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公开(公告)号:WO2020141858A1
公开(公告)日:2020-07-09
申请号:PCT/KR2019/018803
申请日:2019-12-31
Applicant: 서울대학교산학협력단 , 한국과학기술연구원
Abstract: 본 발명의 일 실시 예는, 이진인공신경망이 아날로그 회로로 구현되어 공정변이에 따른 인식률 성능 저하가 발생되더라도, 발생된 인식률 성능 저하를 거의 완벽한 수준으로 회복시킬 수 있는, 아날로그 이진인공신경망 회로에서 활성도 조절을 통한 공정변이 보상방법을 개시한다.
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