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1.发明授权탄소 나노 튜브 네트워크 트랜지스터의 금속성 및 반도체성 탄소 나노 튜브 비율 측정 장치, 방법, 및 상기 방법을 실행시키기 위한 컴퓨터 판독 가능한 프로그램을 기록한 매체 有权用于确定碳纳米管网络晶体管的半导体/金属碳纳米管的相对比例的装置和方法以及具有用于执行该方法的计算机可读程序的介质
公开(公告)号：KR101054309B1
公开(公告)日：2011-08-08
申请号：KR1020100053466
申请日：2010-06-07
Applicant: 고려대학교 산학협력단
IPC: H01L21/66
Abstract: PURPOSE: An apparatus for measuring the ratio of metallic and semiconductive CNT(Carbon Nanotube) in a carbon nanotube network transistor and a method thereof and media recording program for reading with a computer capable of implementing the method thereof are provided to quantitatively recognize the rate of the metallic and semiconductive CNT in a carbon nanotube network transistor with low cost and little time. CONSTITUTION: A transistor voltage measurement unit applies a predetermined voltage for measuring the resistance of a transistor in a bridge circuit and measures voltages between a source drain of each transistor in case the gate voltage of the transistor is applied or not. A carbon nanotube rate output unit produces the rate of the metallic and semiconductive CNT in the carbon nanotube network transistor using the rate of source drain voltage in the measured transistor and the preset relation between the rate of the metallic and semiconductive CNT in the carbon nanotube network transistor and the rate of the measured voltages.
Abstract translation: 目的：提供一种用于测量碳纳米管网络晶体管中的金属和半导体CNT（碳纳米管）的比例的方法及其方法和用于能够实现其方法的计算机进行读取的介质记录程序，以定量地识别 碳纳米管网络晶体管中的金属和半导体CNT，成本低，时间短。 构成：晶体管电压测量单元施加用于测量桥接电路中的晶体管的电阻的预定电压，并且在施加晶体管的栅极电压的情况下测量每个晶体管的源极漏极之间的电压。 碳纳米管速率输出单元使用所测量的晶体管中的源漏极电压的速率和碳纳米管网络中的金属和半导体CNT的速率之间的预设关系来产生碳纳米管网络晶体管中的金属和半导体CNT的速率 晶体管和测量电压的速率。
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公开(公告)号：KR101779162B1
公开(公告)日：2017-09-19
申请号：KR1020100139876
申请日：2010-12-31
Applicant: 엘지디스플레이 주식회사 , 고려대학교 산학협력단
Abstract: 본발명은유기발광다이오드패널의품질을검사하는방법에관한것으로서, 증착공정을마친유기발광다이오드패널에대한봉지공정수행전 또는그 이후에, 노이즈측정방법을이용한유기발광다이오드패널에대한검사공정을수행하여, 유기발광다이오드패널의품질을검사할수 있는, 유기발광다이오드패널검사방법을제공하는것을기술적과제로한다. 이를위해, 본발명에따른유기발광다이오드패널검사방법은, 유기발광다이오드패널의노이즈특성과수명과의상관관계에대한정보를포함하는룩업테이블을저장하는단계; 및증착공정이수행된유기발광다이오드패널에대하여노이즈를측정하며, 그결과를상기룩업테이블과비교하여, 상기유기발광다이오드패널의불량여부를판단하는단계를포함한다.
Abstract translation: 本发明是一种检查步骤，用于涉及一种方法，用于使用所述噪声测量方法检查所述有机光的质量发光二极管面板，前或用于有机发光进行封装发光二极管面板之后，在完成沉积过程中，所述有机发光二极管面板 提供了一种检查有机发光二极管面板的质量的方法。 对于这一点，根据本发明的有机发光二极管面板检查工序中，还包括：存储包含有关的有机发光二极管面板和寿命的关系的噪声特性的相关性信息的查找表; 并且测量已经执行了沉积工艺的有机发光二极管面板的噪声并且将结果与查找表进行比较以确定有机发光二极管面板是否有缺陷。
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Patent Agency Ranking3.发明授权임피던스 및 잡음 특성 동시 측정 시스템, 방법, 및 상기 방법을 실행시키기 위한 컴퓨터 판독 가능한 프로그램을 기록한 매체 有权同时测量阻抗和噪声特性的系统和方法，以及具有用于执行该方法的计算机可读程序的介质
公开(公告)号：KR101145267B1
公开(公告)日：2012-05-24
申请号：KR1020100036784
申请日：2010-04-21
Applicant: 고려대학교 산학협력단
Abstract: 임피던스 및 잡음 특성 동시 측정 시스템, 방법, 및 상기 방법을 실행시키기 위한 컴퓨터 판독 가능한 프로그램을 기록한 매체가 개시된다. 임피던스 및 잡음 특성 동시 측정 시스템은 전기 신호 인가부, 응답 신호 측정부, 임피던스 특성 산출부, 및 잡음 특성 획득부를 포함한다. 전기 신호 인가부는 측정 대상에 직류 및 미리 설정된 복수 주파수의 교류 전기 신호를 동시에 인가하고, 응답 신호 측정부는 측정 대상으로부터 인가한 전기 신호에 대한 응답 신호를 측정하고, 임피던스 특성 산출부는 미리 설정된 주파수 범위에 대해 응답 신호의 전류, 전압의 크기와 위상 차이를 이용하여 등가 모델로 제시된 각각의 임피던스 값을 산출하며, 잡음 특성 획득부는 응답 신호의 전력 중 직류 전기 신호로 인해 발생하는 잡음 전력만을 획득한다. 이와 같이, 측정 대상에 직류 및 복수 주파수의 교류 전기 신호를 동시에 인가하여 임피던스 특성과 잡음 특성을 구함으로써, 1차원 나노선과 같은 민감한 물질에 대해서도 적은 비용으로 빠르고 정확하게 임피던스 특성과 잡음 특성을 측정할 수 있게 된다.
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公开(公告)号：KR1020110083124A
公开(公告)日：2011-07-20
申请号：KR1020100003175
申请日：2010-01-13
Applicant: 고려대학교 산학협력단
IPC: C09K13/00
Abstract: PURPOSE: An etchant composition for Al2O3 is provided to selectively etch Al2O3 grown through atomic layer deposition and to ensure a simple process, stability, and profitability. CONSTITUTION: An etchant composition for Al2O3 comprises an amino-based silane solution and water. The amino-based silane solution and water are mixed in the volume ratio of 100: 0.01 - 100: 30. The amino-based silane solution is a mixture of an amino-based silane compound and a solvent and the concentration thereof is 50~99.99 wt%. The amino-based silane compound is a silane compound including an amino C1-6 alkyl group and C1-6 alkoxy group and the solvent is water.
Abstract translation: 目的：提供Al2O3的蚀刻剂组合物，以选择性地蚀刻通过原子层沉积生长的Al2O3，并确保简单的工艺，稳定性和盈利能力。 构成：Al2O3的蚀刻剂组合物包含氨基硅烷溶液和水。 氨基类硅烷溶液和水的体积比为100：0.01〜100：30。氨基类硅烷溶液为氨基类硅烷化合物与溶剂的混合物，浓度为50〜99.99 重量％。 氨基类硅烷化合物是包含氨基C 1-6烷基和C 1-6烷氧基的硅烷化合物，溶剂是水。
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公开(公告)号：KR1020120077791A
公开(公告)日：2012-07-10
申请号：KR1020100139876
申请日：2010-12-31
Applicant: 엘지디스플레이 주식회사 , 고려대학교 산학협력단
CPC classification number: H01L51/56 , G09G3/006 , H01L2227/326 , H01L2251/562 , H01L2251/568
Abstract: PURPOSE: An inspection method of an organic light emitting diode panel is provided to monitor the quality of an OLED(Organic Light Emitting Diode) panel in real time by inspecting an organic light emitting diode panel by using a noise measuring method. CONSTITUTION: Substrate preprocessing is performed through a substrate preprocessing unit(302). A prepared substrate is put into a deposition unit and a deposition process is performed(304). An OLED(Organic Light Emitting Diode) panel of an OLED display device is completed after an encapsulation process in an encapsulation unit(306). An inspection process is performed in the OLED panel through an inspection unit(308).
Abstract translation: 目的：提供有机发光二极管面板的检测方法，通过使用噪声测量方法检查有机发光二极管面板，实时监控OLED（有机发光二极管）面板的质量。 构成：通过基板预处理单元（302）进行基板预处理。 将制备好的衬底放入沉积单元中并执行沉积工艺（304）。 在封装单元（306）中的封装处理之后完成OLED显示器件的OLED（有机发光二极管）面板。 通过检查单元（308）在OLED面板中进行检查处理。
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7.发明公开임피던스 및 잡음 특성 동시 측정 시스템, 방법, 및 상기 방법을 실행시키기 위한 컴퓨터 판독 가능한 프로그램을 기록한 매체 有权用于同时测量阻抗和噪声特性的系统和方法，以及具有用于执行方法的计算机可读程序的介质
公开(公告)号：KR1020110117369A
公开(公告)日：2011-10-27
申请号：KR1020100036784
申请日：2010-04-21
Applicant: 고려대학교 산학협력단
Abstract: 임피던스 및 잡음 특성 동시 측정 시스템, 방법, 및 상기 방법을 실행시키기 위한 컴퓨터 판독 가능한 프로그램을 기록한 매체가 개시된다. 임피던스 및 잡음 특성 동시 측정 시스템은 전기 신호 인가부, 응답 신호 측정부, 임피던스 특성 산출부, 및 잡음 특성 획득부를 포함한다. 전기 신호 인가부는 측정 대상에 직류 및 미리 설정된 복수 주파수의 교류 전기 신호를 동시에 인가하고, 응답 신호 측정부는 측정 대상으로부터 인가한 전기 신호에 대한 응답 신호를 측정하고, 임피던스 특성 산출부는 미리 설정된 주파수 범위에 대해 응답 신호의 전류, 전압의 크기와 위상 차이를 이용하여 등가 모델로 제시된 각각의 임피던스 값을 산출하며, 잡음 특성 획득부는 응답 신호의 전력 중 직류 전기 신호로 인해 발생하는 잡음 전력만을 획득한다. 이와 같이, 측정 대상에 직류 및 복수 주파수의 교류 전기 신호를 동시에 인가하여 임피던스 특성과 잡음 특성을 구함으로써, 1차원 나노선과 같은 민감한 물질에 대해서도 적은 비용으로 빠르고 정확하게 임피던스 특성과 잡음 특성을 측정할 수 있게 된다.
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