提供一种可以高精度地评价薄膜磁头输出特性是否良好的方法。在具有将反铁磁性层、固定磁性层、非磁性导电层和自由磁性层层叠构成的旋转阀膜、以及与该旋转阀膜的磁道宽度方向的两侧相接触的硬偏磁膜的薄膜磁头中,首先,在磁道宽度方向上磁化硬偏磁膜(第一磁化工序),施加交流电场来测量磁头输出特性(第一次测量工序)。接着,在与磁道宽度方向正交的高度方向上磁化了硬偏磁膜后,至少执行一次在磁道宽度方向上磁化的处理,使该硬偏磁膜的磁化方向返回到磁道宽度方向(第二磁化工序)。接着,在与第一次测量工序相同的条件下施加交流电场来测量磁头输出特性(第二次测量工序)。并且,比较第一次与第二次的测量结果,判定磁头输出特性是否良好。

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