公开(公告)号：KR101483716B1

公开(公告)日：2015-01-16

申请号：KR1020130164850

申请日：2013-12-27

Applicant: 국민대학교산학협력단

Inventor： 김대환 ,  김동명 ,  이재욱 ,  장재만

IPC: H01L21/66 ,  H01L29/786

CPC classification number: H01L22/14 ,  H01L51/0512

Abstract: 광 응답 특성을 이용한 유기 박막 트랜지스터의 과잉 캐리어 수명 추출 방법 및 그 장치가 개시된다. 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 박막 트랜지스터의 과잉 캐리어 수명 추출 방법은 암실에서 유기 박막 트랜지스터의 게이트 전압에 따른 제1 드레인 전류를 측정하는 단계; 상기 유기 박막 트랜지스터에 미리 결정된 파장의 광을 조사하여 게이트 전압에 따른 제2 드레인 전류를 측정하는 단계; 상기 광을 오프시킨 후 상기 광의 오프 시간을 기준으로 상기 유기 박막 트랜지스터의 게이트 전압에 따른 제3 드레인 전류를 경과 시간별로 측정하는 단계; 상기 제1 드레인 전류 내지 상기 제3 드레인 전류에 기초하여 상기 유기 박막 트랜지스터의 상기 경과 시간별 문턱 전압(threshold voltage)의 차이를 계산하는 단계; 및 상기 계산된 상기 경과 시간별 상기 문턱 전압의 차이에 기초하여 상기 유기 박막 트랜지스터에 대한 복수의 과잉 캐리어 수명들을 추출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.

Abstract translation: 通过使用根据本发明的实施例的光学响应特性来提取有机薄膜晶体管的过剩载流子寿命的方法包括以下步骤：根据有机薄膜晶体管的栅极电压测量第一漏极电流 在暗室里 通过在暗室中向有机薄膜晶体管照射具有预定波长的光，根据栅极电压测量第二漏极电流; 根据有机薄膜晶体管的栅极电压，在经过的时间段之后，基于光关闭后的光的关闭时间来测量第三漏极电流; 基于所述第一至第三漏极电流计算所述有机薄膜晶体管的每个经过时间的阈值电压之间的差异; 以及基于计算出的每个经过时间的阈值电压之间的差异来提取有机薄膜晶体管的多个剩余载流子寿命。