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公开(公告)号：KR1019970048563A
公开(公告)日：1997-07-29
申请号：KR1019950068621
申请日：1995-12-30
Applicant: 삼성전자주식회사 , 페어차일드코리아반도체 주식회사
Abstract: 본 자동테스트장치는 반도체 제품중 전원안정화(Regulator)집적회로의 전기적인 특성을 자동으로 테스트하기 위한 것으로써, 본 장치는 전원안정화 집적회로에 대한 전기적인 특성을 자동으로 검사하기 위한 프로그램을 구비하고 있는 제어부;제어부에 의해 제어되어 전원안정화 집적회로를 테스트하기 위해 필요한 정전압과 정전류를 제공하기 위한 DC소스부; 제어부에 의해 제어되어 전원안정화 집적회로에 구비되어 있는 다수의 핀중 테스트를 원하는 핀을 설정하기 위한 제어비트를 제공하기 위한 제어비트 제공부; 전원안정화 집적회로의 테스결과를 측정하는 볼트 측정부; 제어부가 전원안정화 집적회로를 테스트하기 위해 전송한 데이타를 DC소스부 및 제어비트 제공부로 전송하고, 볼트 측정부에서 측정된 결과를 제어부로 전송하기 위한 입출력 인터페이스부를 포함하도록 구성된다.
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：KR100180308B1
公开(公告)日：1999-04-01
申请号：KR1019950068621
申请日：1995-12-30
Applicant: 삼성전자주식회사 , 페어차일드코리아반도체 주식회사
Abstract: 본 자동테스트장치는 반도체 제품중 전원안정화(Regulator)집적회로의 전기적인 특성을 자동으로 테스트하기 위한 것으로써, 본 장치는 전원안정화 집적회로에 대한 전기적인 특성을 자동으로 검사하기 위한 프로그램을 구비하고 있는 제어부;제어부에 의해 제어되어 전원안정화 집적회로를 테스트하기 위해 필요한 정전압과 정전류를 제공하기 위한 DC소스부; 제어부에 의해 제어되어 전원안정화 집적회로에 구비되어 있는 다수의 핀중 테스트를 원하는 핀을 설정하기 위한 제어비트를 제공하기 위한 제어비트 제공부; 전원안정화 집적회로의 테스결과를 측정하는 볼트 측정부; 제어부가 전원안정화 집적회로를 테스트하기 위해 전송한 데이타를 DC소스부 및 제어비트 제공부로 전송하고, 볼트 측정부에서 측정된 결과를 제어부로 전송하기 위한 입출력 인터페이스부를 포함하도록 구성된다.
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公开(公告)号：KR100180304B1
公开(公告)日：1999-04-01
申请号：KR1019950068622
申请日：1995-12-30
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: G01R31/3183 , G01R31/26 , H01L21/66
Abstract: 본 발명은 선형의 반도체 칩에 다양한 오디오 신호를 가하여 그에 대한 응답을 측정함으로써, 반도체 칩의 기능의 정상 유/무 및 반도체 자체의 성능을 자동으로 평가할 수 있는 데이터를 발생시키는 오디오 신호 발생 제어회로에 관한 것인바, 그 특징은 사용자와 연결되어 반도체를 자동 시험하기 위해 원하는 조건의 오디오 또는 교류신호를 발생시키는 지령을 내리기 위한 제어수단과, 상기 제어수단과 주소 및 데이터 버스로 연결되어 지령에 따른 주소와 주기 데이터를 분석하고 카운트하여 분석 및 카운트 결과에 따라 주파수를 증가시키거나 주소를 회전시켜 메모리에 임의의 파형 데이터를 기록하거나 읽어 자동 시험을 위한 디지털 형태의 오디오 신호를 발생시키는 디지털 신호 처리수단과, 상기 디지털 신호 처리수단에서 출력되는 디지털 형 태의 오디오 신호를 아날로그 형태의 오디오 신호로 변환하여 디지털 신호 처리영역과 아날로그 처리영역을 연결하기 위한 D/A변환수단과, 상기 D/A변환수단의 오디오 신호를 해당 주파수 대역으로 필터링하고 진폭 조정하여 반도체 시험에 필요한 오디오 신호를 최종적으로 만들어내는 아날로그 신호 처리수단으로 구성함에 있다.
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公开(公告)号：KR100154790B1
公开(公告)日：1998-11-16
申请号：KR1019950041536
申请日：1995-11-15
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: G06F11/22
Abstract: 이 발명은 소자 관련 타이밍 정보에 의한 테스트 명세규칙(Test Specification Rule) 정보를 이용하여 시뮬에이션 벡터(Simulation Vector)의 분석 및 검증을 하고, 싸이클 타임 베이스(Cycletime Base)로 시뮬레이션 데이터를 벡터(Test Vector)로 변환화는 시뮬레이션 벡터의 변환 방법과 테스트 벡터로의 변환 방법에 관한 것이다.
이 발명이 효과는, 디바이스 관련 타이밍 정보로 만든 테스트 명세규칙 정보로 시뮬레이션 벡터의 분석 및 검증을 통해 설계자의 사용자 에러와 테스트 환경 및 테스터 제약에 의하여 일어날 수 있는 위배를 제거함으로써, 논리소자의 기능을 정확하고 빠르게 검증하고, 또한 싸이클 타임 베이스로 시뮬레이션 데이터를 별도의 데이터 베이스를 만들지 않고, 테스트 명세규칙에 따라 동시에 처리할 수 있는 데이터 구조를 구현하여 최단 시간내에 테스트 벡터로의 변환 방법을 제공할 수 있다.-
公开(公告)号：KR1019970048564A
公开(公告)日：1997-07-29
申请号：KR1019950068622
申请日：1995-12-30
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: G01R31/3183 , G01R31/26 , H01L21/66
Abstract: 본 발명은 선형의 반도체 칩에 다양한 오디오 신호를 가하여 그에 대한 응답을 측정함으로써, 반도체 칩의 기능의 정상 유/무 및 반도체 자체의 성능을 자동으로 평가할 수 있는 데이터를 발생시키는 오디오 신호 발생제어회로에 관한 것인 바, 그 특징은 사용자와 연결되어 반도체를 자동 시험하기 위해 원하는 조건의 오디오 또는 교류신호를 발생시키는 지령을 내리기 위한 제어수단과, 상기 제어수단과 주소 및 데이터 버스로 연결되어 지령에 따른 주소와 주기 데이터를 분석하고 카운트하여 분석 및 카운트 결과에 따라 주파수를 증가시키거나 주소를 회전시켜 메모리에 임의의 파형 데이터를 기록하거나 읽어 자동 시험을 위한 디지탈 형태의 오디오 신호를 발생시키는 디지탈 신호 처리수단과, 상기 디지탈 신호 처리 수단에서 출력되는 디지탈 � �태의 오디오 신호를 아날로그 형태의 오디오 신호로 변환하여 디지탈 신호 처리영역과 아날로그 신호 처리영역을 연결하기 위한 D/A 변환수단과, 상기 D/A 변환수단의 오디오 신호를 해당 주파수 대역으로 필터링하고 진폭 조정하여 반도체 시험에 필요한 오디오 신호를 최종적으로 만들어내는 아날로그 신호 처리수단으로 구성함에 있다.
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公开(公告)号：KR1019970029048A
公开(公告)日：1997-06-26
申请号：KR1019950041536
申请日：1995-11-15
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: G06F11/22
Abstract: 본 발명은 소자 관련 타이밍 정보에 의한 테스트 명세규칙(Test Specification Rule) 정보를 이용하여 시뮬레이션 벡터(Simulation Vector)의 분석 및 검증을 하고, 싸이클타임 베이스(Cycletime Base)로 시뮬레이션 데이타를 테스트 벡터(Test Vector)로 변환하는 시뮬레이션 벡터의 변환 방법과 테스트 벡터로의 변환 방법에 관한 것이다.
이 발명의 효과는, 디바이스 관련 타이밍 정보로 만든 테스트 명세규칙 정보로 시뮬레이션 벡터의 분석 및 검증을 통해 설계자의 사용자에러와 테스트 환경 및 테스터 제약에 의하여 일어날 수 있는 위배를 제거함으로써, 논리소자의 기능을 정확하고 빠르게 검증하고, 또한 싸이클타임 베이스로 시뮬레이션 데이타를 별도의 데이타 베이스를 만들지 않고, 테스트 명세규칙에 따라 동시에 처리할 수 있는 데이타 구조를 구현하여 최단 시간내에 테스트 벡터로의 변환 방법을 제공할 수 있다.
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