Patent search ap:("서울대학교산학협력단") AND inv:"이병한" Page 1

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发明授权
인트론과 엑손 구분에 기반한 이상 서열 식별 방법 有权

公开(公告)号：KR102072894B1

公开(公告)日：2020-02-03

申请号：KR1020170180567

申请日：2017-12-27

Applicant: 서울대학교산학협력단

Inventor： 윤성로 , 배호 , 이병한

IPC: G16B40/00 , G16B20/00 , G16B5/00

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