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公开(公告)号：KR100590232B1
公开(公告)日：2006-06-19
申请号：KR1020040090390
申请日：2004-11-08
Applicant: 국방과학연구소
Abstract: 본 발명은 부경 외곽에 형성된 환형 거울과 주경으로 정렬 광학계를 구성하여 대구경 반사 망원경의 전체 광경로에 대한 광학적 정렬상태를 점검한다. 상기 환형 거울에서 반사된 광선의 광파면과 주경의 특정 대역 표면형상과 일치하도록 널 시스템으로 설계한다. 이와 같은 널 정렬 시스템은 부경 외곽에 환형의 소형 널 반사경을 사용하므로 전체적인 무게가 가벼울 뿐 아니라 외형도 줄어드는 장점이 있다.
대구경 반사 망원경, 광학 정렬, 널 광학계Abstract translation: 构成光学系统的本发明布置在环形反射镜和形成于外副镜的主反射镜，并检查光学对准为大直径反射器的整个光路中。 空系统被设计成与从环形镜反射的光束的光学波前和主镜的特定带表面形状一致。 这种零位对准系统在副镜的外周上使用环形小尺寸的无效反射器，从而减小了整体重量以及外观。
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公开(公告)号：KR1020020009226A
公开(公告)日：2002-02-01
申请号：KR1020000042784
申请日：2000-07-25
Applicant: 국방과학연구소
IPC: G02B7/182
Abstract: PURPOSE: A null lens optical system is provided to be easy to fabricate and to arrange an optical system when measuring a hyperboloid by making a surface receiving a ray of light flat. CONSTITUTION: Parallel rays of light from an interferometer are incident on an imaging lens(30). A field lens(31) makes an image of the imaging lens(30) formed on the hyperboloid of the object. A surface of the imaging lens on which the parallel rays of light are incident has a planed surface, and an opposite surface has a convex surface. A surface of the field lens on which the image of the imaging lens is incident has a concave surface, and an opposite surface has a convex surface. The imaging lens(30) and the field lens(31) are arranged so that a light axis(32) of the imaging lens(30) is identical to that of the field lens(31).
Abstract translation: 目的：提供一种零透镜光学系统，以便通过使表面接收光线平坦的方式测量双曲面时易于制造并布置光学系统。 构成：来自干涉仪的平行光线入射到成像透镜（30）上。 场透镜（31）使成像透镜（30）的图像形成在物体的双曲面上。 入射有平行光线的摄像透镜的表面具有刨面，并且相对面具有凸面。 摄像透镜的图像入射的场透镜的表面具有凹面，相对面具有凸面。 成像透镜（30）和场透镜（31）被布置成使得成像透镜（30）的光轴（32）与场透镜（31）的光轴相同。
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公开(公告)号：KR100355025B1
公开(公告)日：2002-10-11
申请号：KR1020000042786
申请日：2000-07-25
Applicant: 국방과학연구소
IPC: G02B7/182
Abstract: 본 발명은 간섭계를 사용하여 반사경 또는 렌즈 곡면의 형상을 비접촉식으로 측정하는 널 렌즈 광학계에 관한 것으로서, 특히 측정 대상 타원면에 광선을 2번 반사하게 함으로써 곡면의 형상 측정을 용이하도록 한 오목 타원면 거울 형상 측정용 널 렌즈 광학계에 관한 것이다.
본 발명인 오목 타원면 거울 형상 측정용 널 렌즈 광학계는 간섭계로부터 나오는 광선의 초점이 맺히는 부분에 있는 환형 거울과, 상기 환형 거울의 중심을 통과한 상기 광선을 측정 대상 타원면에 맺히게 하는 렌즈로 구성되고, 상기 환형 거울은 양면이 평면이고, 상기 렌즈와 대향하는 상기 환형 거울의 면이 반사 코팅된 것이고, 상기 렌즈의 양면은 오목한 구면인 것으로 구성된다. 본 발명은 제작 및 형상 측정이 용이하며, 타원면 측정시 광학계의 정렬을 용이하게 한다.-
公开(公告)号：KR101432123B1
公开(公告)日：2014-08-20
申请号：KR1020140032095
申请日：2014-03-19
Applicant: 국방과학연구소
IPC: H04N5/262
CPC classification number: H04N5/23238 , G06T3/0068 , G06T7/32 , G06T2207/10016 , G06T2207/20021 , H04N5/2628
Abstract: In a method for acquiring and processing an omnidirectional panorama image at a high update rate, each of first to fourth wide viewing angle sensors (10-1, 10-2, 10-3, 10-4), which covers each of four 90°sections divided from a 360° omnidirectional section, acquires six sectional images (1, 2, 3, 4, 5, 6) divided from a 95° section, and applies a weighting function to the six sectional images (1, 2, 3, 4, 5, 6) to convert the six sectional images (1, 2, 3, 4, 5, 6) into section continuous images (1-1, 1-2, 1-3, 1-4, 1-5, 1-6) without overlap sections through re-matching. Next, the weighting function is applied to sections overlapped among a total of four section continuous images to create a 360° panorama image (C) having no overlapped sections through the re-matching. Therefore, according to a scanning optical system (1) of the present embodiment, a higher-resolution image can be acquired at a higher rate in a simple structure when being compared with a scheme that a rotating device or a planar detector is used together with a sensor.
Abstract translation: 在用于以高更新率获取和处理全向全景图像的方法中，每个第一至第四宽视角传感器（10-1,10-2,10-3,10-4）覆盖四个90 从360°全向截面分割出的θ部分，获得从95°截面分割的六个截面图像（1,2,3,4,5,6），并对六个截面图像（1,2,3）施加加权函数 ，4,5,6）将六个截面图像（1,2,3,4,5,6）转换为区段连续图像（1-1,1-2,1-3,1-4,1-5 ，1-6），无重叠部分通过重新匹配。 接下来，将加权函数应用于在四个部分连续图像中重叠的部分，以通过重新匹配来创建没有重叠部分的360°全景图像（C）。 因此，根据本实施方式的扫描光学系统（1），当与将旋转装置或平面检测器一起使用的方案与以下方案进行比较时，可以以简单的结构以更高的速率获取更高分辨率的图像 一个传感器
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5.发明授权
公开(公告)号：KR101173227B1
公开(公告)日：2012-08-10
申请号：KR1020110108123
申请日：2011-10-21
Applicant: 국방과학연구소
IPC: G02B5/20
Abstract: PURPOSE: An infrared ray optical system for an infrared camera is provided to differently control light intensity transferred to an image sensor of front monitoring equipment according to each viewing direction of an image. CONSTITUTION: An image is imaged on the field stop location between a most back side lens(10) of an object unit and a most front side lens(20) of an imaging unit. A viewing direction transmission ratio control filter(30) reduce the quantity of light transferred to an image sensor of front monitoring equipment to desire level according to viewing direction of an image. An infrared ray optical system for an infrared camera comprises a sunlight filter reducing the quantity of light of a specific wavelength band.
Abstract translation: 目的：提供一种用于红外摄像机的红外线光学系统，以根据图像的每个观看方向不同地控制传输到前监视设备的图像传感器的光强度。 构成：图像被成像在物体单元的最后侧透镜（10）和成像单元的最前侧透镜（20）之间的场停止位置上。 观察方向传输比控制滤波器（30）根据图像的观看方向将传输到前监视设备的图像传感器的光量减少到期望水平。 一种用于红外线照相机的红外线光学系统包括减少特定波长带的光量的太阳光滤光器。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：KR1020020021177A
公开(公告)日：2002-03-20
申请号：KR1020000042786
申请日：2000-07-25
Applicant: 국방과학연구소
IPC: G02B7/182
Abstract: PURPOSE: A null lens system for measuring shape of an elliptic plane in a concave mirror is provided to easily measure a shape of a curved surface by reflecting light on an elliptic plane twice. CONSTITUTION: An interferometer(44) outputs a light(45). A ring shape mirror(40) is positioned at a part in which a focus of the light(45) from the interferometer(44) is formed. A lens(41) is passed through the light(45) which passed through a center of the ring shape mirror(40). The light(45) which passed through the lens(41) reflects from a measuring object-elliptic plane(42). The light of the interferometer(44) uses a light of a curved surface. A center of the ring shape mirror(45) is located at a focus of the light outputted by interferometer(44). The light passes through the lens(41) and reflects from the measuring object elliptic plane(42). The light reflecting from the measuring object elliptic plane(42) passes through the lens(41) again. The reflected light(45) passes through the lens(41) and focuses at the center of the ring shape mirror(40).
Abstract translation: 目的：提供一种用于测量凹面镜中的椭圆平面形状的零透镜系统，以便通过将光反射在椭圆平面上来两次来容易地测量曲面的形状。 构成：干涉仪（44）输出光（45）。 环形镜（40）位于形成有来自干涉仪（44）的光（45）的焦点的部分。 透镜（41）穿过穿过环形镜（40）的中心的光（45）。 穿过透镜（41）的光（45）从测量对象椭圆平面（42）反射。 干涉仪（44）的光使用弯曲表面的光。 环形镜45的中心位于由干涉仪（44）输出的光的焦点上。 光穿过透镜（41）并从测量对象椭圆平面（42）反射。 从测量物体椭圆平面（42）反射的光再次通过透镜（41）。 反射光（45）穿过透镜（41）并聚焦在环形镜（40）的中心。
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公开(公告)号：KR100453710B1
公开(公告)日：2004-10-20
申请号：KR1020020007769
申请日：2002-02-09
Applicant: 국방과학연구소
IPC: G01B11/30
CPC classification number: G01B11/25 , G01B9/02021
Abstract: A surface comparison apparatus for measuring surface characteristics of a specimen through which visible ray can not be transmitted comprises: a light source generating light having a predetermined wavelength; an optical device changing the light into collimated light; an irradiating unit for irradiating the collimated rays on both surfaces of a specimen which needs to be measured after dividing them into two paths and making the lights, which are reflected on both surfaces, be focused on opposite direction of the incident light after passing through the paths and be interfered with each other; and a display means for displaying the interfered lights which are made by interfering the reflected lights, and thereby, a parallelism or surface characteristics for both surfaces of the specimen can be measured simultaneously through an interference pattern which is obtained by dividing the light into two paths, irradiating the light on both surfaces of the specimen, and reflecting to be interfered with each other, and an interferometer can be constructed and aligned in a simple way.
Abstract translation: 一种用于测量通过其不可透射可见光线的样本的表面特性的表面比较设备，包括：产生具有预定波长的光的光源; 将光变成准直光的光学装置; 照射单元，用于在将被分割成两个路径之后的需要测量的样本的两个表面上照射准直光线，并且使在两个表面上反射的光在通过所述入射光之后的相反方向上聚焦 路径并互相干扰; 以及显示装置，用于显示通过干涉反射光而产生的干涉光，由此可以通过将光分成两个路径而获得的干涉图案同时测量样本两个表面的平行度或表面特性 ，照射样品两面的光线并反射互相干涉，可以简单的方式构造和对准干涉仪。
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公开(公告)号：KR100355026B1
公开(公告)日：2002-10-11
申请号：KR1020000042784
申请日：2000-07-25
Applicant: 국방과학연구소
IPC: G02B7/182
Abstract: 본 발명은 간섭계를 사용하여 반사경 또는 렌즈 곡면의 형상을 광학적 비접촉식으로 측정하는 널 렌즈 광학계에 관한 것으로서, 특히 광선을 입사 받는 면을 평면으로 함으로써 용이한 제작 및 쌍곡면 형상 측정시 광학계의 용이한 정렬을 가능하게 하는 오목 쌍곡면 거울 형상 측정용 널 렌즈 광학계에 관한 것이다.
본 발명인 오목 쌍곡면 거울 형상 측정용 널 렌즈 광학계는 상기 간섭계로부터 나오는 평행 광선이 입사되는 결상 렌즈와; 상기 결상 렌즈의 상이 입사되어 측정 대상 쌍곡면에 맺히게 하는 필드 렌즈로 구성되며, 상세하게는 상기 결상 렌즈가 상기 평행 광선이 입사하는 면은 평면이고, 상기 면의 반대면은 볼록한 구면으로 구성되고, 상기 결상 렌즈의 상이 입사하는 상기 필드 렌즈의 면은 오목한 구면이고, 상기 면의 반대면은 볼록한 구면으로 구성된다. 본 발명은 쌍곡면 형상 측정시 광학계의 정렬을 용이하게 하며, 상기 결상 렌즈의 두께에 무관한 성능을 지닌 널 렌즈 광학계를 제공한다.-
公开(公告)号：KR1020060041037A
公开(公告)日：2006-05-11
申请号：KR1020040090390
申请日：2004-11-08
Applicant: 국방과학연구소
Abstract: 본 발명은 부경 외곽에 형성된 환형 거울과 주경으로 정렬 광학계를 구성하여 대구경 반사 망원경의 전체 광경로에 대한 광학적 정렬상태를 점검한다. 상기 환형 거울에서 반사된 광선의 광파면과 주경의 특정 대역 표면형상과 일치하도록 널 시스템으로 설계한다. 이와 같은 널 정렬 시스템은 부경 외곽에 환형의 소형 널 반사경을 사용하므로 전체적인 무게가 가벼울 뿐 아니라 외형도 줄어드는 장점이 있다.
대구경 반사 망원경, 광학 정렬, 널 광학계-
公开(公告)号：KR1020030067993A
公开(公告)日：2003-08-19
申请号：KR1020020007769
申请日：2002-02-09
Applicant: 국방과학연구소
IPC: G01B11/30
CPC classification number: G01B11/25 , G01B9/02021
Abstract: PURPOSE: A surface measuring device and a method thereof are provided to measure parallel on both sides of a sample and the surface simultaneously and simply, and to arrange the optical system easily by irradiating parallel light on both surfaces of the sample and interfering with reflected light. CONSTITUTION: A surface measuring device comprises a light source(11) generating the same wavelength light; an optical unit converting light into a parallel ray; an irradiation and interference unit dividing parallel rays into two paths and irradiating to both sides of a sample(16), and interfering by focusing reflected rays opposite to the parallel rays through two paths; and a display unit(17) displaying interference rays from reflected rays for observation. The parallel on both sides of the sample and relative surfaces are measured conveniently at the same time.
Abstract translation: 目的：提供一种表面测量装置及其方法，用于同时且简单地在样品和表面的两侧平行测量，并且通过在样品的两个表面上照射平行光并干扰反射光而容易地布置光学系统 。 构成：表面测量装置包括产生相同波长光的光源（11）; 将光转换成平行光的光学单元; 照射和干涉单元将平行光线分成两条路径并照射到样品（16）的两侧，并且通过两条路径聚焦与平行光线相反的反射光线; 以及显示单元（17），其显示用于观察的反射光线的干涉光线。 同时方便地测量样品和相对表面两侧的平行。
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