띠 형상체의 단부 위치 검출 장치 및 띠 형상체의 단부 위치 검출 방법
    1.
    发明公开
    띠 형상체의 단부 위치 검출 장치 및 띠 형상체의 단부 위치 검출 방법 有权
    用于检测条状体的端部位置的装置和用于检测条状体的末端位置的方法

    公开(公告)号:KR1020140016341A

    公开(公告)日:2014-02-07

    申请号:KR1020137027957

    申请日:2011-07-21

    CPC classification number: G01B11/028 G01B11/04

    Abstract: 본 발명에 관한 띠 형상체의 단부 위치 검출 장치는, 주행 중의 띠 형상체의 폭 방향에서의 양단의 위치 및 띠 형상체의 양단의 높이를 구한다. 단부 위치 검출 장치(100)는, 띠 형상체(2000)의 하방부터 띠 형상체에 광을 조사하는 제1 광원(110)과, 띠 형상체의 상방부터 띠 형상체의 표면에 대해 연직 방향으로 선형광을 조사하는 제2 광원(120)과, 띠 형상체의 표면을 촬상하는 촬상 장치(130)와, 제1 광원(110)으로부터 발하여지는 광으로부터 얻어지는 화상과, 제2 광원(120)으로부터의 반사광으로부터 얻어지는 화상으로부터 띠 형상체의 폭 방향에서의 띠 형상체의 단부의 위치 및 띠 형상체의 높이방향에서의 띠 형상체의 단부의 위치를 산출하는 단부 위치 산출 장치(140)로 이루어진다.

    띠 형상체의 단부 위치 검출 장치 및 띠 형상체의 단부 위치 검출 방법
    2.
    发明授权
    띠 형상체의 단부 위치 검출 장치 및 띠 형상체의 단부 위치 검출 방법 有权
    用于检测条状体的端部位置的装置和用于检测条状体的端部位置的方法

    公开(公告)号:KR101576875B1

    公开(公告)日:2015-12-11

    申请号:KR1020137027957

    申请日:2011-07-21

    CPC classification number: G01B11/028 G01B11/04

    Abstract: 본발명에관한띠 형상체의단부위치검출장치는, 주행중의띠 형상체의폭 방향에서의양단의위치및 띠형상체의양단의높이를구한다. 단부위치검출장치(100)는, 띠형상체(2000)의하방부터띠 형상체에광을조사하는제1 광원(110)과, 띠형상체의상방부터띠 형상체의표면에대해연직방향으로선형광을조사하는제2 광원(120)과, 띠형상체의표면을촬상하는촬상장치(130)와, 제1 광원(110)으로부터발하여지는광으로부터얻어지는화상과, 제2 광원(120)으로부터의반사광으로부터얻어지는화상으로부터띠 형상체의폭 방향에서의띠 형상체의단부의위치및 띠형상체의높이방향에서의띠 형상체의단부의위치를산출하는단부위치산출장치(140)로이루어진다.

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