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公开(公告)号：KR100422428B1
公开(公告)日：2004-05-17
申请号：KR1019960058934
申请日：1996-11-28
Applicant: 삼성전자주식회사
Inventor： 정현호
IPC: G11B21/02
Abstract: PURPOSE: A method for reducing time for performing a burn-in test process is provided to read a track where test data patterns are written, in many times through one-time read sequence while performing a burn-in test process, and to detect a defect from the track, thereby reducing time for performing the burn-in test process. CONSTITUTION: A micro controller writes test data patterns on entire tracks of a disk(100), and initializes a read frequency count value for one track(102). The micro controller reads from the first data sector of the first track on the disk(104). If an error is generated while the controller performs the reading, the micro controller registers a data sector of an error-produced position in a defect list(106-108), and continues reading from a next data sector(110). The micro controller decides whether the reading is completed up to a final data sector(112). If so, the micro controller decides whether the frequency of reading the final data sector is bigger than N(116). If so, the micro controller decides whether the number of data sectors read at a time is identical with a value stored in an end servo segment(120). If so, the micro controller decides whether the reading-completed track is a final track(124). If so, the micro controller completes the procedure.
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公开(公告)号：KR1019980021712A
公开(公告)日：1998-06-25
申请号：KR1019960040657
申请日：1996-09-18
Applicant: 삼성전자주식회사
Inventor： 정현호
IPC: G11B5/02
Abstract: 가. 청구범위에 기재된 발명이 속한 기술분야 : 본 발명은 하드 디스크 드라이브에 관한 것으로, 하드 디스크 드라이브의 제조시간 단축을 위한 번-인 테스트(burn-in test : 이하 번-인 테스트라 함)방법에 관한 것이다.
나. 발명이 해결하려고 하는 기술적 과제 : 종래의 번-인 테스트 공정에서 실제 번-인테스트의 주목적인 디스크상에 발생한 디팩을 검출하는 공정시간보다 트랙탐색 하는데 걸리는 시간이 많아 불필요하게 번-인 테스트 시간이 늘어났던 문제점을 해결하고, 또한, 상기 번-인테스트 공정의 시간이 불필요하게 증가함으로서 전체 하드 디스크 드라이브의 생산공정시간이 증가하여 생산비의 비효율적인 낭비를 가져왔던 문제점을 해결한다.
다. 발명의 해결방법의 요지
하드 디스크 드라이브의 생산공정에서 번-인테스트를 수행하여 각 패턴별로 기록된 데이터 패턴을 독출하고 디팩을 검출할 시 매 트랙마다 설정된 일정횟수 만큼 반복 독출하여 디팩을 검출하는 방법을 제공한다.
라. 발명의 중요한 용도
하드 디스크 드라이브의 번-인 테스트 방법.-
公开(公告)号：KR1019970071693A
公开(公告)日：1997-11-07
申请号：KR1019960010049
申请日：1996-04-03
Applicant: 삼성전자주식회사
Inventor： 정현호
IPC: G11B20/00
Abstract: 1. 청구범위에 기재된 발명이 속한 기술분야
본 발명은 자기디스크 구동장치의 백업프로그램에 관한 것으로, 특히 시스템을 부팅시키는 프로그램을 백업시켜 컴퓨터 바이러스로 인해 자기디스크 기록매체의 감염을 방지하는 방법에 관한 것이다.
2. 발명이 해결하려고 하는 기술적 과제
요즘 컴퓨터의 대중화 추세에 따라 컴퓨터바이러스에 의해 자기디스크 기록매체의 감염에 대한 문제점을 해결하고, 또한 상기 바이러스에 대한 백업프로그램이 없었기 때문에 신종바이러스의 백신이 개발 되기전까지는 치료할 수가 없었던 문제점을 해결한다.
3. 발명의 해결방법의 요지
자기디스크 기록매체의 소정의 섹터영역에 바이러스 백업섹터를 할당하여 부트섹터 영역에 기록과 동시에 백업섹터를 기록하는 방법을 제공한다.
4. 발명의 중요한 용도
컴퓨터바이러스 방지를 위한 자기디스크 기록장치의 바이러스 백업프로그램을 기록한 기록매체.-
公开(公告)号：KR101153886B1
公开(公告)日：2012-06-18
申请号：KR1020050083082
申请日：2005-09-07
Applicant: 삼성전자주식회사
Inventor： 정현호
IPC: H04B1/40
Abstract: 본 발명은 휴대용 단말기의 우선순위 처리방법에 있어서, 질의문을 수신하면, 상기 질의문의 중요도와 가장 근사한 값을 가지는 우선순위 결정값을 확인하여 상기 우선순위 결정값에 상응하는 우선순위를 상기 질의문에 부여하고, 부여한 상기 우선순위에 상응하는 우선순위 큐에 상기 질의문을 삽입하는 우선순위 분배과정과, 질의문을 가진 큐가 존재하면, 상기 질의문을 가진 큐 중에서 가장 우선순위가 높은 큐의 질의문을 하나 수행하고 각 큐의 질의문의 시간경과에 따라 우선순위를 재조정하는 우선순위 처리과정을 포함하는 휴대용 단말기의 우선순위 처리방법에 관한 것이다.
우선순위 분배기법, 우선순위 처리기법, 선입선출(FIFO;First In First Out)기법, 클러스터링-
公开(公告)号：KR100419394B1
公开(公告)日：2004-05-27
申请号：KR1019960010243
申请日：1996-04-04
Applicant: 삼성전자주식회사
Inventor： 정현호
IPC: G11B5/09
Abstract: PURPOSE: A method for recording an error management program for analyzing and repairing malfunction of a magnetic disk recording device is provided to temporarily store error information, and to detect a valid address by reading an error management header sector located within a management sector zone, then to record the stored error information at the valid address, thereby reducing time for analyzing a cause of malfunction. CONSTITUTION: A micro controller checks a flag of an error(300), and detects whether the flag of the error is '0'(302). If not, the micro controller stores information on the generated error in a temporary memory(304). The micro controller applies a driving current to an actuator, and reads an error management header sector of an error management program zone(306). The micro controller reads a position corresponding to an address of the read error management sector(308). The micro controller detects whether the address is a valid value(310). If so, the micro controller sets the address to the first address, and records the generated error information(312).
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Patent Agency Ranking
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公开(公告)号：KR101785447B1
公开(公告)日：2017-10-16
申请号：KR1020110050191
申请日：2011-05-26
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: H01L21/336 , H01L29/78
CPC classification number: H01L29/66795
Abstract: 본발명은, 높은종횡비를가지는금속게이트전극을신뢰성있게형성할수 있는반도체소자의제조방법을제공한다. 본발명의일실시예에따른반도체소자의제조방법은, 돌출된채널영역을가지는기판을제공하는단계; 돌출된채널영역을둘러싸는게이트절연층을형성하는단계; 게이트절연층상에, 자신의두께방향으로변화하는식각선택비를가지는희생층을형성하는단계; 및희생층을대체하여, 상기게이트절연층상에게이트전극을형성하는게이트라스트공정을수행하는단계;를포함한다.
Abstract translation: 本发明提供一种制造能够可靠地形成具有高纵横比的金属栅电极的半导体器件的方法。 根据本发明实施例的制造半导体器件的方法包括：提供具有突出沟道区的衬底; 围绕突出的沟道区域形成栅极绝缘层; 在所述栅极绝缘层上形成牺牲层，所述牺牲层具有在其厚度方向上变化的蚀刻选择性; 并替换牺牲层以在栅极绝缘层上形成栅电极。
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公开(公告)号：KR1020160004174A
公开(公告)日：2016-01-12
申请号：KR1020140103864
申请日：2014-08-11
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: H01L21/027 , G03F1/76
Abstract: 반도체소자의패턴형성방법이제공된다. 반도체소자의패턴형성방법은, 기판상에물질막을형성하고, 물질막상에하드마스크를형성하고, 하드마스크상에제1 몰드마스크패턴과제2 몰드마스크패턴을형성하고, 제1 몰드마스크패턴의양 측벽을덮는한 쌍의제1 스페이서와, 제2 몰드마스크패턴의양 측벽을덮는한 쌍의제2 스페이서를형성하고, 제1 몰드마스크패턴및 제2 몰드마스크패턴을제거하여하드마스크를노출하는제1 갭및 제2 갭을형성하되, 제1 갭은한 쌍의제1 스페이서사이에형성되고, 제2 갭은한 쌍의제2 스페이서사이에형성되고, 하드마스크상에마스크패턴을형성하되, 마스크패턴은제1 갭을덮고제2 갭을노출하고, 제2 갭을덮는보조패턴을형성하고, 마스크패턴을제거하고, 제1 스페이서, 제2 스페이서및 보조패턴을마스크로하여하드마스크를패터닝하여하드마스크패턴을형성하는것을포함한다.
Abstract translation: 提供了形成半导体器件的图案的方法。 形成半导体器件的图案的方法包括以下步骤：在衬底上形成材料层; 在材料层上形成硬掩模; 在硬掩模上形成第一模具掩模图案和第二模具掩模图案; 形成覆盖所述第一模具掩模图案的两个侧壁的一对第一间隔件和覆盖所述第二模具掩模图案的两个侧壁的一对第二间隔件; 通过去除第一模具掩模图案和第二模具掩模图案来形成第一间隙和第二间隙暴露出硬掩模，其中第一间隙形成在该对第一间隔件之间，并且第二间隙形成在该对第二间隔件之间 间隔; 在所述硬掩模上形成掩模图案，其中所述掩模图案覆盖所述第一间隙并暴露所述第二间隙; 形成覆盖所述第二间隙的辅助图案; 去除掩模图案; 以及通过使用第一间隔件，第二间隔件和辅助图案作为掩模对硬掩模进行图案化来形成掩模图案。
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公开(公告)号：KR1020050032695A
公开(公告)日：2005-04-08
申请号：KR1020030068617
申请日：2003-10-02
Applicant: 삼성전자주식회사
Inventor： 정현호
IPC: H01L21/66
Abstract: A method for preventing a process failure in a semiconductor fabricating apparatus is provided to prevent injurious gas from being induced to a dispersion head by detecting whether a controller bug is generated and by generating an interlock. An interval of progression time is counted from the process start point of time of semiconductor fabricating equipment controlled by a controller(10). Whether the counted interval of time exceeds a previously registered interval of process time is determined. When the counted interval of time exceeds the interval of process time, a controller bug is determined to generate an interlock of the equipment.
Abstract translation: 提供了一种用于防止半导体制造装置中的处理故障的方法，用于通过检测是否产生控制器错误并产生互锁来防止有害气体被引到色散头。 从由控制器（10）控制的半导体制造设备的处理起始点开始计数进行时间的间隔。 确定计数的间隔时间是否超过预先注册的处理时间间隔。 当计数的时间间隔超过处理时间间隔时，确定控制器错误以产生设备的互锁。
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公开(公告)号：KR100383638B1
公开(公告)日：2003-07-12
申请号：KR1019960010049
申请日：1996-04-03
Applicant: 삼성전자주식회사
Inventor： 정현호
IPC: G11B20/00
Abstract: PURPOSE: A method for recording a virus backup program on a magnetic disk in a magnetic disk recording device for preventing computer virus is provided to promptly recover a boot program when the boot program is infected with a new type of virus. CONSTITUTION: A microcontroller detects whether a write command is inputted from a host computer(300). The microcontroller detects whether an address of data having the write command is an area of a boot sector(302). If so, the microcontroller applies a driving current to an actuator to read a header of a virus sector area and an address of a virus backup sector(304). The microcontroller detects whether the read address of the virus backup sector is an effective value(306,308). If so, an address is firstly set in the read virus sector(312). The microcontroller reads a system boot sector for writing data on a sector area where the address is firstly set(314).
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