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    리모콘 및 그 작동방법, 그리고 리모콘에 의해 제어되는 영상디스플레이장치
    8.
    发明公开
    리모콘 및 그 작동방법, 그리고 리모콘에 의해 제어되는 영상디스플레이장치 无效
    远程控制器及其操作方法，远程控制器控制的图像显示设备

    公开(公告)号：KR1020100054032A

    公开(公告)日：2010-05-24

    申请号：KR1020080112958

    申请日：2008-11-13

    Applicant: 삼성전자주식회사

    Inventor： 엄주일 ,  한재욱 ,  이종호 ,  박진선 ,  이석재

    IPC: H04Q9/04

    CPC classification number: H04N5/4403 ,  A63F13/00 ,  G08C17/00 ,  G08C2201/30 ,  H04N5/44513 ,  H04N5/44591 ,  H04N5/45 ,  H04N21/42206 ,  H04N21/42222 ,  H04N21/4316 ,  H04N2005/4428 ,  H04N2005/4432 ,  H04N2005/4442

    Abstract: PURPOSE: A remote control and a display device controlled with the remote control are provided to change an action mode of a controlled device according to separation of the remote control. CONSTITUTION: The first remote control unit(110) includes a connector unit(111), a transmitting unit(112), a keypad unit(113), a control unit(114), a sensor unit(115) and a counter(116). If the first remote control unit and the second remote control unit are combined, the first control unit(114-1) controls operation of a video display device(200) in a normal mode. If the first remote control unit and the second remote control unit are separated, the first control unit controls operation of the video display device in a competitive mode.

    Abstract translation: 目的：提供用遥控器控制的遥控器和显示设备，以根据遥控器的分离改变受控设备的动作模式。 构成：第一遥控单元（110）包括连接器单元（111），发送单元（112），键盘单元（113），控制单元（114），传感器单元（115）和计数器 ）。 如果第一遥控单元和第二遥控单元组合，则第一控制单元（114-1）以正常模式控制视频显示设备（200）的操作。 如果第一遥控单元和第二遥控单元分离，则第一控制单元以竞争模式控制视频显示设备的操作。

    이디에스 설비에 구비된 프로브 척
    9.
    发明公开
    이디에스 설비에 구비된 프로브 척 无效
    探测器安装在EDS设备中

    公开(公告)号：KR1020030001842A

    公开(公告)日：2003-01-08

    申请号：KR1020010037649

    申请日：2001-06-28

    Applicant: 삼성전자주식회사

    Inventor： 박진선

    IPC: H01L21/66

    Abstract: PURPOSE: A probe chuck installed in EDS(Electrical Die Sorting) equipment is provided to improve an absorbing state between a wafer and a probe chuck by reducing a lowering phenomenon of a vacuum pressure. CONSTITUTION: A plurality of vacuum lines(200) are formed on an upper surface of a probe chuck. Two vacuum holes(210) are formed on each vacuum line(200). A pressure of vacuum is not reduced rapidly through the vacuum holes(210) are partially blocked or narrowed by alien substances since two vacuum holes(210) are formed on each vacuum line(200). The vacuum holes(210) are symmetrically formed on the vacuum line(200). A state of vacuum can be uniformly formed between a wafer and the vacuum lines(200). An EDS test can be stably performed since the wafer is adhered on the probe chuck without a movement.

    Abstract translation: 目的：设置安装在EDS（电动模具分类）设备中的探头卡盘，以通过减少真空压力的降低现象来改善晶片和探针卡盘之间的吸收状态。 构成：在探针卡盘的上表面上形成多个真空管线（200）。 在每个真空管线（200）上形成两个真空孔（210）。 由于在每个真空管线（200）上形成两个真空孔（210），真空孔（210）被外来物质部分堵塞或变窄，所以真空压力不会迅速降低。 真空孔（210）对称地形成在真空管线（200）上。 可以在晶片和真空管线（200）之间均匀地形成真空状态。 可以稳定地执行EDS测试，因为晶片被附着在探针卡盘上而没有移动。

    반도체 테스트 헤드의 퍼포먼스 보드 픽싱 프레임
    10.
    发明公开
    반도체 테스트 헤드의 퍼포먼스 보드 픽싱 프레임 失效
    半导体测试头的性能板采摘框架

    公开(公告)号：KR1019990074647A

    公开(公告)日：1999-10-05

    申请号：KR1019980008364

    申请日：1998-03-12

    Applicant: 삼성전자주식회사

    Inventor： 박진선 ,  차명식

    IPC: H01L23/48

    Abstract: 본 발명은 퍼포먼스 보드를 파지하는 돌출단턱을 설치하여 퍼포먼스 보드의 픽싱을 용이하게 하는 반도체 테스트 헤드의 퍼포먼스 보드 픽싱 프레임에 관한 것이다.
    본 발명에 따른 반도체 테스트 헤드의 퍼포먼스 보드 픽싱 프레임은, 웨이퍼 상에 형성된 칩의 전기적인 특성을 검사하기 위하여 테스터(Tester)에서 발생한 전기적인 신호를 프로브카드(Probe Card)에 전달하는 퍼포먼스 보드(Performance Board)가 테스트 헤드에 장착되도록 일측은 상기 테스트 헤드에 힌지고정되어 여닫이가 가능하고, 다른 일측은 손잡이와 연결된 스토퍼에 걸림체결이 가능하여 상기 테스트 헤드에 상기 퍼포먼스 보드를 픽싱(Fixing)시키는 반도체 테스트 헤드의 퍼포먼스 보드 픽싱 프레임(Fixing Frame)에 있어서, 상기 픽싱 프레임의 상측 및 하측에 각각 상기 퍼포먼스 보드의 상하 테두리가 끼이도록 상하 서로 대향하는 오목홈이 각각 형성된 돌출단턱을 형성하는 것을 특징으로 한다.
    따라서, 포퍼먼스 보드의 장착이 용이하고, 부품의 파손을 구조적으로 방지하며, 퍼포먼스 보드의 견고한 장착을 가능하게 하는 효과를 갖는다.

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