公开(公告)号：KR1020060009137A

公开(公告)日：2006-01-31

申请号：KR1020040056600

申请日：2004-07-20

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 이수찬 ,  방정호 ,  선용균 ,  이준호 ,  전진국

IPC: H01L21/66 ,  H01L21/68

CPC classification number: G01R31/2867 ,  G01R31/2601

Abstract: 반도체 디바이스 테스트장치의 테스트트레이가 개시된다. 개시된 테스트트레이는 반도체 디바이스 테스트장치의 소정부에 설치되며 복수의 설치공간부가 배치된 트레이보드와, 상기 각 설치공간에 고정되며 프레임에 마련된 포켓수용부에 복수의 포켓이 설치된 인서트를 포함하되, 상기 복수의 포켓은 상기 프레임의 하부면에 결합되는 홀더에 의해 고정된다.

Abstract translation: 公开了一种半导体器件测试设备的测试托盘。 测试托盘包括安装在半导体器件测试设备的小部分中并且具有多个安装空间的托盘板以及固定到每个安装空间的插入件，并且在设置在框架中的袋容纳部分中具有多个袋， 多个口袋由与框架的下表面连接的保持器固定。

公开(公告)号：KR100629262B1

公开(公告)日：2006-09-29

申请号：KR1020040056600

申请日：2004-07-20

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 이수찬 ,  방정호 ,  선용균 ,  이준호 ,  전진국

IPC: H01L21/66 ,  H01L21/68

Abstract: 반도체 디바이스 테스트장치의 테스트트레이가 개시된다. 개시된 테스트트레이는 반도체 디바이스 테스트장치의 소정부에 설치되며 복수의 설치공간부가 배치된 트레이보드와, 상기 각 설치공간에 고정되며 프레임에 마련된 포켓수용부에 복수의 포켓이 설치된 인서트를 포함하되, 상기 복수의 포켓은 상기 프레임의 하부면에 결합되는 홀더에 의해 고정된다.