公开(公告)号：KR1019990030875A

公开(公告)日：1999-05-06

申请号：KR1019970051332

申请日：1997-10-07

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 정도순

IPC: G01R1/06

Abstract: 이 발명은 액티브 영역의 프로빙이 가능한 프로버 구조에 관한 것으로서,
TEG 프로빙을 위한 제1 프로버와, 기판의 각 박막 트랜지스터에 게이트/소스 신호를 인가하기 위한 제2 프로버, 그리고 액정 표시 장치의 액티브 영역 내부 이동이 가능하며 기판의 각 화소에 데이터 전압을 인가하기 위한 제3 프로버를 포함한다.

公开(公告)号：KR100381866B1

公开(公告)日：2003-11-01

申请号：KR1019950035176

申请日：1995-10-12

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 이시형 ,  정도순

IPC: G02F1/1335

Abstract: PURPOSE: A liquid crystal display having a polarizer attached to a back light unit is provided to fix a polarizer, which is conventionally attached to a lower substrate, to a diffusion plate of the back light unit so as to reduce a loss of the polarizer. CONSTITUTION: A liquid crystal display(200) includes a color filter substrate(7), a thin film transistor substrate(8), and a back light unit(10). The color filter substrate and the thin film transistor are combined with each other. An upper polarizer(6) is attached to the top face of the color filter substrate. A lower polarizer(9) is fixed to a diffusion plate placed on the back light unit.

公开(公告)号：KR1019990030876A

公开(公告)日：1999-05-06

申请号：KR1019970051333

申请日：1997-10-07

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 정도순

IPC: G01R19/00

Abstract: 이 발명은 정전기 모니터링이 가능한 박막 트랜지스터-액정 표시 장치의 측정 설비 구조에 관한 것으로서,
정전기가 취약한 부위의 이온 밸런스를 맞추기 위한 이온 블로우와, 정전기를 측정하기 위한 정전기 측정용 센서, 이 정전기 측정용 센서를 통해 감지된 정전기를 디지탈로 표시하기 위한 표시부, 그리고 처음 작업 시작시 측정된 정전기값과 작업이 완료된 후 측정된 정전기값을 비교함으로써 작업 중 발생한 정전기를 모니터링할 수 있게 하는 제어기를 포함한다.

公开(公告)号：KR1019970022430A

公开(公告)日：1997-05-28

申请号：KR1019950035176

申请日：1995-10-12

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 이시형 ,  정도순

IPC: G02F1/1335

Abstract: 본 발명은 액정 표시 장치에 관한 것으로 특히 액정 표시 장치기판(10)상에 형성된 편광판(9)의 소모를 줄일수 있고 작업성을 양호하게 하기 위하여 종래 액정 표시 장치기판상에 상,하측 편광판(1,4)을 부착형성하던 것을 하측편광판(9)을 백라이트(10) 상에 형성 부착한 백라이트에 편광판을 부착형성한 액정 표시 장치에 관한 것이다.

公开(公告)号：KR1020080060701A

公开(公告)日：2008-07-02

申请号：KR1020060135120

申请日：2006-12-27

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 박명일 ,  정도순 ,  이용의 ,  이동진 ,  임찬향 ,  손동일

IPC: G02B5/20

Abstract: A method for repairing a color filter substrate is provided to perform a repair of a unit pixel in a large panel by blackening a color filter. A method for repairing a color filter substrate, in which a plurality of unit pixels having a first long lateral(L1), a second long lateral(L2), a first short lateral(L3) and the second short lateral(L4) are defined by an organic black matrix(BM) and color filters corresponding to the unit pixels are formed, includes the steps of: discriminating a color filter into which a foreign substance is permeated; and diffusing composition materials of the first short lateral to the color filter by scanning a first laser light from the first short lateral to a region adjacent to the second short lateral.

Abstract translation: 提供了修补滤色器基板的方法，通过使滤色器变黑来进行大面板中的单位像素的修复。 一种修补滤色器基板的方法，其中限定了具有第一长横（L1），第二长横（L2），第一短横（L3）和第二短横（L4）的多个单位像素 通过有机黑矩阵（BM）和与单位像素对应的滤色器形成，包括以下步骤：区分渗透有异物的滤色器; 以及通过从所述第一短横向扫描第一激光到与所述第二短侧相邻的区域来扩散所述滤色器的所述第一短边的组合物材料。

公开(公告)号：KR100448941B1

公开(公告)日：2004-11-16

申请号：KR1019970051333

申请日：1997-10-07

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 정도순

IPC: G01R19/00

Abstract: PURPOSE: An equipment for monitoring an electrostatic is provided to minimize the damage due to the electrostatic through the certainly monitoring of the electrostatic. CONSTITUTION: An equipment for monitoring an electrostatic includes an ion blow, an electrostatic measurement sensor, a display unit and a controller. The ion blow matches the ion balance of the region sensitive to the electrostatic. The electrostatic measurement sensor measures the electrostatic. The display unit displays the measured electrostatic as a digital through the electrostatic measurement sensor. And, the controller monitors the electrostatic generated during the work by comparing the measured electrostatic value.

公开(公告)号：KR1019990040604A

公开(公告)日：1999-06-05

申请号：KR1019970061055

申请日：1997-11-19

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 정도순

IPC: G02F1/13

Abstract: 본 발명에 의한 액정표시패널(LCD 패널) 테스트용 광학 검사 장치는, 스테이지 상측부에 배치되어, 상기 스테이지 위에 탑재된 단위 공정이 완료된 LCD 패널 상에, 광을 투사하는 제 1 광 조사부와, 상기 제 1 광조사부의 일측에 배치되어, 상기 스테이지 위의 LCD 패널 상에 광을 투사하는 제 2 광 조사부와, 상기 제 1 광 조사부의 타측에 배치되어, 상기 LCD 패널에서 반사된 광을 검출하는 광 검출부와, 상기 광 검출부에서 검출된 광을 소정의 전기적인 신호로 변환시켜 주는 광신호 변환부와, 상기 광신호 변환부에서 출력된 전기적인 신호를 자체 설정된 기준 휘도값과 비교하여, 상기 출력 신호가 기준 휘도값 범위 내에 포함되는지, 아닌지를 판단해 주는 이미지 프로세싱부 및, 상기 이미지 프로세싱부에서 출력된 결과를 표시해 주는 디스플레이부로 이루 어져, 상기 LCD 패널 상에 형성된 임의의 패턴 내의 불량 테스트시, 상기 패턴 내에 유발된 미세 불량이나 대형 사이즈의 불량 혹은 패턴 전면에 걸쳐 있는 불량 등을 모두 용이하게 검출할 수 있게 되므로, 테스트 작업의 신뢰성을 높일 수 있게 된다.

公开(公告)号：KR1020080048300A

公开(公告)日：2008-06-02

申请号：KR1020060118531

申请日：2006-11-28

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 송인철 ,  정도순 ,  임찬향 ,  백종삼

IPC: H01L21/66

CPC classification number: G01R31/2621 ,  G01R31/2817

Abstract: A method for inspecting a thin film transistor substrate is provided to prevent a contact error by improving a contact state between a probe and a gate pad or between the probe and a data pad. A plurality of signal lines, a plurality of shorting bars(50a,50b,50c) formed at ends of the signal lines, a plurality of inspection signal pads(52) formed at both ends of the shorting bars, and a plurality of pads connected to the shorting bars and the signal lines are formed on a thin film transistor substrate. A signal supply member comes in contact with the inspection signal pads and the pads. An error is detected by applying an inspection signal to the signal supply member. The signal lines are composed of gate lines(20) or data lines(30).

Abstract translation: 提供了一种用于检查薄膜晶体管基板的方法，以通过改善探针和栅极焊盘之间或探针与数据焊盘之间的接触状态来防止接触误差。 多个信号线，形成在信号线的端部的多个短路棒（50a，50b，50c），形成在短路棒的两端的多个检查信号焊盘（52）以及连接的多个焊盘 并且信号线形成在薄膜晶体管基板上。 信号供给部件与检查信号焊盘和焊盘接触。 通过对信号提供构件施加检查信号来检测出错误。 信号线由栅极线（20）或数据线（30）组成。

公开(公告)号：KR1019990040623A

公开(公告)日：1999-06-05

申请号：KR1019970061077

申请日：1997-11-19

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 정도순

IPC: G01R33/00

Abstract: 본 발명은 광학 검사 장치의 검사대에 관한 것으로서, 표면이 반사 가능하도록 처리된 판 면에 다수의 돌기물이 형성되어 있고, 판의 테두리를 따라 둑이 형성되어 있을 수 있으며, 돌기물은 둑의 높이로 끝 부분이 둥글게 형성되어 있어서, 검사 대상 기판과의 접촉면을 최소화시킬 수 있는 검사 환경을 제공할 수 있다.