公开(公告)号：KR1020150103605A

公开(公告)日：2015-09-11

申请号：KR1020140025230

申请日：2014-03-03

Applicant: 서울대학교산학협력단

Inventor： 김항태 ,  김태정 ,  송원석 ,  최두섭 ,  김보은

IPC: G06T7/00

CPC classification number: G06T7/00

Abstract: 본 발명은 소실점 검출 방법 및 장치에 관한 것이다. 본 발명의 일 실시예에 따른 소실점 검출 방법은 복수의 픽셀을 갖는 이미지로부터 엣지 (edge) 픽셀 및 비-엣지 픽셀을 검출하는 단계, 엣지 픽셀에 대한 허프 변환 (Hough transform) 을 수행하여 복수의 직선을 검출하는 단계, 엣지 픽셀에 대해 직선의 기울기에 기초한 패턴과 패턴 매칭을 수행하는 단계, 패턴 매칭 결과에 기초하여 직선의 강도를 계산하는 단계 및 직선의 강도에 기초하여 이미지에서의 소실점을 검출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하여, 직선에 기여하는 엣지 픽셀을 보다 명확히 선별하고, 직선 상에 존재하는 엣지 픽셀뿐만 아니라 비-엣지 픽셀에도 점수를 부여하는 방식으로 새로운 정의의 직선의 강도를 제공하여, 보다 정확하게 소실점을 검출할 수 있다.

Abstract translation: 本发明涉及一种用于检测消失点的方法和装置。 根据本发明的一个实施例，用于检测消失点的方法包括以下步骤：从具有多个像素的图像中检测边缘像素和非边缘像素; 对边缘像素执行霍夫变换以检测多条直线; 基于直线的斜率，对具有图案的边缘像素进行图案匹配; 基于图案匹配的结果计算直线的强度; 并且基于直线的强度来检测图像中的消失点，从而更清楚地区分对直线有贡献的边缘像素，并以提供非边缘像素的分数的方式提供新定义的直线的强度，如 以及存在于直线上的边缘像素，因此可以更精确地检测消失点。

公开(公告)号：KR101569165B1

公开(公告)日：2015-11-13

申请号：KR1020140025230

申请日：2014-03-03

Applicant: 서울대학교산학협력단

Inventor： 김항태 ,  김태정 ,  송원석 ,  최두섭 ,  김보은

IPC: G06T7/00

Abstract: 본발명은소실점검출방법및 장치에관한것이다. 본발명의일 실시예에따른소실점검출방법은복수의픽셀을갖는이미지로부터엣지 (edge) 픽셀및 비-엣지픽셀을검출하는단계, 엣지픽셀에대한허프변환 (Hough transform) 을수행하여복수의직선을검출하는단계, 엣지픽셀에대해직선의기울기에기초한패턴과패턴매칭을수행하는단계, 패턴매칭결과에기초하여직선의강도를계산하는단계및 직선의강도에기초하여이미지에서의소실점을검출하는단계를포함하는것을특징으로하여, 직선에기여하는엣지픽셀을보다명확히선별하고, 직선상에존재하는엣지픽셀뿐만아니라비-엣지픽셀에도점수를부여하는방식으로새로운정의의직선의강도를제공하여, 보다정확하게소실점을검출할수 있다.