Abstract:
실시예의 쓰레기 수거용 드론은 드론 몸체부와, 상기 드론 몸체부의 하부에 장착되어 영상을 수집하는 영상 수집부와, 상기 영상 수집부로부터 수집된 정보로부터 객체를 검출하는 객체 검출부와, 상기 드론 몸체부의 일측에 장착되어 상기 검출된 객체를 수거하는 객체 수거부를 포함할 수 있다. 실시예는 드론을 이용함으로써, 쓰레기를 보다 효과적으로 수거할 수 있는 효과가 있다.
Abstract:
본 발명은, 정공수송물질(HTM), 고체전해질용 고분자 및 액체전해질을 포함하는 준고체 고분자 전해질을 제공하며, 상기 준고체 고분자 전해질에 포함되는 신규한 정공수송물질을 제공한다. 또한, 본 발명은 상기 준고체 고분자 전해질을 포함하는 것을 특징으로 하는 염료감응 태양전지를 제공한다.
Abstract:
본 발명은 기판, 상기 기판 상에 구비된 제1 전극, 상기 제1 전극 상에 구비된 1층 이상의 유기물층, 상기 유기물층 상에 구비된 제2 전극, 및 상기 제2 전극 상부에 구비된 광 추출 층을 포함하는 유기 발광 소자 및 이의 제조방법을 제공한다. 본 발명에 따른 유기 발광 소자는 소자 내부에서 발생된 빛의 전반사를 최소화하여 최대한 외부로 끌어냄으로써 발광효율을 극대화할 수 있다.
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본 발명은 제1 전극, 2층 이상의 유기물층 및 제2 전극을 포함하는 유기발광소자로서, 상기 제1 전극은 도전층 및 상기 도전층과 접하는 n-형 유기물층을 포함하고, 상기 제1 전극의 n-형 유기물층과 상기 제2 전극 사이에 위치하는 유기물층 중 1층은 상기 제1 전극의 n-형 유기물층과 NP 접합을 형성하는 p-형 유기물층이며, 상기 층들의 에너지 준위가 하기 식 (1) 및 (2)를 만족하는 것을 특징으로 하고, 상기 p-형의 유기물층과 상기 제2 전극 사이에 위치하는 유기물층 중 1층 이상은 알칼리 토금속에 의하여 n-형 도핑된 것을 특징으로 하는 유기발광소자 및 이의 제조 방법을 제공한다. 0eV nL - E F1 ≤ 4eV (1) E pH - E nL ≤ 1eV(2) 상기 식 (1) 및 (2)에서, E F1 은 상기 제1 전극의 도전층의 페르미 에너지 준위이고, E nL 은 상기 제1 전극의 n-형 유기물층의 LUMO(lowest unoccupied molecular orbital) 에너지 준위이며, E pH 는 상기 제1 전극의 n-형 유기물층과 NP접합을 형성하는 p-형 유기물층의 HOMO(highest occupied molecular orbital) 에너지 준위이다.
Abstract:
컵 세척부가 구비된 정수기가 개시된다. 본 발명의 컵 세척부가 구비된 정수기는, 컵 투입구와 컵 배출구가 마련된 정수기 본체; 정수기 본체에 마련되어 컵 투입구를 통해 유입되는 컵을 세척 및 살균하는 컵 세척부; 및 컵 세척부에서 세척된 컵을 컵 배출구로 이동시키는 컵 승강부를 포함하고, 컵 투입구와 컵 배출구는 서로 다른 높이로 마련되고, 컵 승강부는 세척된 컵을 컵 배출구로 하강시키는 것을 특징으로 한다.
Abstract:
본 발명은 제1 특허 집합에 대한 특허 평가 요소값과 제2 특허 집합에 대한 특허 평가 요소값을 동시에 사용하여 평가 결과값을 생성하는 특허 평가 시스템 및 그 시스템의 특허 평가 정보 생성 방법에 관한 것이다. 본 발명의 상기 특허 평가 시스템은 (A) 적어도 하나 이상의 특허로 이루어진 제1 특허 집합에 대하여 적어도 하나 이상의 제1 특허 평가 요소값을 입수하는 단계; (B) 적어도 2 이상의 특허로 이루어진 적어도 하나 이상의 제2 특허 집합에 대하여 적어도 하나 이상의 제2 특허 평가 요소값을 입수하는 단계; 및 (C) 상기 제1 특허 평가 요소값과 상기 제2 특허 평가 요소값을 사용하는 기 설정된 적어도 하나 이상 평가 모델로 적어도 하나 이상의 단일 평가 대상에 대하여 적어도 하나 이상의 단일 평가 대상 평가 결과값을 생성하는 단계;를 포함하는 방식으로 정보 처리하는 것이 특징이다. 본 발명을 활용하면 신뢰성 높은 특허 평가 결과값을 생성할 수 있다.
Abstract:
본 발명은 국제 공통, 미국, 일본, 유럽의 고유 특허 분류 체계와 인덱스 분류 등과 같은 다른 분류 체계를 활용하여 니치 기술 영역을 효과적으로 탐색할 수 있도록 지원하고, 다수의 니치 평가 요소의 평가 요소값으로 니치 기술 영역을 다면적으로 분석할 수 있도록 지원하며, 니치 평가 기준값 및 니치 평가 요소값으로 니치 평가 모델을 생성하고, 생성된 니치 평가 모델로 니치 기술 영역을 평가하는 정보 처리 방법 및 정보 처리 시스템에 관한 것이다. 본 발명을 실시하면 니치 기술 영역을 탐색, 분석 및 평가할 수 있어, 니치 기술 영역을 효과적으로 발견할 수 있는 장점이 있다.