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公开(公告)号：KR1020160138124A
公开(公告)日：2016-12-02
申请号：KR1020167028627
申请日：2015-02-06
Applicant: 마이크로-엡실론 옵트로닉 게엠바하
Inventor： 오토,토비아스
CPC classification number: G01J3/14 , G01J3/0208 , G01J3/0256 , G01J3/18 , G01J3/22 , G01J3/2803 , G01J2003/1208
Abstract: 적어도하나의격자(1) 및적어도하나의프리즘(2)의조합을포함하는분광기로서, 소형의분광기를이루기위해, 적어도하나의프리즘(2)에서전반사가이용된다.
Abstract translation: 本发明涉及一种包括至少一个格栅（1）和至少一个棱镜（2）的组合的光谱仪，其特征在于，全反射用于在至少一个棱镜（2）中产生紧凑的光谱仪。
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公开(公告)号：KR1020120104268A
公开(公告)日：2012-09-20
申请号：KR1020127016795
申请日：2010-12-22
Applicant: 마이크로-엡실론 옵트로닉 게엠바하
Inventor： 스타우트메이스터,토르스텐 , 오토,토비아스
CPC classification number: G01S7/4814 , G01S17/06 , G01S17/88
Abstract: 측정 대상 물체의 거리, 위치, 및/또는 프로필을 광학적으로 측정하는 센서에 관한 발명. 상기 측정 대상 물체는 그 온도로 인해서 전자기 복사파를 방출하고, 본 발명의 센서는, 측정 대상 물체의 표면에 광을 조사하는 광원과, 측정 물체에서 반사되는 광을 검출하는 검출기를 가지며, 상기 전자기 복사파를 방출하는 물체에 대한 측정 능력에 있어서는, 광원에서 발생된 광의 파장이 상기 측정 대상 물체의 플랑크 복사 스펙트럼의 최고치보다 낮은 값에 해당하는 파장인 것을 특징으로 한다. 본 발명은 또한, 이에 상응하는 방법에 관한 것이다.
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公开(公告)号：KR101493310B1
公开(公告)日：2015-02-23
申请号：KR1020127016795
申请日：2010-12-22
Applicant: 마이크로-엡실론 옵트로닉 게엠바하
Inventor： 스타우트메이스터,토르스텐 , 오토,토비아스
CPC classification number: G01S7/4814 , G01S17/06 , G01S17/88
Abstract: 측정 대상 물체의 거리, 위치, 및/또는 프로필을 광학적으로 측정하는 센서에 관한 발명. 상기 측정 대상 물체는 그 온도로 인해서 전자기 복사파를 방출하고, 본 발명의 센서는, 측정 대상 물체의 표면에 광을 조사하는 광원과, 측정 물체에서 반사되는 광을 검출하는 검출기를 가지며, 상기 전자기 복사파를 방출하는 물체에 대한 측정 능력에 있어서는, 광원에서 발생된 광의 파장이 상기 측정 대상 물체의 플랑크 복사 스펙트럼의 최고치보다 낮은 값에 해당하는 파장인 것을 특징으로 한다. 본 발명은 또한, 이에 상응하는 방법에 관한 것이다.
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