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公开(公告)号：KR100296245B1
公开(公告)日：2001-08-07
申请号：KR1019980021662
申请日：1998-06-11
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: H01L21/66
Abstract: 본 발명은 반도체 디바이스 자동 테스트용 핸들러 시스템에 관한 것으로서, 캐비닛의 상부면에 테스트 트레이가 반송 가능하게 배치되고, 캐비닛의 중간부분에는 다수의 트레이와 유저 트레이가 적재되는 스톡커가 마련되며, 스톡커 상부에는 트레이 및/또는 유저 트레이를 그리퍼로 운반시킬 수 있도록 수평 및 수직방향으로 이송하는 트랜스퍼가 위치되고, 캐비닛의 상부에는 트레이에 탑재되어 있는 디바이스를 픽업하여 테스트 트레이로 이동시키기 위한 로더 픽 앤 플레이스와 테스트 트레이에 탑재된 디바이스를 다시 유저 트레이에 대해 카테고리별로 탑재시키는 언로더 픽 앤 플레이스로 된 픽 앤 플레이스가 설치되며, 이 픽 앤 플레이스 양측에는 디바이스를 예열시키고 예열된 디바이스를 환원시키기 위해 침투 및 비투침 챔버가 위치되고, � ��비닛에는 비투침 챔버를 통과한 디바이스를 테스트하는 테스터 및 침투 챔버의 온도를 자동으로 제어하는 제어반이 각각 설치됨으로써, 트레이 및 유저 트레이의 투입 및/또는 추출시 발생되는 번거로움과 품질의 훼손을 미연에 방지할 수 있고, 특히 핸들러 시스템의 구조를 단순화할 수 있을 뿐만 아니라, 제작비용이 최소로 절감되는 효과를 얻을 수 있다.
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公开(公告)号：KR200129439Y1
公开(公告)日：1998-12-15
申请号：KR2019950030460
申请日：1995-10-26
Applicant: 삼성전자주식회사
Inventor： 심재균
IPC: G11B7/22
Abstract: 본 고안은 금속소재의 와이어를 흡착하는 흡착노즐에 관한 것으로, 특히 상당히 작은 직경의 금속 와이어를 흡착하는데 적합하게 사용될 수 있는 금속와이어 흡착노즐에 관한 것이다.
본 고안에 따른 금속와이어 흡착노즐은, 제작시에 노즐 본체에 미세한 직경의 관통공을 직접 가공하는 어려운 작업이 삭제될 수 있으므로, 제작비용이 절감될 수 있을 뿐만 아니라 전체적인 작업성이 향상되게 된다.-
公开(公告)号：KR2019980061251U
公开(公告)日：1998-11-05
申请号：KR2019970005457
申请日：1997-03-22
Applicant: 삼성전자주식회사
Inventor： 심재균
IPC: H01L21/66
Abstract: 본 고안은 반도체 디바이스 테스트용 핸들러에 관한 것이다. 본 고안에 따른 반도체 디바이스 테스트용 핸들러는 피측정 디바이스(2)를 탑재한 테스트 트레이(1)가 벨트 컨베어(5)의 구동에 의하여 공급부로부터 테스트 헤드부로 반송되어, 테스트 헤드부에서 피측정 디바이스를 측정하도록 테스트 헤드부에서 상기 테스트 트레이의 위치를 결정하기 위한 스토퍼(3)에 의하여 테스트 헤드부에서 정지되며, 피측정 디바이스(2)를 테스트 헤드부로부터 배출부로 반송한다. 상기 스토퍼(3)는 벨트 컨베어(5)에 인접한 컨베어 측벽(4)에 설치된 에어 실린더(6)의 피스톤에 설치되며, 상기 에어 실린더(6)는 내열성 튜브(7)에 의하여 에어를 공급받는 것을 특징으로 한다.
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公开(公告)号：KR100349942B1
公开(公告)日：2002-08-24
申请号：KR1020000066867
申请日：2000-11-10
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: H01L21/66
Abstract: 램버스타입의 반도체 디바이스를 자동으로 테스트할 수 있는 테스트 핸들러가 개시된다. 개시된 본 발명은, 테스트할 또는 테스트된 반도체 디바이스가 담긴 유저트레이를 다수 적재하는 유저트레이 스택커와, 공급위치의 유저트레이에서 디바이스를 픽업하여 로딩위치에 있는 보트에 안착시키는 디바이스 로딩부와, 디바이스 로딩부로 부터 인입된 보트상의 디바이스를 테스트조건에 따라 가열하거나 냉각시키는 예열챔버와, 예열된 디바이스를 테스트소켓에 접속시켜 테스트를 행하는 테스트챔버와, 테스트챔버에서 하단으로 인입된 보트를 순차적으로 상승시키며 테스트완료된 디바이스를 상온으로 회복시켜 상단으로 배출하는 회복챔버와, 회복챔버에서 배출된 보트에서 테스트완료된 디바이스를 픽업하여 테스트결과에 따라 복수의 이동버퍼의 일정영역에 적재하는 디바이스 분류부, 및 이동버퍼상의 디바이스를 등급별로 구분된 � ��저트레이에 담는 디바이스 언로딩부를 포함한다. 또한, 디바이스 로딩부와 디바이스 분류부에 사용되는 가변핸드, 테스트 챔버의 커택트 픽커 조립체 및 그 위치가이드수단이 개시된다.
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公开(公告)号：KR1020010060303A
公开(公告)日：2001-07-06
申请号：KR1020000066867
申请日：2000-11-10
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: H01L21/66
CPC classification number: B65G47/911 , B65G47/918
Abstract: PURPOSE: A RAMBUS handler is provided to improve the reliability of a test by automatically testing a RAMBUS type semiconductor device, such as a PGA or CSP. CONSTITUTION: A RAMBUS handler comprises a user tray stacker(100) for stacking user trays in which devices are loaded. A device loading section(200) having two row varying hands(210) is provided to pick-up a device from the user tray(10) so as to convey the device to a boat provided in a loading position. A pre-heating chamber(300) is provided to sequentially descend the boat conveyed from the device loading section(200) to the inlet formed in an upper portion. The pre-heating chamber(300) heats or cools the boat based on the test conditions thereof. A test chamber(400) is provided to perform the test by connecting the pre-heated device to a socket of a test head. A recovery chamber(500) is provided to sequentially lift the boat. The device is withdrawn to the upper portion by the recovery chamber(500). A device dividing section(600) having a plurality of one-row varying hand(640) is provided to pick-up the device from the boat which is withdrawn from the recovery chamber(500). A device unloading section(700) is provided to load the device into the user tray.
Abstract translation: 目的：提供RAMBUS处理程序，以通过自动测试RAMBUS型半导体器件（如PGA或CSP）来提高测试的可靠性。 构成：RAMBUS处理器包括用于堆叠其中加载设备的用户托盘的用户托盘堆叠器（100）。 提供具有两个行可变手（210）的装置装载部分（200）以从用户托盘（10）拾取装置，以便将装置传送到设置在装载位置的船。 提供预热室（300）以便将从装置装载部分（200）运送的船舶顺序地下降到形成在上部的入口。 预热室（300）根据其试验条件加热或冷却船。 提供测试室（400）以通过将预热装置连接到测试头的插座来执行测试。 提供回收室（500）以依次提升船。 装置通过回收室（500）被抽出到上部。 设有具有多个单列可变手（640）的装置分割部（600），以从从回收室（500）中取出的船上取出装置。 提供装置卸载部分（700）以将装置装载到用户托盘中。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：KR200197283Y1
公开(公告)日：2000-09-15
申请号：KR2020000010673
申请日：2000-04-15
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: H01L21/66
Abstract: 본 고안은 반도체 디바이스간의 간격을 가변시키며, 1회에 16개의 반도체 디바이스를 픽앤플래이스할 수 있는 가변핸드를 개시하고 있다. 개시된 본 고안은 핸드프레임과, 핸드프레임에 고정된 제 1 안내봉과, 제 1 안내봉에 끼워져 미끄럼운동을 하는 복수의 픽업블록과, 핸드프레임에 대하여 승강됨으로서 제 1 안내봉에 대하여 복수의 픽업블록의 간격을 변화시키는 제 1 간격가변수단과, 핸드프레임에 설치된 폭간격조정수단과, 폭간격조정수단에 고정된 제 2 안내봉과, 제 2 안내봉에 끼워져 미끄럼운동을 하는 복수의 픽업블록과, 핸드프레임에 대하여 승강됨으로서 제 2 안내봉에 대하여 복수의 픽업블록의 간격을 변화시키는 제 2 간격가변수단을 포함한다.
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公开(公告)号：KR100208071B1
公开(公告)日：1999-07-15
申请号：KR1019970010169
申请日：1997-03-25
Applicant: 삼성전자주식회사
Inventor： 심재균
IPC: B65G43/00
Abstract: 본 발명은 반도체 디바이스 테스트용 핸들러 시스템의 벨트 컨베어에 관한 것이다. 반도체 디바이스 테스트용 핸들러 시스템의 벨트 컨베어는 피측정 디바이스를 탑재한 테스트 트레이를 공급부로부터 테스트 헤드부로, 그리고 테스트 헤드부로부터 배출부로 반송시키도록 일정 거리 떨어져 서로 평행하게 연장한다. 컨베어 벨트(1)는 벨트(1)들 사이를 가로질러 프레임(3)에 연결되는 다수의 스테이 바(5)가 루프 형상을 가지는 벨트(1)의 외부에 위치되며, 벨트(1)의 장력을 유지시켜주도록, 각각의 스테이 바(5)를 중심으로 한 쌍의 아이들 롤러(6)가 벨트(1)의 외면에 접촉되도록 설치되는 것을 특징으로 하는 한다.
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公开(公告)号：KR200172738Y1
公开(公告)日：2000-03-02
申请号：KR2019970005457
申请日：1997-03-22
Applicant: 삼성전자주식회사
Inventor： 심재균
IPC: H01L21/66
Abstract: 본 고안은 반도체 디바이스 테스트용 핸들러에 관한 것이다. 본 고안에 따른 반도체 디바이스 테스트용 핸들러는 피측정 디바이스(2)를 탑재한 테스트 트레이(1)가 벨트 컨베어(5)의 구동에 의하여 공급부로부터 테스트 헤드부로 반송되어, 테스트 헤드부에서 피측정 디바이스를 측정하도록 테스트 헤드부에서 상기 테스트 트레이의 위치를 결정하기 위한 스토퍼(3)에 의하여 테스트 헤드부에서 정지되며, 피측정 디바이스(2)를 테스트 헤드부로부터 배출부로 반송한다. 상기 스토퍼(3)는 벨트 컨베어(5)에 인접한 컨베어 측벽(4)에 설치된 에어 실린더(6)의 피스톤에 설치되며, 상기 에어 실린더(6)는 내열성 튜브(7)에 의하여 에어를 공급받는 것을 특징으로 한다.
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