公开(公告)号：WO2022203198A1

公开(公告)日：2022-09-29

申请号：PCT/KR2022/002081

申请日：2022-02-11

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 이순용 ,  권영건 ,  김광호 ,  류재민 ,  김호용 ,  조민근

IPC: G01R31/08 ,  G01R31/52 ,  G01R31/58 ,  G01R31/00

Abstract: 케이블을 검사하는 전자 장치 및 검사 방법이 개시된다. 일 실시예에 따른 케이블을 검사하는 전자 장치는, 상기 케이블의 검사를 수행하는 메인 기판; 상기 메인 기판 및 상기 케이블과 전기적으로 연결되는, 입력 기판; 및 상기 메인 기판 및 상기 케이블과 전기적으로 연결되고, 상기 입력 기판과 상기 케이블을 통해 연결되는, 출력 기판을 포함하고, 상기 메인 기판은, 상기 출력 기판과 전기적으로 연결되고 복수의 제1 핀을 포함하는 제1 셀렉터; 상기 입력 기판과 전기적으로 연결되고 복수의 제2 핀을 포함하는 제2 셀렉터; 상기 제1 셀렉터 및 제2 셀렉터와 전기적으로 연결되는 프로세서; 및 상기 전자 장치에 전력을 공급하는 전원 장치를 포함하고, 상기 프로세서는, 상기 전자 장치와 연결된 케이블의 체결 관계를 식별하고, 상기 체결 관계에 기초하여, 상기 제1핀들과 상기 제2 핀들의 단락 또는 개방에 대한 정보를 포함하는 핀 맵을 결정하고, 상기 핀 맵을 이용하여, 상기 제1핀들과 상기 제2 핀들의 단락 또는 개방을 판단하고, 상기 판단한 결과에 따라 케이블의 상태를 결정할 수 있다.

公开(公告)号：KR1020130094113A

公开(公告)日：2013-08-23

申请号：KR1020120015523

申请日：2012-02-15

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 안승욱 ,  김명원 ,  김수진 ,  박현호 ,  백우현 ,  이성구 ,  이해선 ,  조민근

IPC: H04N5/232 ,  G06T3/00 ,  H04N1/46

CPC classification number: H04N5/23293 ,  H04N5/232

Abstract: PURPOSE: A camera data processing apparatus and method are provided to enable zero shutter lag by capturing an image photographed from a camera at a desired time. CONSTITUTION: A camera data processing method is as follows. An image processing unit drives a camera unit according to a camera driving request (1011, 1013). The camera unit photographs images (1015). The image processing unit generates display and compression images of the corresponding image frames. An application processing unit buffers the display and compression images (1019). The application unit selects a set compression image from the buffered compression images and stores the selected compression image in a storage unit (1021, 1023). [Reference numerals] (1011) Is the operation of a camera unit is requested?; (1013) Drive the camera unit; (1015) Obtain frame images; (1017) Generate compression and display images; (1019) Display the display image, buffer the compression image; (1021) Capture?; (1023) Store the compression image set in the buffered compression image; (1025) Camera operation off?; (AA) Start; (BB) End

Abstract translation: 目的：提供相机数据处理装置和方法，以通过在期望的时间捕获从相机拍摄的图像来实现零快门延迟。 规定：相机数据处理方法如下。 图像处理单元根据摄像机驱动请求驱动摄像机单元（1011,1013）。 相机单元拍摄图像（1015）。 图像处理单元生成相应图像帧的显示和压缩图像。 应用处理单元缓冲显示和压缩图像（1019）。 应用单元从缓冲的压缩图像中选择一个设定的压缩图像，并将选择的压缩图像存储在存储单元（1021,1023）中。 （附图标记）（1011）请求摄像机单元的动作; （1013）驱动相机单元; （1015）获取帧图像; （1017）生成压缩和显示图像; （1019）显示显示图像，缓冲压缩图像; （1021）捕捉？ （1023）将压缩图像集存储在缓冲压缩图像中; （1025）相机操作关闭？ （AA）开始; （BB）结束

公开(公告)号：KR1020130094132A

公开(公告)日：2013-08-23

申请号：KR1020120015549

申请日：2012-02-15

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 조민근 ,  임성근 ,  박현호 ,  백우현

IPC: H04N5/232 ,  G03B13/36

CPC classification number: H04N5/23293 ,  G02B7/09 ,  G03B13/36 ,  H04N5/2254

Abstract: PURPOSE: An auto focus control device and method are provided to solve synchronization problems by performing auto focus (AF) operation through an existing frame thread. CONSTITUTION: An auto focus control device comprises a camera unit (140) and a control unit (110). When a preview execution command is supplied to the control unit, the control unit operates a preview thread. When the control unit receives an auto focus (AF) command through the camera unit in the preview mode, the control unit controls the AF delay caused by the movement of the lens unit in the camera unit. [Reference numerals] (110) Control unit; (120) Data processing unit; (123) RF unit; (125) Audio processing unit; (127) Key input unit; (130) Memory; (140) Camera unit; (145) Camera drive unit; (150) Image processing unit; (160) Display unit; (AA) Synchronizing signal; (BB) Data

Abstract translation: 目的：提供自动对焦控制装置和方法，通过现有的帧线程执行自动对焦（AF）操作来解决同步问题。 构成：自动聚焦控制装置包括相机单元（140）和控制单元（110）。 当向控制单元提供预览执行命令时，控制单元操作预览线程。 当控制单元在预览模式下通过相机单元接收到自动对焦（AF）命令时，控制单元控制由相机单元中的镜头单元的移动引起的AF延迟。 （附图标记）（110）控制单元; （120）数据处理单元; （123）RF单元; （125）音频处理单元; （127）键输入单元; （130）记忆; （140）相机单元; （145）相机驱动单元; （150）图像处理单元; （160）显示单元; （AA）同步信号; （BB）数据

公开(公告)号：KR100801075B1

公开(公告)日：2008-02-11

申请号：KR1020060008700

申请日：2006-01-27

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 배철휘 ,  권상덕 ,  조민근 ,  백광현

IPC: H01L21/66

CPC classification number: G06F17/5081 ,  G06F2217/12 ,  Y02P90/265

Abstract: 홀의 시스템적 결함율을 이용하는 반도체 집적 회로 장치의 수율 향상 방법이 제공된다. 반도체 집적 회로 장치의 수율 향상 방법은 홀과, 홀을 둘러싸는 라인에서, 마주보는 홀의 변과 라인의 변 사이의 거리에 대해서 복수의 실험값을 결정하고, 각 실험값을 대표하는 복수의 테스트 패턴을 웨이퍼 상에 형성하여, 복수의 테스트 패턴으로부터 홀의 실험값별 시스템적 결함율을 산출하고, 테스트 패턴의 홀의 변의 길이를 이용하여, 홀의 실험값별 시스템적 결함율을 홀의 길이당 실험값별 시스템적 결함율로 환산하고, 관심 레이아웃 내에서, 마주보는 홀의 변과 라인의 변 사이의 거리가 각 실험값에 해당하는 홀의 변의 길이를 실험값별로 산출하고, 홀의 길이당 실험값별 시스템적 결함율과, 관심 레이아웃 내에서 실험값별로 산출된 홀의 변의 길이를 이용하여, 홀의 시스템적 결함율을 산출하는 것을 포함한다.
수율, 결함율, 실험값, 홀, 라인, 실험값별 시스템적 결함율, 실험값별 랜덤 결함율

公开(公告)号：KR1020070078469A

公开(公告)日：2007-08-01

申请号：KR1020060008700

申请日：2006-01-27

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 배철휘 ,  권상덕 ,  조민근 ,  백광현

IPC: H01L21/66

CPC classification number: G06F17/5081 ,  G06F2217/12 ,  Y02P90/265

Abstract: A method and a system for enhancing yield of semiconductor integrated circuit devices using systematic fault rate of a hole is provided to calculate the systematic fault rate using distances between sides of the hole and the opposite sides of a shape surrounding the hole. Plural experimental values each corresponding to a distance from a side of a hole to an opposing side of a shape surrounding the hole are determined(S10). Plural test patterns representing each of the experimental values on a wafer are formed, and experimental value-based systematic fault rates are calculated from the test patterns(S20). The experimental value-based systematic fault rates of the hole are converted into experimental value-based systematic fault rates per unit hole length using a length of the sides of the hole of each of the test patterns(S30). The length of the side of the hole for which a distance between the side of the hole and the opposing side of the shape corresponds to each of experimental values in a desired layout is calculated(S40). A systematic fault rate of the hole is calculated using the experimental value-based systematic fault rates per unit hole length and the length of the sides of the hole calculated for the each of experimental values in the desired layout(S50).

Abstract translation: 提供使用孔的系统故障率提高半导体集成电路器件的产量的方法和系统，以使用孔的侧面和围绕孔的形状的相对侧之间的距离来计算系统故障率。 确定各自对应于从孔的一侧到围绕孔的形状的相对侧的距离的多个实验值（S10）。 形成表示晶片上每个实验值的多个测试图案，并根据测试图案计算实验值系统故障率（S20）。 使用每个测试图案的孔的边长度，将孔的基于实验值的系统故障率转换为每单位孔长度的基于实验值的系统故障率（S30）。 计算出孔的侧面与形状的相对侧之间的距离对应于所需布局中的每个实验值的孔的侧面的长度（S40）。 使用每个单位孔长度的基于实验值的系统故障率和针对所需布局中的每个实验值计算的孔的边长度来计算孔的系统故障率（S50）。

公开(公告)号：KR1020170004723A

公开(公告)日：2017-01-11

申请号：KR1020150095454

申请日：2015-07-03

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 정수만 ,  백우현 ,  조민근 ,  한승원

IPC: H04N5/93 ,  H04N21/2387 ,  H04N5/44

CPC classification number: H04N5/23293 ,  G09G5/12 ,  G09G2340/0435 ,  H04N5/04 ,  H04N5/76 ,  H04N7/013

Abstract: 본개시의다양한실시예들은, 전자장치의동적프리뷰디스플레이방법및 그전자장치를제공한다. 본개시의다양한실시예들에따르면, 전자장치의동작방법에있어서, 이미지센서에의해영상프레임을획득하는동작; 상기디스플레이의수직동기신호에기반하여, 상기디스플레이로출력되는상기영상프레임의출력타이밍을조정하는동작; 및상기디스플레이를통해상기영상프레임을표시하는동작을포함할수 있다. 다른실시예들이가능하다.

Abstract translation: 一种用于电子设备的方法，包括：从图像传感器获取图像帧; 基于显示器的垂直同步信号来调整图像帧的输出定时; 并根据输出定时在显示器上显示图像帧。

公开(公告)号：KR100703982B1

公开(公告)日：2007-04-09

申请号：KR1020060006959

申请日：2006-01-23

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 배철휘 ,  백광현 ,  조민근

IPC: H01L21/66

Abstract: 반도체 집적 회로 장치의 레이아웃 분석 방법, 레이아웃 분석 시스템, 스탠다드 셀 라이브러리, 마스크 및 반도체 집적 회로 장치가 제공된다. 반도체 집적 회로 장치의 레이아웃 분석 방법은 복수의 관심 레이아웃 각각의 랜덤 결함율, 시스템적 결함율, 파라미터적 결함율 및 면적을 산출하고, 복수의 랜덤 결함율, 시스템적 결함율, 파라미터적 결함율 및 면적을 이용하여, 복수의 관심 레이아웃의 면적별 결함율을 산출하고, 복수의 관심 레이아웃의 면적별 결함율을 이용하여, 복수의 관심 레이아웃 중 수정할 관심 레이아웃을 선정하는 것을 포함한다.
랜덤 결함율, 시스템적 결함율, 파라미터적 결함율

Abstract translation: 提供了一种半导体集成电路器件的布局分析方法，布局分析系统，标准单元库，掩模和半导体集成电路器件。 该装置的半导体集成电路的布局分析方法各自的随机缺陷率多个感兴趣布局，全身性不良率，参产生的缺陷率和区域;以及多个随机缺陷率，全身性不良率，速率参数故障和 使用该区域计算多个感兴趣布局的区域缺陷率，并且使用多个感兴趣布局的区域缺陷率来从多个感兴趣布局中选择要校正的感兴趣布局。