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公开(公告)号：KR1020060089947A
公开(公告)日：2006-08-10
申请号：KR1020050010224
申请日：2005-02-03
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: H01L21/66
Abstract: 아날로그 반도체 장치의 AC 전류 특성을 테스트할 수 있는 반도체 테스트 장치 및 그 테스트 방법에 관한 것이다. 본 발명의 반도체 테스트 장치는 아날로그 반도체 장치로부터 출력되는 AC 출력 전류를 입력하고 기준 DC 전류와 디지털 데이터를 발생하며 상기 AC 출력 전류의 크기에 응답하여 상기 디지털 데이터를 변경하여 출력하는 ATE, 및 상기 ATE와 상기 아날로그 반도체 장치에 연결되며 상기 디지털 데이터에 응답하여 상기 기준 DC 전류를 아날로그 전류로 변환하여 상기 아날로그 반도체 장치에 인가하는 디지털 아날로그 전류 변환기를 구비함으로써, 상기 아날로그 반도체 장치에 일정한 크기의 AC 전류를 공급하여 상기 아날로그 반도체 장치의 AC 전류 특성을 테스트할 수 있다.
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公开(公告)号：KR1020060089948A
公开(公告)日：2006-08-10
申请号：KR1020050010225
申请日：2005-02-03
Applicant: 삼성전자주식회사
Abstract: 본 발명은 아날로그 반도체 장치를 테스트하는 디지털 테스트 장치에 관한 것이다. 본 발명은 아날로그 반도체 장치로부터 출력되는 아날로그 신호들 중 저주파 아날로그 신호만을 통과시키는 저주파 패스 필터, 상기 저주파 패스 필터에 연결되며 상기 저주파 패스 필터로부터 출력되는 아날로그 신호를 DC 전압으로 변환하여 출력하는 정류부, 상기 아날로그 반도체 장치로부터 출력되는 아날로그 신호들 중 고주파 아날로그 신호만을 통과시키는 고주파 패스 필터, 상기 고주파 패스 필터에 연결되며 상기 고주파 패스 필터로부터 출력되는 아날로그 신호를 DC 전압으로 변환하여 출력하는 고주파 파워 검출부, 및 상기 정류부와 상기 고주파 파워 검출부에 공통으로 연결되며 상기 정류부로부터 출력되는 신호의 전압과 상기 고주파 파워 검출부로부터 출력되는 신호의 전압을 측정하여 상기 아날로그 반도체 장치로부터 출력되는 아날로그 신호들의 양/불량을 판단하는 디지털 측정부를 구비함으로써, 테스트 비용이 감소된다.
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公开(公告)号：KR100555544B1
公开(公告)日：2006-03-03
申请号：KR1020040000051
申请日：2004-01-02
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: G01R31/26 , G01R31/316
CPC classification number: G01R31/31924
Abstract: 피시험 장치의 내부 임피던스 변화에 무관한 전류 소스를 갖는 테스트 자극 신호를 발생하는 장치가 개시된다. 본 발명에 의한 테스트 자극 신호 발생장치는 전압 소스 발생기와 V/I 변환부를 구비하는 것을 특징으로 한다. 전압 소스 발생기는 내부의 메모리에 저장된 소스 데이터를 아날로그 신호로 변환하고, 아날로그 신호와 DC 전압 레벨의 기준 신호를 합성하여 전압 소스 테스트 자극 신호들을 발생한다. V/I 변환부는 전압 소스 테스트 자극 신호들을 전류 소스 테스트 자극 신호들로 변환하여 피시험 장치의 입력 핀들에 출력한다. V/I 변환부는 피시험 장치의 입력 핀들에 존재하는 내부 임피던스 값의 변화에 무관하게 전류 소스 테스트 자극 신호들의 전류를 설정된 값으로 유지한다. 본 발명에 의한 테스트 자극 신호 발생장치는 피시험 장치의 내부 임피던스 변화에 무관한 전류 소스를 갖는 테스트 자극 신호를 발생하여 피시험 장치의 동작 성능을 정확하게 테스트할 수 있는 장점이 있다.
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公开(公告)号：KR1020050071756A
公开(公告)日：2005-07-08
申请号：KR1020040000051
申请日：2004-01-02
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: G01R31/26 , G01R31/316
CPC classification number: G01R31/31924
Abstract: 피시험 장치의 내부 임피던스 변화에 무관한 전류 소스를 갖는 테스트 자극 신호를 발생하는 장치가 개시된다. 본 발명에 의한 테스트 자극 신호 발생장치는 전압 소스 발생기와 V/I 변환부를 구비하는 것을 특징으로 한다. 전압 소스 발생기는 내부의 메모리에 저장된 소스 데이터를 아날로그 신호로 변환하고, 아날로그 신호와 DC 전압 레벨의 기준 신호를 합성하여 전압 소스 테스트 자극 신호들을 발생한다. V/I 변환부는 전압 소스 테스트 자극 신호들을 전류 소스 테스트 자극 신호들로 변환하여 피시험 장치의 입력 핀들에 출력한다. V/I 변환부는 피시험 장치의 입력 핀들에 존재하는 내부 임피던스 값의 변화에 무관하게 전류 소스 테스트 자극 신호들의 전류를 설정된 값으로 유지한다. 본 발명에 의한 테스트 자극 신호 발생장치는 피시험 장치의 내부 임피던스 변화에 무관한 전류 소스를 갖는 테스트 자극 신호를 발생하여 피시험 장치의 동작 성능을 정확하게 테스트할 수 있는 장점이 있다.
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公开(公告)号：KR100640633B1
公开(公告)日：2006-10-31
申请号：KR1020050010224
申请日：2005-02-03
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: H01L21/66
Abstract: 아날로그 반도체 장치의 AC 전류 특성을 테스트할 수 있는 반도체 테스트 장치 및 그 테스트 방법에 관한 것이다. 본 발명의 반도체 테스트 장치는 아날로그 반도체 장치로부터 출력되는 AC 출력 전류를 입력하고 기준 DC 전류와 디지털 데이터를 발생하며 상기 AC 출력 전류의 크기에 응답하여 상기 디지털 데이터를 변경하여 출력하는 ATE, 및 상기 ATE와 상기 아날로그 반도체 장치에 연결되며 상기 디지털 데이터에 응답하여 상기 기준 DC 전류를 아날로그 전류로 변환하여 상기 아날로그 반도체 장치에 인가하는 디지털 아날로그 전류 변환기를 구비함으로써, 상기 아날로그 반도체 장치에 일정한 크기의 AC 전류를 공급하여 상기 아날로그 반도체 장치의 AC 전류 특성을 테스트할 수 있다.
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：KR1020040009505A
公开(公告)日：2004-01-31
申请号：KR1020020043475
申请日：2002-07-24
Applicant: 삼성전자주식회사
Inventor： 장진모
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G06F11/24 , G01R31/31725
Abstract: PURPOSE: An apparatus for measuring jitter of a high-speed data output element and a method for measuring total jitter are provided to perform a total jitter test for 2.0Gbps or more high-speed data within a short period of time without using a high-priced measuring device. CONSTITUTION: An apparatus for measuring jitter of a high-speed data output element includes a high-speed data output element(11), a test unit(31), and a high-speed comparator(21). The high-speed data output element(11) is used as a DUT(Device Under Test). The test unit(31) provides test data and a comparative operation reference clock. The high-speed comparator(21) is connected between the high-speed data output element(11) for receiving the test data and the test unit(31) in order to compare the differential output data of the high-speed output element(11) in response to the comparative operation reference clock.
Abstract translation: 目的：提供一种用于测量高速数据输出元件的抖动的装置和测量总抖动的方法，以在短时间内对2.0Gbps或更高的高速数据进行总抖动测试， 定价测量装置。 构成：用于测量高速数据输出元件的抖动的装置包括高速数据输出元件（11），测试单元（31）和高速比较器（21）。 高速数据输出元件（11）用作DUT（被测器件）。 测试单元（31）提供测试数据和比较操作参考时钟。 高速比较器（21）连接在用于接收测试数据的高速数据输出元件（11）和测试单元（31）之间，以便比较高速输出元件（11）的差分输出数据 ）响应于比较操作参考时钟。
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公开(公告)号：KR100780941B1
公开(公告)日：2007-12-03
申请号：KR1020050078044
申请日：2005-08-24
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: G01R31/3183
CPC classification number: G01R31/31713 , G01R31/30 , G01R31/31708
Abstract: 고속 인터페이스 기능블록을 테스트하는데 사용되는 고속의 테스트 신호에, 적절한 잡음을 선택적으로 주입할 수 있는 잡음주입이 가능한 고속 테스트데이터 발생기 및 이를 사용하는 자동 테스트 시스템을 개시한다. 상기 고속 테스트데이터 발생기는, 병렬로 인가되는 저속의 테스트 데이터 신호를 결합하여 고속의 제1테스트입력신호 및 제2테스트입력신호를 생성하는 HSI(High Speed Interface) 샘플데이터 생성기와, 적어도 1개의 잡음제어신호에 응답하여 상기 제1테스트입력신호에 잡음을 인가하여 제1테스트잡음신호를 생성하는 제1잡음주입블록 및 적어도 1개의 잡음제어신호에 응답하여 상기 제2테스트입력신호에 잡음을 인가하여 제2테스트잡음신호를 생성하는 제2잡음주입블록을 구비하며, 상기 제1잡음주입블록은 상기 제1테스트입력신호에 지터잡음 및/또는 전압잡음을 주입하며, 상기 제2잡음주입블록은 제2테스트잡음신호에 지터잡음 및/또는 전압잡음을 주입하는 것을 특징으로 한다.
Abstract translation: 能够进行噪声注入的速度测试数据生成器以及使用该速度测试数据生成器的自动测试系统能够将适当的噪声选择性地注入到用于测试高速接口功能块的高速测试信号中。 高速测试数据产生器，通过所述测试数据信号从低速组合以并行地施加到第一测试输入信号和（高速接口）HSI至2的高速产生测试输入信号样本数据发生器和至少一个噪声 响应于响应于第一噪声注入块以及用于产生第一测试噪声信号中的噪声的噪声控制信号中的至少一个施加至所述测试输入信号中的噪声，第一控制信号施加所述第二测试输入信号 以及用于产生第二测试噪声信号的第二噪声注入模块，其中第一噪声注入模块将抖动噪声和/或电压噪声注入到第一测试输入信号中， 2个抖动噪声和/或电压噪声进入测试噪声信号。
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公开(公告)号：KR100688527B1
公开(公告)日：2007-03-02
申请号：KR1020050010225
申请日：2005-02-03
Applicant: 삼성전자주식회사
Abstract: 본 발명은 아날로그 반도체 장치를 테스트하는 디지털 테스트 장치에 관한 것이다. 본 발명은 아날로그 반도체 장치로부터 출력되는 아날로그 신호들 중 저주파 아날로그 신호만을 통과시키는 저주파 패스 필터, 상기 저주파 패스 필터에 연결되며 상기 저주파 패스 필터로부터 출력되는 아날로그 신호를 DC 전압으로 변환하여 출력하는 정류부, 상기 아날로그 반도체 장치로부터 출력되는 아날로그 신호들 중 고주파 아날로그 신호만을 통과시키는 고주파 패스 필터, 상기 고주파 패스 필터에 연결되며 상기 고주파 패스 필터로부터 출력되는 아날로그 신호를 DC 전압으로 변환하여 출력하는 고주파 파워 검출부, 및 상기 정류부와 상기 고주파 파워 검출부에 공통으로 연결되며 상기 정류부로부터 출력되는 신호의 전압과 상기 고주파 파워 검출부로부터 출력되는 신호의 전압을 측정하여 상기 아날로그 반도체 장치로부터 출력되는 아날로그 신호들의 양/불량을 판단하는 디지털 측정부를 구비함으로써, 테스트 비용이 감소된다.
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公开(公告)号：KR1020070023457A
公开(公告)日：2007-02-28
申请号：KR1020050078044
申请日：2005-08-24
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: G01R31/3183
CPC classification number: G01R31/31713 , G01R31/30 , G01R31/31708
Abstract: 고속 인터페이스 기능블록을 테스트하는데 사용되는 고속의 테스트 신호에, 적절한 잡음을 선택적으로 주입할 수 있는 잡음주입이 가능한 고속 테스트데이터 발생기 및 이를 사용하는 자동 테스트 시스템을 개시한다. 상기 잡음주입이 가능한 고속 테스트데이터 발생기는, 제1잡음주입블록 및 제2잡음주입블록을 구비한다. 상기 제1잡음주입블록은, 적어도 1개의 잡음제어신호에 응답하여 제1테스트입력신호에 소정의 잡음을 인가하여 제1테스트잡음신호를 생성한다. 상기 제2잡음주입블록은, 적어도 1개의 잡음제어신호에 응답하여 제2테스트입력신호에 소정의 잡음을 인가하여 제2테스트잡음신호를 생성한다. 여기서, 상기 제1테스트입력신호 및 상기 제2테스트입력신호는 위상이 서로 반대되는 직렬 디지털신호이다. 상기 자동 테스트 시스템은, HSI 샘플 데이터 생성기 및 잡음주입이 가능한 고속 테스트데이터 발생기를 구비한다. 상기 HSI 샘플 데이터 생성기는, 수신한 저속의 병렬 테스트데이터를 직렬로 결합하여 고속의 제1테스트입력신호 및 제2테스트입력신호를 생성한다. 잡음주입이 가능한 고속 테스트데이터 발생기는, 상기 제1테스트입력신호 및 상기 제2테스트입력신호에 소정의 잡음을 인가한 제1테스트잡음신호 및 제2테스트잡음신호를 생성한다.
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公开(公告)号：KR100471006B1
公开(公告)日：2005-03-10
申请号：KR1020020043475
申请日：2002-07-24
Applicant: 삼성전자주식회사
Inventor： 장진모
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G06F11/24 , G01R31/31725
Abstract: 고속 데이터 출력 소자의 지터 측정 장치 및 토탈 지터 측정방법이 개시된다. 그러한 고속 데이터 출력 소자의 지터 측정 장치는, 테스트 대상이 되는 고속 데이터 출력소자와, 테스트 용 데이터 및 비교동작 기준클럭을 제공하는 테스트 장치와, 상기 고속 데이터 출력소자와 상기 테스트 장치간에 연결되며 상기 비교동작 기준클럭에 응답하여 상기 고속 데이터 출력소자의 차동 출력 데이터를 비교하는 고속 비교기를 구비함에 의해, 고가의 계측기를 채용함이 없이도, 고속 데이터에 대한 토탈 지터 테스트를 비교적 단시간내에 측정할 수 있는 이점을 갖는다.
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