公开(公告)号：KR102254252B1

公开(公告)日：2021-05-20

申请号：KR1020190149178

申请日：2019-11-20

Applicant: 서울대학교산학협력단

Inventor： 최석봉 ,  황현석

IPC: H01L43/02 ,  H01L43/08 ,  H01L43/10

Abstract: 본발명의일 실시예에따른자구벽이동소자는, 복수의자구벽을가지고수직자기이방성을가지고제1 두께와일정한폭을가지고연장되는강자성층; 제2 두께를가지고상기강자성층과정렬되고상기강자성층과나란히연장되고상기강자성층의하부면에접촉하여배치되는하부비자성중금속층; 및상기강자성층과정렬되고상기강자성층과나란히연장되고상기강자성층의상부면에접촉하여배치되는상부비자성중금속층;을포함한다.

公开(公告)号：KR102166769B1

公开(公告)日：2020-10-16

申请号：KR1020190120707

申请日：2019-09-30

Applicant: 서울대학교산학협력단

Inventor： 최석봉 ,  황현석

IPC: H01L43/08 ,  H01L43/02 ,  H01L43/12 ,  H01L43/10

公开(公告)号：KR1020160086463A

公开(公告)日：2016-07-20

申请号：KR1020150003330

申请日：2015-01-09

Applicant: 서울대학교산학협력단

Inventor： 최석봉 ,  황현석 ,  윤상준

IPC: G01R33/00 ,  G01R33/12 ,  G01N21/21 ,  G11C11/15

CPC classification number: G01R33/12 ,  G01N21/21 ,  G11C11/15

Abstract: 본발명은자구벽메모리소자의핵심인수직자기이방성을가지는물질들을연구하기위해적합한측정방법을제공하는기술에관한것이다. 좀더 자세히는, 광자기컬 현미경과 2축전자석을이용하여주어진자기장에따라변화하는자기이력곡선을측정및 분석하여대상물질의중요한특성중 하나인수직자기이방자기장값을얻어내는새로운광학적방법에관련된것이다. 본발명으로기존측정방식들로는불가능했던국지적인수직자기이방자기장의측정을가능하게하고, 나노자성박막연구에있어서광학적측정방식의접근성과유연성을늘릴수 있도록측정방식의선택의가지를더해줄수 있다.

Abstract translation: 本发明涉及提供用于测量具有垂直各向异性特性的物体的适当方法的技术，其对于磁畴壁存储器件至关重要。 更具体地说，本发明涉及一种通过测量和分析磁滞曲线来获取目标物体的重要性质的新的光学方法，该磁滞曲线基于所提供的磁场而改变，该磁滞曲线通过使用 磁光克尔效应显微镜和双轴电磁铁。 根据本发明，该方法可以测量不能通过当前测量方法测量的局部垂直磁场。 此外，在纳米薄膜研究方面，还可以在测量方法中增加替代选择，以增强光学测量方法的可访问性和灵活性。