公开(公告)号：KR101201835B1

公开(公告)日：2012-11-15

申请号：KR1020110009551

申请日：2011-01-31

Applicant: 국방과학연구소

Inventor： 손훈 ,  전승문 ,  박찬익

IPC: G01N29/09 ,  G01B17/04

Abstract: 본 발명은, 신호 계측부가 평판 구조물의 양면 상의 서로 대칭되는 위치에 부착된 제1 압전 센서(PZT sensor) 또는 제2 압전 센서를 가진하는 가진 단계와, 상기 가진된 제1 압전 센서 또는 제2 압전 센서에서 상기 제1 압전 센서 및 제2 압전 센서 간의 어드미턴스 신호 P를 측정하는 계측 단계와, 신호 분리부가 상기 측정된 어드미턴스 신호 P를 상대적인 진폭 및 위상에 따라 모드 신호 S
o
및 A
o
와 모드 변이 신호 MC로 각각 분리하는 신호 분리 단계와, 오차 산정부가 상기 분리된 모드 신호 S
o
및 A
o 와 모드 변이 신호 MC를 다시 어드미턴스 신호 P
e 로 재구성하고, 재구성된 어드미턴스 신호 P
e 와 상기 신호 분리부에서 측정된 어드미턴스 신호 P 간의 신호차 e를 산정하는 오차 산정 단계와, 손상 판정부가 상기 측정된 어드미턴스 신호 P 중에서 상기 산정된 신호차 e에 의해 발생된 에너지 값 E
e 과 상기 모드 신호 중에서 모드 변이에 의해 발생된 모드 변이 신호 MC의 에너지 값 E
c 을 산출하고, 상기 산출된 모드 변이 신호 MC의 에너지 값 E
c 이 상기 산출된 신호차 e에 의해 발생된 에너지 값 E
e 보다 크면 상기 평판 구조물에 손상이 존재하는 것으로 판정하는 모드 변이 판정 단계를 구성한다.

公开(公告)号：KR1020120088295A

公开(公告)日：2012-08-08

申请号：KR1020110009551

申请日：2011-01-31

Applicant: 국방과학연구소

Inventor： 손훈 ,  전승문 ,  박찬익

IPC: G01N29/09 ,  G01B17/04

CPC classification number: G01N29/09 ,  G01B17/04 ,  G01N29/2437 ,  G01N29/36 ,  G01N2291/018

Abstract: PURPOSE: A flat structure reference-free crack detecting method using impedance information is provided to accurately the existence of damages or cracks of a flat structure by utilizing the existence of mode modification signals separated from impedance signal itself. CONSTITUTION: A flat structure reference-free crack detecting method using impedance information is as follows. A signal measuring unit excites a first piezoelectric sensor or a second piezoelectric sensor attached to symmetrical positions on both surfaces of a flat plate structure(S110). Admittance signals between the first and second piezoelectric sensors being excited are measured(S120). A signal separating unit respectively separates the measured admittance signals into mode signals and mode modification signals according to relative amplitude and phase(S130). An error computation unit reconstructs the separated mode signals and mode modification signals as the admittance signals and calculates a signal difference between the reconstructed admittance signals and the admittance signals measured by signal separating unit(S140). A damage decision unit calculates an energy value generated by the calculated signal difference among the measured admittance signals and an energy value of the mode modification signals generated by mode modification among the mode signals. If the calculated energy value of the mode modification signal is larger than the energy value generated by the signal difference, damages are existed in the flat structure(S150).

Abstract translation: 目的：使用阻抗信息的平面结构无参考裂纹检测方法，通过利用与阻抗信号本身分离的模式修改信号的存在来准确地确定平面结构的损伤或裂纹的存在。 构成：使用阻抗信息的平面结构无参考裂纹检测方法如下。 信号测量单元激发安装在平板结构的两个表面上的对称位置的第一压电传感器或第二压电传感器（S110）。 测量被激励的第一和第二压电传感器之间的导纳信号（S120）。 信号分离单元根据相对振幅和相位分别将测得的导纳信号分离为模式信号和模式修改信号（S130）。 误差计算单元将分离模式信号和模式修改信号重建为导纳信号，并计算重建的导纳信号与由信号分离单元测量的导纳信号之间的信号差（S140）。 损伤判定单元计算由所测量的导纳信号之间的计算出的信号差产生的能量值和通过模式修改产生的模式修改信号的能量值。 如果模式修正信号的计算能量值大于由信号差产生的能量值，则在平面结构中存在损伤（S150）。