公开(公告)号：KR101847411B1

公开(公告)日：2018-04-10

申请号：KR1020170030111

申请日：2017-03-09

Applicant: 서울대학교산학협력단 ,  국민대학교산학협력단

Inventor： 김형민 ,  박원철 ,  송시원

IPC: G01N21/552 ,  G01N21/17

CPC classification number: G01N21/553 ,  G01N21/1717 ,  G01N2021/1742

Abstract: 본발명은플렉서블한기판의표면에부착된시료에광을조사하여상기시료의정량분석을수행하는정량분석시스템및 정량분석방법에관한것이다. 본발명의일 실시예에따르면, 외측면의적어도일부분에상기기판이부착되며, 상기기판을지지하고일방향으로회전가능하도록제공되는지지부및 상기지지부와연결되어상기지지부를회전시키는구동부를가지는기판지지부재와전하는상기기판의표면에부착된상기시료에광을조사하는광부재와그리고기 광부재에서조사된상기광이상기시료에부딪히고난 뒤반사되는광을수신하여상기시료의정량분석을수행하는분석부재를포함하는정량분석시스템을포함한다.

公开(公告)号：KR101849606B1

公开(公告)日：2018-04-17

申请号：KR1020160057202

申请日：2016-05-10

Applicant: 국민대학교산학협력단

Inventor： 김형민 ,  박찬량 ,  이희수 ,  송시원 ,  조영호

IPC: G01J3/44 ,  G01N21/65 ,  G02B19/00 ,  G02B6/293

Abstract: 분광분석장치를제공한다. 분광분석장치는내부성분을분석하기위한시료를지지하기위한받침대, 시료의표면으로제1 광을조사시키는광원및 제1 광으로인해서시료로부터산란되는제2 광의경로상에배치되어제2 광의스펙트럼을수집하고시료의내부성분을검출하는검출부를포함하되, 시료로조사되는제1 광과시료로부터얻어지는제2 광이서로간섭되지않는다.

公开(公告)号：KR102166726B1

公开(公告)日：2020-10-16

申请号：KR1020190006802

申请日：2019-01-18

Applicant: 국민대학교산학협력단

Inventor： 김형민 ,  도영락 ,  송시원 ,  임수영

IPC: A61B5/00 ,  G01J1/02 ,  G01J1/60

公开(公告)号：KR1020170126748A

公开(公告)日：2017-11-20

申请号：KR1020160057202

申请日：2016-05-10

Applicant: 국민대학교산학협력단

Inventor： 김형민 ,  박찬량 ,  이희수 ,  송시원 ,  조영호

IPC: G01J3/44 ,  G01N21/65 ,  G02B19/00 ,  G02B6/293

CPC classification number: G01J3/4406 ,  G01N21/65 ,  G02B6/29389 ,  G02B19/0076

Abstract: 분광분석장치를제공한다. 분광분석장치는내부성분을분석하기위한시료를지지하기위한받침대, 시료의표면으로제1 광을조사시키는광원및 제1 광으로인해서시료로부터산란되는제2 광의경로상에배치되어제2 광의스펙트럼을수집하고시료의내부성분을검출하는검출부를포함하되, 시료로조사되는제1 광과시료로부터얻어지는제2 광이서로간섭되지않는다.

Abstract translation: 提供了一种光谱分析装置。 该分光分析装置包括：基座，用于支撑用于分析内部组件的样品;光源，用于将第一光照射到样品的表面;以及第二光，由于第一光而从样品散射， 以及检测器，用于检测样品的内部成分，其中从样品发射的第一光和从样品获得的第二光不相互干扰。