Abstract:
PURPOSE: An intersection navigation system, which can prevent the falling of a driving unit when a hoist unit is passing through an intersection, is provided to enable the hoist unit to pass through the intersection by installing an auxiliary rail on a driving road. CONSTITUTION: An intersection navigation system comprises a hoist unit and a railway rail(120). The hoist unit transfers articles. The hoist unit travels on the railway rail. Intersection is formed in the railway rail. The hoist unit comprises a secondary traveling unit(140). The secondary traveling unit prevents the falling of the hoist unit when the hoist unit passes through intersection.
Abstract:
PURPOSE: An automatic resistance conversion apparatus of a test circuit and a method thereof are provided to convert resistance automatically by changing an average voltage by pulse width change by adjusting a switching on/off time at random. CONSTITUTION: A counting unit(100) counts a clock signal inputted from the external, and outputs the counting result as a parallel signal of K bit. A comparison unit(110) compares an output of the counting unit with a comparison input signal, and outputs the comparison result as a low level or high level signal. A reset control unit(120) outputs a reset signal by assembling the output of the comparison unit and the clock signal. A switching control unit(130) is reset in response to the reset signal, and generates a switching on/off signal in response to the counting result. And a resistance conversion unit(140) converts an output voltage corresponding to a desired resistance value in response to the switching on/off signal.
Abstract:
랜덤 잡음의 입력 레벨 캘리브레이션 방법이 개시된다. 이 방법은 입력 신호의 각 주파수 성분의 이득값을 역수를 취하는 (a)단계와, 역수가 취해진 데이타를 보상전의 입력신호의 각 주파수 성분에 적용하는 (b) 단계 및 (b)단계에서 보상된 입력 신호를 다시 소싱하여 캡쳐된 출력 신호를 처리하는 (c)단계를 구비하는 것을 특징으로 하고, 보상된 입력 랜덤 잡음의 레벨을 정확하게 캘리브레이션하여 신호 처리할 수 있도록 하는 효과가 있다.
Abstract:
An exhaust apparatus for manufacturing a semiconductor is provided to prevent damage of a semiconductor product by storing pollution material generated in a discharging process to a detachably storing unit. An exhaust apparatus for manufacturing a semiconductor includes an exhaust pipe(110), a storing unit, a first coupling member(120), and a second coupling member(220). The exhaust pipe exhausts an exhaust gas generated inside a semiconductor manufacturing facility to outside. The first coupling member is installed in both sides of a bottom surface of the exhaust pipe. The storing unit includes a storing vessel(210) and a storing jaw(230). The storing vessel has an opening, and is connected to the exhaust pipe. The exhaust gas is exhausted through the exhaust pipe. The storing jaw is arranged on a bottom of the storing vessel. The storing unit stores pollution material generated due to a chemical operation of the exhaust gas. The second coupling member is arranged in both sides of the storing vessel.
Abstract:
본 발명은 무선호출 서비스의 더 큰 채널 용량에 대한 필요성에 의하여 개발된 고속 페이징 프로토콜 사용시 수반되는 동기방식의 호데이터 송출장치의 구체적인 구현방안을 제시하기 위하여 고안된 것으로서, 기지국의 송신기 제어모듈이 GPS 수신기로부터 기준 되는 동기 펄스 신호인 1 PPS 신호 및 절대시간 정보와 클럭신호를 수신하고 이 신호들로부터 카운터를 제어하여 여러 전송속도를 가지는 정확한 데이터 송출 클럭 및 프레임 동기 신호를 발생시키는 회로와; 상기의 데이터 송출 클럭 및 프레임 동기 신호를 수신하고 현재의 메모리 상태를 고려하여 FIFO 메모리에 클럭을 가하는 다중화 및 제어 로직과, 상기 다중화 및 제어 로직으로부터 클럭을 받아 페이저로 데이터를 송출하는 FIFO 메모리를 사용하여 동기방식의 호데이터를 연속적으로 송출 가능케 하는 회로로 구성되어 있다.
Abstract:
테스트 회로의 자동 저항 변환 장치 및 방법이 개시된다. 본 발명에 따른 테스트 회로의 자동 저항 변환 장치는, 외부에서 입력된 소정의 클럭 신호를 카운팅하고, 카운팅된 결과를 K비트의 병렬 신호로서 출력하는 카운팅 수단, 카운팅 수단의 출력과 소정의 비교 입력 신호를 비교하고, 비교된 결과를 로우 또는 하이 레벨의 신호로서 출력하는 비교 수단, 비교 수단의 출력과 클럭 신호를 논리 조합하고, 논리 조합된 결과를 리셋 신호로서 출력하는 리셋 제어 수단, 리셋 신호에 응답하여 리셋되고, 카운팅된 결과에 응답하여 스위칭 온/오프 신호를 생성하는 스위칭 제어 수단, 및 스위칭 온/오프 신호에 응답하여 원하는 저항 값에 상응하는 출력 전압을 변화시키는 저항 변환 수단을 구비하는 것을 특징으로 하고, 펄스폭 변조를 이용하여 테스트 회로에서 요구되는 저항 값을 자동으로 변환할 수 있기 때문에 작업성을 높일 수 있을 뿐 아니라, 많은 저항 응용 회로에 적용할 수 있다는 효과가 있다.
Abstract:
종래에는 페이징 시스템에서 페이저에 무선호출 서비스를 제공함에 있어서 할당된 셀의 기지국에서 호데이타를 동시에 송출하는 과정에서, 호데이타의 송출시점에 대해 절대 시간 정보 등에 의하여 동기를 맞추는 과정이 송신기 제어기에서 수행되기 때문에, 호데이타를 송출함에 있어서 송신기에서 무선주파수로 변조시켜 신호를 발사하는데 소요되는 송신기 자체 지연 시간을 고려하지 않은 채 발사되었다. 그러나 본 발명에서는 페이징 기지국의 송신기 제어기에서 송신기로의 호데이타 송출시점을 조정하기 위하여, 송신기 제어기에 가해지는 기준 클럭 신호를 송신기 자체 처리시간만큼 앞당겨서 가해주는 회로를 부가하여 상기 문제를 해결하였다. 이로 인해 실제 송신기에서 발사되는 무선 데이타 신호가 본래 기준 클럭 신호에 동기 되어 모든 기지국에서의 호데이타 송출 시점이 항상 동시에 이루어질 수 있다.
Abstract:
본 발명은 복수 개의 칩 특성르 테스터로 측정한 상태에서 제1칩이 양품인가를 판단하는 제1칩 양품 판단스텝과, 상기 제1칩 양품 판단스텝에서 판단한 결과 제2 및 제 n칩이 양품인가를 판단하는 제2,n칩 양품 판단스텝과, 상기 2,n칩 양품 판단 스텝에서 판단한 결과 제2,n칩이 양품이면 제2,n칩을 양품으로 판정하는 제1판정 스텝과, 상기 제2,n칩 양품 판단 스텝에서 판단한 결과 제1칩만 양품이면 제2,n칩을 불량으로 판정하는 제2판정 스텝으로 이루어져, 복수 개의 칩 특성을 동시에 테스트하므로 인덱스 타임(테스트에 직접 관련이 없는 시간) 및 장비의 세팅 시간 등을 줄어 효과적으로 테스트 시간을 이용하여 생산성 향상을 도보하는 복수개의 반도체 칩 테스트 방법에 관한 것이다.
Abstract:
본 발명은 웨이퍼 상태에서 반도체 칩의 전기적 특성을 검사하여 양품 및 불량품을 선별하는 전기적인 다이 소팅의 검사방법에 관한 것이다.제품의 모든 전기적 특성을 검사하는 항목들에 대해 양품(Good) 및 불량품(Fail)의 여부를 판정하고 양품의 수를 계산하는 제1판정단계(11), 제1판정단계(11)에서 계산된 양품의 수와 사용자가 정한 기준수(N)와 비교하여 양품의 수가 기준수(N)보다 크면 다음단계로 진행하고 양품의 수가 기준수(N)보다 작으면 제1판정단계(11)를 진행하는 제1비교단계(12),제품의 전기적 특성중 불량이 주로 발생되는 항목들에 대해 양품 및 불량품의 여부를 판정하고 불량품의 수를 계산하는 제2판정단계(13)에서 계산된 불량품의 수와 사용자가 정한 기준수(N)와 비교하여 불량품의 수가 기준수(N)보다 크면 제1판정단계(11)를 진행하고 불 품의 수가 기준수(N)보다 작으면 제2판정단계(13)를 진행하는 제2비교단계(14)로 이루어진다.
Abstract:
PURPOSE: A hoist is provided to protect an object, such as a receiving container and a received material from external shock and vibration and improve the durability of a hoist belt by dispersing the load of the object to an object support member. CONSTITUTION: A hoist comprises a traveling part (10), a rotating part (20), a lifting part (30), and an object support member (40). The traveling part travels along a transfer path. The rotating part is installed on the traveling part and rotates around the traveling part. The lifting part is lifted to the rotating part, and an object (1) is loaded thereon. The object support member is installed on the traveling part and has a receiving space and one or more object support parts (41). The receiving space receives the object therein. The object support parts support the object rotated by the rotating part.